Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(2)
Materiálová analýza
(12)
Polovodiče
(17)
Potraviny a zemědělství
(1)
Instrumentace
AAS
(3)
FTIR Spektroskopie
(3)
ICP/MS
(17)
ICP/MS/MS
(10)
Výrobce
Agilent Technologies
(26)
GERSTEL
(1)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(14)
Autor
Agilent Technologies
(25)
GERSTEL
(1)
Metrohm
(1)
Shimadzu
(14)
Typ Publikace
Aplikace
Brožury a specifikace
(23)
Manuály
(12)
Ostatní
(14)
Aplikace
Rok vydání
Aplikace | LabRulez ICPMS
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of Organic Contaminants in Sulfuric Acid using Wet Oxidation Type Total Organic Carbon Analyzer
Aplikace
| 2018 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Measurement of Oil Residues on Metal Pipes Using the TOC Solid Sample Measurement System
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Characterization of Fluoropolymers Using FTIR and TG-DTA to Support the Growth of 5G
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Thermal analysis
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Thermal analysis
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of Lead in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of High Intensity Lamps for AAS
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
EDXRF Analysis of Lead, Cadmium, Silver, Copper in Lead-Free Solder Materials
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Quality Control of Laminates
Aplikace
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
LECO/MERCI Seminář Biomasa 2024
Po, 29.4.2024
LECO
XI. česko-slovenská konference Doprava, zdraví a životní prostředí (REGISTRACE)
Po, 29.4.2024
Centrum dopravního výzkumu (CDV)
Wiley vydal AntiBase Library 2024 - nejnovější verzi Wileyho knihovny pro identifikaci přírodních látek
Ne, 28.4.2024
LabRulez
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.