Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Technické články
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Low reflectance measurements using the ‘VW’ technique
Technické články
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
ON THE SEPARATION AND STRENGTHENING OF THE IMAGE BEHIND THE MIRROR (DERACEMIZATION AND CHIRALITY AMPLIFICATION)
Vědecké články
| 2023 | Chemické listy
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Shimadzu FTIR talk letter Vol. 30
Ostatní
| 2019 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Shimadzu FTIR talk letter vol. 36
Ostatní
| 2021 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance
Technické články
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Shimadzu FTIR talk letter Vol. 37
Ostatní
| 2021 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Measuring Relative % Reflectance of Small Samples in a Cary 50 Spectrophotometer
Technické články
| 2007 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.