Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Comparison of Optimized Wide Pore Superficially Porous Particles (SPPs) Synthesized By One-Step Coating Process With Other Wide Pore SPPs For Fast And Efficient Separation Of Large Biomolecules
Prezentace
| 2016 | Agilent Technologies (HPLC Symposium)
Spotřební materiál, LC kolony
Instrumentace
Spotřební materiál, LC kolony
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Study of Physical Properties of Superficially Porous Silica on Its Superior Chromatographic Performance
Postery
| 2010 | Agilent Technologies (Pittcon)
Spotřební materiál, LC kolony
Instrumentace
Spotřební materiál, LC kolony
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Shimadzu Matrix Vapor Deposition System iMLayer
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
Příprava vzorků, MALDI
Instrumentace
Příprava vzorků, MALDI
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Molecular Spectroscopy Application eHandbook
Příručky
| 2017 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Technické články
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.