FACT - Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí v ICP-OES
Technické články | 2021 | Altium International (HPST) | Agilent TechnologiesInstrumentace
Spektrální interference představují zásadní výzvu při analýze komplexních matric pomocí ICP-OES. Přesná dekonvoluce překrývajících se emisních čar je klíčová pro spolehlivé stanovení stopových prvků v geologických, petrochemických či průmyslových vzorcích.
Článek představuje softwarovou techniku FACT integrovanou v Agilent ICP Expert pro přístroje 5800 a 5900 ICP-OES. Cílem je ukázat princip modelování spektrálních komponent a demonstrovat efektivitu korekcí překrývajících se píků analytu a interferentů.
Metoda FACT využívá matematickou dekonvoluci založenou na Gaussových křivkách. Pro vytvoření modelu se měří blank, roztok analytu a roztok interferentu. Softwarově se analyzují tvar a poloha píku a drobné pozůstatky spektra, z nichž se sestavuje model složený z Gaussových píků. Pro kompenzaci driftu vlnové délky se kontinuálně monitoruje šest plasmových argonových čar. Model je koncentračně nezávislý, vyžaduje pouze signál minimálně 50× nad detekční limit. Použitá instrumentace: Agilent 5800/5900 ICP-OES se softwarovým modulem FACT v rámci Agilent ICP Expert.
1. Rozlišení píku Cd 214.439 nm interferovaného Fe 214.445 nm: FACT dosahuje separace s přesností <2 % RSD a rozlišením až 0,6 pm, tedy >10× efektivněji než optické rozlišení přístroje.
2. Korekce komplexního pozadí: Při stanovení Na v olejové matrici (ředěné Jet-A) metoda umožňuje snížení kvantifikační meze až o řád.
3. Analýza drahých kovů: FACT eliminuje interference Cu při stanovení Ir 224.268 nm a následně zohledňuje i Au a Rh, čímž zaručuje správnost výsledků v přítomnosti vysokých koncentrací ostatních kovů.
Očekává se rozšíření aplikace FACT do dalších oblastí, včetně biochemických a environmentálních vzorků. Další vývoj může zahrnovat propojení s AI-based spektrálními knihovnami pro automatickou volbu optimálních emisních čar a adaptaci na nové typy plasmatických zdrojů.
Softwarová technika FACT v Agilent ICP Expert významně zvyšuje kvalitu spektrálních korekcí v ICP-OES. Díky matematické dekonvoluci překrývajících se píkových signálů umožňuje spolehlivé stanovení prvků v náročných matricích bez nutnosti kalibračně závislých meziprvkových korekcí.
–
Software, ICP-OES
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Spektrální interference představují zásadní výzvu při analýze komplexních matric pomocí ICP-OES. Přesná dekonvoluce překrývajících se emisních čar je klíčová pro spolehlivé stanovení stopových prvků v geologických, petrochemických či průmyslových vzorcích.
Cíle a přehled studie
Článek představuje softwarovou techniku FACT integrovanou v Agilent ICP Expert pro přístroje 5800 a 5900 ICP-OES. Cílem je ukázat princip modelování spektrálních komponent a demonstrovat efektivitu korekcí překrývajících se píků analytu a interferentů.
Použitá metodika a instrumentace
Metoda FACT využívá matematickou dekonvoluci založenou na Gaussových křivkách. Pro vytvoření modelu se měří blank, roztok analytu a roztok interferentu. Softwarově se analyzují tvar a poloha píku a drobné pozůstatky spektra, z nichž se sestavuje model složený z Gaussových píků. Pro kompenzaci driftu vlnové délky se kontinuálně monitoruje šest plasmových argonových čar. Model je koncentračně nezávislý, vyžaduje pouze signál minimálně 50× nad detekční limit. Použitá instrumentace: Agilent 5800/5900 ICP-OES se softwarovým modulem FACT v rámci Agilent ICP Expert.
