Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(16)
Forenzní analýza a toxikologie
(28)
Klinická analýza
(6)
Materiálová analýza
(46)
Instrumentace
AAS
(6)
FTIR Spektroskopie
(45)
Fluorescenční spektroskopie
(1)
ICP/MS
(10)
Výrobce
Agilent Technologies
(135)
Elemental Scientific
(1)
GERSTEL
(4)
Mestrelab Research
(2)
Autor
Agilent Technologies
(107)
Chemické listy
(5)
GERSTEL
(3)
Mestrelab Research
(2)
Typ Publikace
Aplikace
(81)
Brožury a specifikace
(55)
Manuály
(31)
Ostatní
(62)
Rok vydání
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Characterizing Sub-Nanometer Narrow Bandpass Filters Using an Agilent Cary UV-Vis-NIR
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700
Aplikace
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Handheld FTIR spectroscopy applications using the Agilent ExoScan 4100 FTIR with diffuse sample interface
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Unattended, Automated Measurements of Optical Components in a Production Environment
Technické články
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Compact, portable, and handheld FTIR solutions for solid and liquid analysis
Ostatní
| 2019 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Před
1
2
3
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)
Út, 7.5.2024
Altium International
Metrohm: Obchodní a aplikační specialista
Ne, 5.5.2024
Metrohm Česká republika
Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru
Po, 13.5.2024
ANALYTIKA
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.