| 2021 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
Software, ICP-OES
Instrumentace
Software, ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Orbital Raster Scan (ORS™)
Technické články
| 2022 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Nebezpečné látky, Materiálová analýza
Improving verification with Orbital Raster Scan technology
Technické články
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Reaction Tracking of UV-Curable Resin by Rapid Scan
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
SPECIAČNÍ ANALÝZA SELENU V ODTUČNĚNÉM ŘEPKOVÉM ŠROTU
Vědecké články
| 2014 | Chemické listy
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
PerkinElmer
Zaměření
Potraviny a zemědělství
High-Speed Spectral Analysis of Samples that Change over Time - Using the UV-1900i Plus Ultra High-Speed Scan
Aplikace
| 2025 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Nondestructive Thickness Determination of Coatings and Layers from Sub-micron to Tens of Microns Using Step-Scan FT-IR Photoacoustic Phase Spectroscopy
Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Microfocus X-Ray CT System inspeXio 7000
Brožury a specifikace
| 2025 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Ostatní
Microfocus X-Ray CT System inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS