ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    PRODUCT QUALITY ASSURANCE SOLUTIONS - SYFT TECHNOLOGIES

    Brožury a specifikace
    | 2017 | Syft Technologies
    SIFT-MS
    Instrumentace
    SIFT-MS
    Výrobce
    Syft Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Online monitoring of sulfuric acid and hydrogen peroxide using Raman spectroscopy

    Aplikace
    | 2023 | Metrohm
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Metrohm
    Zaměření
    Polovodiče

    Analysis of Silanes By Gas Chromatography

    Brožury a specifikace
    | N/A | Wasson-ECE Instrumentation
    GC
    Instrumentace
    GC
    Výrobce
    Wasson-ECE Instrumentation
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    SEMICONDUCTOR INDUSTRY SOLUTIONS - SYFT TECHNOLOGIES

    Brožury a specifikace
    | 2017 | Syft Technologies
    SIFT-MS
    Instrumentace
    SIFT-MS
    Výrobce
    Syft Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing

    Příručky
    | 2022 | Agilent Technologies
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent Cary 610/620 FTIR microscopes and imaging systems

    Brožury a specifikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Instant, Comprehensive, and Sensitive Airborne Molecular Contaminant (AMC) Analysis Using SIFT-MS

    Aplikace
    | 2017 | Syft Technologies
    SIFT-MS
    Instrumentace
    SIFT-MS
    Výrobce
    Syft Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Example Analysis Using a Highly Sensitive Trace Moisture Analysis System Measurement of Moisture in Chlorofluorocarbon Gas and High-Purity Nitrogen Gas

    Aplikace
    | 2018 | Shimadzu
    GC
    Instrumentace
    GC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Laboratoř anorganické chemie ALS Czech Republic v Praze

    St, 22.5.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO - stánek ALTIUM INTERNATIONAL

    Út, 21.5.2024
    Altium International

    Přednáška LABOREXPO 2024: Budoucnost analýzy potravin a krmiv pomocí NIR spektrometrie (OPTIK INSTRUMENTS)

    Po, 20.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.