Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(6)
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Klinická analýza
(4)
Materiálová analýza
(5)
Instrumentace
AAS
(3)
FTIR Spektroskopie
(2)
GD/MP/ICP-AES
(1)
ICP-OES
(4)
Výrobce
Agilent Technologies
(10)
ELGA LabWater
(40)
Shimadzu
(9)
Autor
Agilent Technologies
(10)
ELGA LabWater
(40)
Shimadzu
(9)
Typ Publikace
Aplikace
(8)
Brožury a specifikace
(17)
Ostatní
(6)
Příručky
(7)
Rok vydání
Recovery Test for Sodium Dodecylbenzenesulfonate by TOC-V WS
Aplikace
| N/A | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Measurement of TOC in Electroplating Solution Using TOC-V WS
Aplikace
| N/A | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
New Breakthrough in Wet Chemical TOC Analysis Humic Acid: A Complex Molecule, A Simple Solution
Aplikace
| N/A | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Low reflectance measurements using the ‘VW’ technique
Technické články
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
VW Absolute Specular Reflectance Accessory
Brožury a specifikace
| 2021 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measurement of TOC in Perfluorochemical (PFOS) Solution
Aplikace
| 2015 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
ELGA PURELAB FLEX
Brožury a specifikace
| 2020 | ELGA LabWater
Laboratorní přístroje
Instrumentace
Laboratorní přístroje
Výrobce
ELGA LabWater
Zaměření
Ostatní
Před
1
2
...
Další
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.