Hlavní výsledky a diskuse
1. Rozlišení píku Cd 214.439 nm interferovaného Fe 214.445 nm: FACT dosahuje separace s přesností <2 % RSD a rozlišením až 0,6 pm, tedy >10× efektivněji než optické rozlišení přístroje.
2. Korekce komplexního pozadí: Při stanovení Na v olejové matrici (ředěné Jet-A) metoda umožňuje snížení kvantifikační meze až o řád.
3. Analýza drahých kovů: FACT eliminuje interference Cu při stanovení Ir 224.268 nm a následně zohledňuje i Au a Rh, čímž zaručuje správnost výsledků v přítomnosti vysokých koncentrací ostatních kovů.
Přínosy a praktické využití metody
- Zrychlení analýzy díky potlačení opakování přípravy vzorku a re-analýz.
- Vyšší spolehlivost výsledků bez nutnosti detailní znalosti koncentrace interferentů.
- Přesné korekce pozadí i u složitých matric s komplexními strukturami emisního signálu.
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se rozšíření aplikace FACT do dalších oblastí, včetně biochemických a environmentálních vzorků. Další vývoj může zahrnovat propojení s AI-based spektrálními knihovnami pro automatickou volbu optimálních emisních čar a adaptaci na nové typy plasmatických zdrojů.
Závěr
Softwarová technika FACT v Agilent ICP Expert významně zvyšuje kvalitu spektrálních korekcí v ICP-OES. Díky matematické dekonvoluci překrývajících se píkových signálů umožňuje spolehlivé stanovení prvků v náročných matricích bez nutnosti kalibračně závislých meziprvkových korekcí.
Reference
–
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP-OES Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) Rychlá, přesná a plně automatická korekce pozadí ICP-OES Úvod V ICP-OES se korekce pozadí (baseline) uplatňuje na celkový signál dané emisní čáry analytu. Důvodem je fakt, že…
Klíčová slova
pozadí, pozadíkorekci, korekcianalytu, analytusignálu, signálukorekce, korekcepíku, píkupro, proprůběh, průběhautomaticky, automatickyfbc, fbcfitted, fittedvšak, všaktak, takklíčovými, klíčovýmikorigováno
Agilent ICP Expert Software
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP Expert Software Výkonný software s chytrými nástroji pro ICP-OES Úvod ICP-OES Agilent 5800 & 5900 jsou řízeny softwarem Agilent ICP Expert. ICP Expert používá známé prostředí „worksheetů“ (pracovních listů) a nabízí…
Klíčová slova
pro, profunkce, funkceicp, icpexpert, expertuživatelům, uživatelůmvzorků, vzorkůovládání, ovládáníocf, ocfkorekci, korekciředění, ředěníemisní, emisníkaždou, každousoftwaru, softwaruautomatické, automaticképodmíněné
HPST ChromAtoMol #3 - časopis nejen pro analytické laboratoře
2016|Agilent Technologies|Ostatní
1 ChromAtoMol časopis nejen pro analytické laboratoře » Účinná korekce pozadí ICP-OES spekter » ICP-MS/MS – analýza bez interferencí » miRNA microarrays ve studiu regulace genové exprese » Imunodeplece plodové vody » Spojení kapilární elektroforézy s hmotnostní spektrometrií » Přístroje…
Klíčová slova
pro, proicp, icpspecialista, specialistaanalýza, analýzainterferencí, interferencíjsou, jsounebo, neboprvků, prvkůmicroarray, microarraypři, přisystému, systémujako, jakosystém, systémtak, takměření
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (CZ)
2021|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent 5800 & 5900 ICP-OES Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé. 5800 ICP-OES Přináší chytré softwarové nástroje, které Vám poskytnou informace o Vašich vzorcích a umožní získat…
Klíčová slova
pohledem, pohledempro, profunkce, funkceředění, ředěníradiálním, radiálnímvnášení, vnášeníaxiální, axiálnívzorky, vzorkyintelliquant, intelliquantmód, módgenerátor, generátorpožadavky, požadavkyvzorku, vzorkuvšech, všechpříslušenství