ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

    Aplikace
    | 2001 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Trace Metals in Water & Waste Samples Using an Agilent 7850 or 7900 ICP-MS

    Příručky
    | 2021 | Agilent Technologies
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies, Elemental Scientific
    Zaměření
    Životní prostředí

    Oktapólová kolizně-reakční cela a Heliový mód

    Technické články
    | 2020 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS

    Postery
    | N/A | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    IMSC: A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS

    Postery
    | 2009 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Octopole Collision/Reaction Cell and Helium mode

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Recommended ICP-MS consumables to keep your lab online and productive

    Příručky
    | 2021 | Agilent Technologies
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent 7700 Series ICP-MS

    Brožury a specifikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS

    Aplikace
    | 2003 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent 7700/8800 Series ICP-MS Supplies - Quick Reference Guide

    Příručky
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic

    Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024

    Út, 23.4.2024
    CHEMAGAZÍN

    Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023

    Út, 23.4.2024
    Altium International
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.