Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
Technické články | 2021 | Altium International (HPST) | Agilent TechnologiesInstrumentace
V technice ICP-OES je přesná korekce pozadí klíčová pro spolehlivou kvantifikaci prvků zejména při složitých matricích vzorků. Bez adekvátního odstranění kontinuálního a interferenčního signálu nelze dosáhnout optimálních detekčních limitů a správných výsledků.
Cílem článku je představit a zhodnotit nový přístup Fitted Background Correction implementovaný v optických emisních spektrometrech Agilent ICP-OES 5800 a 5900. Studie shrnuje tradiční metody korekce – off-peak – a porovnává je s novým modelovacím algoritmem.
FBC prokázala schopnost automaticky eliminovat interference při měření emisní čáry Pb 220,353 nm v přítomnosti vysokých koncentrací Al a Mo. Tradiční metoda off-peak často selhává u složitých struktur pozadí, zatímco FBC poskytuje konzistentní výsledky bez potřeby úprav metody. Díky rychlému modelování lze aplikovat korekci v reálném čase s minimálním zásahem uživatele.
Očekává se širší integrace modelovacích algoritmů založených na strojovém učení pro komplexnější korekci pozadí. Možné rozšíření FBC do mobilních a online analyzátorů, stejně jako kombinace s chemometrickými nástroji pro další zvýšení přesnosti.
FBC představuje pokročilou a uživatelsky přívětivou metodu pro korekci pozadí v ICP-OES, která významně zlepšuje kvalitu dat bez náročného nastavování. Díky své efektivitě a flexibilitě je vhodná pro širokou škálu aplikačních oblastí v analytické chemii.
V textu nejsou uvedeny žádné konkrétní odkazy na literaturu.
Software, ICP-OES
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
V technice ICP-OES je přesná korekce pozadí klíčová pro spolehlivou kvantifikaci prvků zejména při složitých matricích vzorků. Bez adekvátního odstranění kontinuálního a interferenčního signálu nelze dosáhnout optimálních detekčních limitů a správných výsledků.
Cíle a přehled studie / článku
Cílem článku je představit a zhodnotit nový přístup Fitted Background Correction implementovaný v optických emisních spektrometrech Agilent ICP-OES 5800 a 5900. Studie shrnuje tradiční metody korekce – off-peak – a porovnává je s novým modelovacím algoritmem.
Použitá metodika a instrumentace
- Instrumentace: Agilent ICP-OES 5800 a 5900
- Korekce pozadí off-peak: měření jednoho či dvou bodů okolo emisního píku analytu
- Korekce Fitted Background Correction: modelování kontinuálního a strukturálního pozadí přes kompenzační složky, Gaussovské modely a metodu nejmenších čtverců
Hlavní výsledky a diskuse
FBC prokázala schopnost automaticky eliminovat interference při měření emisní čáry Pb 220,353 nm v přítomnosti vysokých koncentrací Al a Mo. Tradiční metoda off-peak často selhává u složitých struktur pozadí, zatímco FBC poskytuje konzistentní výsledky bez potřeby úprav metody. Díky rychlému modelování lze aplikovat korekci v reálném čase s minimálním zásahem uživatele.
Přínosy a praktické využití metody
- Plná automatizace bez vývoje specifických metod
- Vysoká robustnost vůči změnám matrice vzorku
- Zlepšení detekčních limitů díky přesné eliminaci pozadí
- Rychlost a jednoduchost nasazení v rutinní laboratoři
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se širší integrace modelovacích algoritmů založených na strojovém učení pro komplexnější korekci pozadí. Možné rozšíření FBC do mobilních a online analyzátorů, stejně jako kombinace s chemometrickými nástroji pro další zvýšení přesnosti.
Závěr
FBC představuje pokročilou a uživatelsky přívětivou metodu pro korekci pozadí v ICP-OES, která významně zlepšuje kvalitu dat bez náročného nastavování. Díky své efektivitě a flexibilitě je vhodná pro širokou škálu aplikačních oblastí v analytické chemii.
Reference
V textu nejsou uvedeny žádné konkrétní odkazy na literaturu.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
FACT - Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí v ICP-OES
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP-OES FACT …to funguje Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí. V dokonalém světě by ICP-OES spektrometry poskytovaly neomezené spektrální rozlišení a pro každý prvek bez ohledu na typ vzoru by byly dostupné…
Klíčová slova
pozadí, pozadíkorekce, korekceinterferenční, interferenčníkalibračně, kalibračněpřekrývajících, překrývajícíchfact, factkadmia, kadmiarozpouštědlech, rozpouštědlechfunguje, fungujeemisní, emisníznámé, známéspektrální, spektrálnípro, prospektrometry, spektrometrykovů
Agilent ICP Expert Software
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP Expert Software Výkonný software s chytrými nástroji pro ICP-OES Úvod ICP-OES Agilent 5800 & 5900 jsou řízeny softwarem Agilent ICP Expert. ICP Expert používá známé prostředí „worksheetů“ (pracovních listů) a nabízí…
Klíčová slova
pro, profunkce, funkceicp, icpexpert, expertuživatelům, uživatelůmvzorků, vzorkůovládání, ovládáníocf, ocfkorekci, korekcikaždou, každouředění, ředěníemisní, emisnísoftwaru, softwaruautomatické, automaticképodmíněné
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (CZ)
2021|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent 5800 & 5900 ICP-OES Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé. 5800 ICP-OES Přináší chytré softwarové nástroje, které Vám poskytnou informace o Vašich vzorcích a umožní získat…
Klíčová slova
pohledem, pohledempro, profunkce, funkceředění, ředěníradiálním, radiálnímvnášení, vnášeníaxiální, axiálnívzorky, vzorkyintelliquant, intelliquantmód, módgenerátor, generátorpožadavky, požadavkyvzorku, vzorkuvšech, všechpříslušenství
Agilent ICP-OES IntelliQuant
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem IntelliQuant® Více informací o vzorku a snazší vývoj metod Úvod Zatímco kvantitativní prvková analýza zůstává hlavním úkolem instrumentace ICP-OES, semikvantitativní analýza poskytuje rozšířené informace, což analytikovi umožňuje dozvědět se více o vzorcích. Sběr…
Klíčová slova
intelliquant, intelliquantmohou, mohoupomocí, pomocívzorku, vzorkuohodnocení, ohodnocenísemikvantitativních, semikvantitativníchanalytu, analytuuživatelům, uživatelůmpomoc, pomocvzorků, vzorkůvlnových, vlnovýchnebo, nebometod, metodprvky, prvkykoncentrace
