Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
CCD and CID solid-state detectors
Technické články
| 2016 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Micro-Raman Spectroscopy in Thin Section Analysis of Rock Mineralogy
Aplikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Trace Elements in Water using Ultra Thin Film (1)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of Trace Elements in Water using Ultra Thin Film (2)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)