ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (CZ)

Brožury a specifikace | 2021 | Altium International (HPST) | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies, Elemental Scientific

Souhrn

Význam tématu


Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem (ICP-OES) patří mezi klíčové metody víceprvkové analýzy v laboratořích průmyslové, environmentální i farmaceutické analytiky. Díky simultánnímu snímání emisních čar nabízejí vysokou produktivitu, široký dynamický rozsah a nízké detekční limity. Inteligentní diagnostické a softwarové nástroje dále zvyšují spolehlivost měření, minimalizují provozní výpadky a snižují náklady na provoz.

Cíle a přehled studie / článku


Text představuje systémy Agilent 5800 a 5900 ICP-OES se zaměřením na: snížení počtu opakovaných analýz, rychlou detekci problémů, flexibilitu měřicích konfigurací a úsporu plynu. Článek zdůrazňuje klíčové vlastnosti hardwaru, optiky, detektoru i softwaru a popisuje možnosti adaptace na různorodé aplikační nároky.

Použitá metodika a instrumentace


Veškerá měření probíhají v systému ICP-OES využívajícím vertikálně orientovaný hořák. Model 5800 je k dispozici ve verzích VDV (vertikální dual view) a RV (pouze radiální pohled), model 5900 navíc nabízí synchronní axiálně-radiální sledování (SVDV) pro rychlejší analýzu a nižší spotřebu argonu. Klíčové prvky instrumentace:
  • RF generátor 27 MHz, 750–1500 W, solid-state, bezúdržbový
  • Optika echelle se systémem Freeform kolimačního zrcadla a CaF2 křížovým disperzním hranolem
  • Detektor VistaChip III CCD s chlazením na –40 °C, technologií i-MAP a anti-blooming
  • Systém řízení průtoků plynu na principu MFC pro čtyři kanály s nastavitelnými rozsahy
  • Softwarové nástroje ICP Expert s funkcemi IntelliQuant, Fitted Background Correction, Early Maintenance Feedback a FACT

Hlavní výsledky a diskuse


Model 5900 v režimu SVDV dosahuje nejvyšší rychlosti analýzy a poloviční spotřeby argonu na reálně měřený vzorek oproti konkurenčním přístrojům. Čas stabilizace do plné provozní teploty plazmatu je pod 20 minut. Rozptyl záření pod 1 ppm signálu As při 10 000 ppm Ca pro 193,696 nm a stabilita signálu lepší než 1 % RSD během 8 h měření potvrzují vysokou robustnost. Typické rozlišení emisních čar se pohybuje od <6,5 pm pro As až po <32 pm pro Ba. Inteligentní diagnostika s počítadly vzorků a senzory předchází až 30 % servisních požadavků a snižuje podíl opakovaných analýz o 15 %.

Přínosy a praktické využití metody


Systémy Agilent 5800 a 5900 umožňují:
  • Rychlou automatizaci rutinních měření s minimem časově náročných zásahů
  • Spolehlivou analýzu složitých matric (vysoce zasolené vzorky, organická rozpouštědla, HF)
  • Široké možnosti konfigurace vzorkovačů a periferií (autosampler, AVS, ultrazvukový zmlžovač, prepFAST)
  • Časově optimalizovanou a prediktivní údržbu díky inteligentním algoritmům
  • Přesnou kvalifikaci a validaci metod v souladu s regulativy (US EPA, US FDA 21 CFR part 11)

Budoucí trendy a možnosti využití


Rozvoj ICP-OES bude směřovat k plné integraci umělé inteligence pro prediktivní diagnostiku, cloudové monitorovací platformě, dále k miniaturizaci a mobilní detekci v terénu a k vyšší míře automatizace přípravy vzorků. Inovace v optice a detektorech mohou přinést ještě nižší detekční limity a rozšíření spektrálního rozsahu do EUV oblasti. Zvyšuje se zájem o kombinaci s hmotnostní spektrometrií (ICP-MS) v hybrydních systémech.

Závěr


Agilent 5800 a 5900 představují komplexní řešení pro moderní analytickou praxi. Vysoce robustní hardware, pokročilá optika a detekční technologie ve spojení s inteligentním softwarem zaručují rychlé, přesné a opakovatelné výsledky i u nejnáročnějších vzorků, přičemž minimalizují provozní náklady a riziko výpadků.

Použitá instrumentace


  • Agilent 5800 ICP-OES (VDV, RV)
  • Agilent 5900 SVDV ICP-OES
  • SPS4 autosampler
  • Advanced Valve System (AVS 4/6/7)
  • Ultrazvukový zmlžovač Cetac 5000AT (MSIS)
  • Desolvatační systém a prepFAST AutoDiluter

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Agilent ICP Expert Software
Agilent ICP Expert Software
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP Expert Software Výkonný software s chytrými nástroji pro ICP-OES Úvod ICP-OES Agilent 5800 & 5900 jsou řízeny softwarem Agilent ICP Expert. ICP Expert používá známé prostředí „worksheetů“ (pracovních listů) a nabízí…
Klíčová slova
pro, profunkce, funkceicp, icpexpert, expertuživatelům, uživatelůmvzorků, vzorkůovládání, ovládáníocf, ocfkorekci, korekciředění, ředěníemisní, emisníkaždou, každousoftwaru, softwaruautomatické, automaticképodmíněné
Agilent 5900 SVDV ICP-OES (CZ)
Agilent 5900 SVDV ICP-OES (CZ)
2021|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Synchronní Vertikální Dual View (SVDV) pro vysokou produktivitu a nízké provozní náklady. Agilent 5900 SVDV ICP-OES Čas jsou peníze Systém ICP-OES Agilent 5900 SVDV přináší řadou revolučních vylepšení z hlediska provozu, výkonu a…
Klíčová slova
radiálního, radiálníhosměru, směruduálním, duálnímaxiálního, axiálníhopozorováním, pozorovánímldr, ldrpro, prosynchronní, synchronnídsc, dscargonu, argonuumožňuje, umožňujeemise, emiseoptiky, optikyměření, měřenívertikální
Agilent ICP-OES IntelliQuant
Agilent ICP-OES IntelliQuant
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem IntelliQuant® Více informací o vzorku a snazší vývoj metod Úvod Zatímco kvantitativní prvková analýza zůstává hlavním úkolem instrumentace ICP-OES, semikvantitativní analýza poskytuje rozšířené informace, což analytikovi umožňuje dozvědět se více o vzorcích. Sběr…
Klíčová slova
intelliquant, intelliquantmohou, mohoupomocí, pomocívzorku, vzorkuohodnocení, ohodnocenísemikvantitativních, semikvantitativníchanalytu, analytuuživatelům, uživatelůmpomoc, pomocvzorků, vzorkůnebo, nebovlnových, vlnovýchmetod, metodkoncentrace, koncentraceprvky
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP-OES Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) Rychlá, přesná a plně automatická korekce pozadí ICP-OES Úvod V ICP-OES se korekce pozadí (baseline) uplatňuje na celkový signál dané emisní čáry analytu. Důvodem je fakt, že…
Klíčová slova
pozadí, pozadíkorekci, korekcianalytu, analytusignálu, signálukorekce, korekcepíku, píkupro, proprůběh, průběhautomaticky, automatickyfbc, fbcfitted, fittedvšak, všaktak, takklíčovými, klíčovýmikorigováno
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.