Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative analysis of tint in polymer pellets and disks
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
The fluorescent properties of a stalactite sample using the Agilent Cary Eclipse fiber-optic probe accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
Fluorescenční spektroskopie
Instrumentace
Fluorescenční spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Quantitative Analysis of Elements in Small Quantity of Organic Matter by EDXRF - New Feature of Background FP Method
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
WCPS: Fundamental Studies of a Nitrogen Microwave Plasma for Analytical Emission Spectroscopy