Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Lubricant testing solutions
Brožury a specifikace
| 2019 | PerkinElmer
GC, HeadSpace
Instrumentace
GC, HeadSpace
Výrobce
PerkinElmer
Zaměření
Průmysl a chemie
Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
AGILENT AEROSPACE ANALYZER
Ostatní
| 2016 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC
Aplikace
| 2019 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Contaminant Analysis Using EDXIR-Analysis Software for Combined EDX-FTIR Analysis
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Příručky
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Aseptic Considerations for Life Science Containers