Trace Elemental Analysis of Trichlorosilane by Agilent ICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)
Ostatní
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Polovodiče
Agilent ICP-MS Journal (August 2011 – Issue 47)
Ostatní
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Farmaceutická analýza
Agilent ICP-MS Journal (October 2017 – Issue 70)
Ostatní
| 2017 | Agilent Technologies
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Klinická analýza
Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry
Příručky
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing