ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Angle Resolved XPS

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Introduction of Variable Angle Absolute Reflectance Attachment for the SolidSpec-3700

Technické články
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření

Optical Characterization of Thin Films

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Variable Angle Specular Reflectance Accessory (VASRA)

Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Errors Associated With Thin Film Measurements Using XPS at a Single Angle

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance of Bandpass Filters

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Spectrophotometric Methods of Refractive Indices Measurement

Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
Fluorescenční spektroskopie
Instrumentace
Fluorescenční spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR

Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.