WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Sborník příspěvků - 72. sjezd chemiků
Postery
| 2020 | Sjezd chemiků / Zjazd chemikov
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Zborník abstraktov - 71. zjazd chemikov
Postery
| 2019 | Sjezd chemiků / Zjazd chemikov
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Před
1
Další
Mohlo by Vás zajímat
Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou
Út, 16.4.2024
Altium International
Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami
Po, 15.4.2024
ANALYTIKA
Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová