Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Počátky a historie Československé kapalinové chromatografie
Ostatní
| 2015 | Česká společnost pro hmotnostní spektrometrii
HPLC
Instrumentace
HPLC
Výrobce
Zaměření
Je zelenina pestovaná v mestských komunitných záhradách skutočne zdravá?
Technické články
| 2023 | ALS Czech Republic
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Počátky a historie Československé hmotnostní spektrometrie
Ostatní
| 2012 | Česká společnost pro hmotnostní spektrometrii
GC/MSD, LC/MS
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS
Výrobce
Zaměření
ALS Net Zero záväzky a naše plány v prospech zamestnancov, klientov, komunít a akcionárov
Ostatní
| 2024 | ALS Czech Republic
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Čeština a slovanské jazyky v chemii
Prezentace
| N/A | 2 THETA ASE
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS