Aplikace | LabRulez ICPMS

Rust Analysis - Using Infrared Raman Microscopes and Energy - Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

Aplikace

| 2024 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

High Volume Optical Component Testing

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Rapid, Large-Area, On-Filter Analysis of Microplastics from Plastic Bottles Using Laser Direct Infrared Imaging

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí

Cleaning Validation by TOC Analyzer

Aplikace

| N/A | Shimadzu

TOC

Instrumentace

TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Farmaceutická analýza

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace

| 2022 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Measuring diffuse refl ectance of solid samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis

Aplikace

| 2012 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Aplikace

| 2012 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
Další

Aplikace | LabRulez ICPMS

Rust Analysis - Using Infrared Raman Microscopes and Energy - Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

High Volume Optical Component Testing

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Rapid, Large-Area, On-Filter Analysis of Microplastics from Plastic Bottles Using Laser Direct Infrared Imaging

Cleaning Validation by TOC Analyzer

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Measuring diffuse refl ectance of solid samples with the Agilent Cary 60 UV-Vis

Measuring the reflectance of very small samples using the Agilent Cary 60 Remote Diffuse Reflectance Accessory (DRA)

Mohlo by Vás zajímat

Virus napadající kokolitku – mořskou řasu, která ovlivňuje celosvětové klima

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB