Nondestructive Analysis of Automotive Parts Used in Advanced Driver-Assistance Systems (ADAS)
Aplikace
| 2024 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Ultra-high speed analysis of soil extracts using an Advanced Valve System installed on an Agilent 5110 SVDV ICP-OES
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Accuracy in Microvolume Measurements. Investigating the Precision and Reproducibility of Cary 50, 300 and 4000 series Instruments for Microlitre samples
Aplikace
| N/A | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
EDX-7200 New Primary Filter - Quantitative Analysis of Titanium Dioxide in Antibacterial Coatings
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of total organic carbon in solids according to the European Standardisation EN 13137
Aplikace
| N/A | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Inline moisture analysis in a pilot scale granulation process by NIRS
Aplikace
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
Inline moisture analysis in fluid bed dryers by near-infrared spectroscopy
Aplikace
| 2021 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
The Agilent Cary 630 FTIR Spectrometer Quickly Identifies and Qualifies Pharmaceuticals
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Analysis of Minute Objects Using the SurveyIR Sample Compartment Type Infrared Microscopy System