Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
High Resolution Analysis of Gases Related to Air Pollution and Global Warming
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
High Sensitivity Measurement of Ultra-Trace Amount of Silicone Oil by IRXross
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Introducing the XSeeker 8000 Bench-Top X-Ray CT System
Technické články
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Slag Powder Analysis by EDXRF
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Shimadzu Analytical and Measuring Instrument
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
GC, GCxGC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, SPME, Termální desorpce, Příprava vzorků, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, Software, MALDI, MS Imaging, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, LC/QQQ, DART, LC/SQ, PrepLC, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, MP/ICP-AES, X-ray, XRD, TOC
Instrumentace
GC, GCxGC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, SPME, Termální desorpce, Příprava vzorků, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, Software, MALDI, MS Imaging, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, LC/QQQ, DART, LC/SQ, PrepLC, RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, MP/ICP-AES, X-ray, XRD, TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Shimadzu AA-7800 Series
Brožury a specifikace
| 2024 | Shimadzu
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.