Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Trace Metals in Water & Waste Samples Using an Agilent 7850 or 7900 ICP-MS
Příručky
| 2021 | Agilent Technologies
Spotřební materiál, ICP/MS
Instrumentace
Spotřební materiál, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific
Zaměření
Životní prostředí
Oktapólová kolizně-reakční cela a Heliový mód
Technické články
| 2020 | Altium International (HPST) (Agilent Technologies)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS
Postery
| N/A | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
IMSC: A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS
Postery
| 2009 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Octopole Collision/Reaction Cell and Helium mode
Technické články
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Recommended ICP-MS consumables to keep your lab online and productive
Příručky
| 2021 | Agilent Technologies
Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent 7700 Series ICP-MS
Brožury a specifikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent 7700/8800 Series ICP-MS Supplies - Quick Reference Guide