Analysis of Rare Earth Elements in Geological Samples by Laser Ablation - Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (LA-ICP-MS)
Aplikace
| 2002 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent ICP-MS Journal (Issue 12, April 2002)
Ostatní
| 2002 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
TNb determination in tre monitoring and control of the municipal wastewater treatment plants
Ostatní
| 2002 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
10 Reasons Steel Industry Uses the ARL iSpark Pluswith Spark-DATInclusion Analysis
Postery
| 2002 | Thermo Fisher Scientific
Optická emisní spektroskopie (OES)
Instrumentace
Optická emisní spektroskopie (OES)
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
The TOC-4100 in wastewater treatment plants
Ostatní
| 2001 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
General Features of the New Agilent 7500 ICP-MS
Brožury a specifikace
| 2000 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Swab Method for TC – Determination of polluted surfaces