ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Cleanliness Evaluation of Orthopedic Implants Using TOC

    Aplikace
    | 2019 | Shimadzu
    TOC
    Instrumentace
    TOC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    CENAKVA - Research Program 2

    Prezentace
    | 2024 | Jihočeská univerzita (SeBiChem)
    Instrumentace
    Výrobce
    Zaměření
    Životní prostředí

    Fluoropolymer Packaging for Cell Therapy Product

    Ostatní
    | 2022 | Savillex
    Spotřební materiál
    Instrumentace
    Spotřební materiál
    Výrobce
    Savillex
    Zaměření
    Klinická analýza

    Determination of trace elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Quality Evaluation of Medical Devices Using TOC Solid Sample Measurement System

    Aplikace
    | 2018 | Shimadzu
    TOC
    Instrumentace
    TOC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Analysis of Nanoparticles in Organic Reagents by Agilent 8900 ICP-QQQ in spICP-MS Mode

    Aplikace
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Quantitative analysis of copolymers using the Cary 630 FTIR spectrometer

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    ESAS 2018 - Poster Programm

    Ostatní
    | 2018 | ESAS
    Instrumentace
    Výrobce
    Zaměření

    Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Monitoring Heavy Metals by ICP- OES for Compliance with RoHS and WEEE Directives

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

    Út, 23.4.2024
    CHEMAGAZÍN

    Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023

    Út, 23.4.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.