Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(1)
Materiálová analýza
(7)
Polovodiče
(2)
Potraviny a zemědělství
(3)
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
(1)
ICP/MS
(1)
MP/ICP-AES
(4)
NIR Spektroskopie
(7)
Výrobce
Agilent Technologies
(12)
CEM
(1)
Autor
Agilent Technologies
(12)
RAFA
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(4)
Brožury a specifikace
(3)
Ostatní
(2)
Příručky
(4)
Rok vydání
Optical Characterization of Thin Films
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Příručky
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
Agilent 4200 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer
Brožury a specifikace
| 2015 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
AGILENT 4100 MICROWAVE PLASMA – ATOMIC EMISSION SPECTROMETER
Brožury a specifikace
| 2011 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors
Technické články
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Agilent Turbo-V Pumps
Brožury a specifikace
| N/A | Agilent Technologies
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Microwave Plasma Atomic Emission Spectroscopy (MP-AES) - Measuring metals in wine and food handbook
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Před
1
2
Další
Mohlo by Vás zajímat
Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024
Út, 14.5.2024
Altium International
Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru
Po, 13.5.2024
ANALYTIKA
Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU
Ne, 12.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.