ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

FACT - Jedinečný nástroj pro korekce spektrálních interferencí v ICP-OES

Technické články | 2021 | Altium International (HPST) | Agilent TechnologiesInstrumentace
Software, ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Spektrální interference představují zásadní výzvu při analýze komplexních matric pomocí ICP-OES. Přesná dekonvoluce překrývajících se emisních čar je klíčová pro spolehlivé stanovení stopových prvků v geologických, petrochemických či průmyslových vzorcích.

Cíle a přehled studie


Článek představuje softwarovou techniku FACT integrovanou v Agilent ICP Expert pro přístroje 5800 a 5900 ICP-OES. Cílem je ukázat princip modelování spektrálních komponent a demonstrovat efektivitu korekcí překrývajících se píků analytu a interferentů.

Použitá metodika a instrumentace


Metoda FACT využívá matematickou dekonvoluci založenou na Gaussových křivkách. Pro vytvoření modelu se měří blank, roztok analytu a roztok interferentu. Softwarově se analyzují tvar a poloha píku a drobné pozůstatky spektra, z nichž se sestavuje model složený z Gaussových píků. Pro kompenzaci driftu vlnové délky se kontinuálně monitoruje šest plasmových argonových čar. Model je koncentračně nezávislý, vyžaduje pouze signál minimálně 50× nad detekční limit. Použitá instrumentace: Agilent 5800/5900 ICP-OES se softwarovým modulem FACT v rámci Agilent ICP Expert.

Hlavní výsledky a diskuse


1. Rozlišení píku Cd 214.439 nm interferovaného Fe 214.445 nm: FACT dosahuje separace s přesností <2 % RSD a rozlišením až 0,6 pm, tedy >10× efektivněji než optické rozlišení přístroje.
2. Korekce komplexního pozadí: Při stanovení Na v olejové matrici (ředěné Jet-A) metoda umožňuje snížení kvantifikační meze až o řád.
3. Analýza drahých kovů: FACT eliminuje interference Cu při stanovení Ir 224.268 nm a následně zohledňuje i Au a Rh, čímž zaručuje správnost výsledků v přítomnosti vysokých koncentrací ostatních kovů.

Přínosy a praktické využití metody


  • Zrychlení analýzy díky potlačení opakování přípravy vzorku a re-analýz.
  • Vyšší spolehlivost výsledků bez nutnosti detailní znalosti koncentrace interferentů.
  • Přesné korekce pozadí i u složitých matric s komplexními strukturami emisního signálu.

Budoucí trendy a možnosti využití


Očekává se rozšíření aplikace FACT do dalších oblastí, včetně biochemických a environmentálních vzorků. Další vývoj může zahrnovat propojení s AI-based spektrálními knihovnami pro automatickou volbu optimálních emisních čar a adaptaci na nové typy plasmatických zdrojů.

Závěr


Softwarová technika FACT v Agilent ICP Expert významně zvyšuje kvalitu spektrálních korekcí v ICP-OES. Díky matematické dekonvoluci překrývajících se píkových signálů umožňuje spolehlivé stanovení prvků v náročných matricích bez nutnosti kalibračně závislých meziprvkových korekcí.

Reference


Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) v ICP-OES
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP-OES Korekce pozadí „Fitted“ (FBC) Rychlá, přesná a plně automatická korekce pozadí ICP-OES Úvod V ICP-OES se korekce pozadí (baseline) uplatňuje na celkový signál dané emisní čáry analytu. Důvodem je fakt, že…
Klíčová slova
pozadí, pozadíkorekci, korekcianalytu, analytusignálu, signálukorekce, korekcepíku, píkupro, proprůběh, průběhautomaticky, automatickyfbc, fbcfitted, fittedvšak, všaktak, takklíčovými, klíčovýmikorigováno
Agilent ICP Expert Software
Agilent ICP Expert Software
2021|Agilent Technologies|Technické články
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent ICP Expert Software Výkonný software s chytrými nástroji pro ICP-OES Úvod ICP-OES Agilent 5800 & 5900 jsou řízeny softwarem Agilent ICP Expert. ICP Expert používá známé prostředí „worksheetů“ (pracovních listů) a nabízí…
Klíčová slova
pro, profunkce, funkceicp, icpexpert, expertuživatelům, uživatelůmvzorků, vzorkůovládání, ovládáníocf, ocfkorekci, korekciředění, ředěníemisní, emisníkaždou, každousoftwaru, softwaruautomatické, automaticképodmíněné
HPST ChromAtoMol #3 - časopis nejen pro analytické laboratoře
1 ChromAtoMol časopis nejen pro analytické laboratoře » Účinná korekce pozadí ICP-OES spekter » ICP-MS/MS – analýza bez interferencí » miRNA microarrays ve studiu regulace genové exprese » Imunodeplece plodové vody » Spojení kapilární elektroforézy s hmotnostní spektrometrií » Přístroje…
Klíčová slova
pro, proicp, icpspecialista, specialistaanalýza, analýzainterferencí, interferencíjsou, jsounebo, neboprvků, prvkůmicroarray, microarraypři, přisystému, systémujako, jakosystém, systémtak, takměření
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (CZ)
Agilent 5800 & 5900 ICP-OES (CZ)
2021|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Optické emisní spektrometry s indukčně buzeným plazmatem Agilent 5800 & 5900 ICP-OES Chytrá cesta jak neplýtvat časem a získat správné výsledky hned napoprvé. 5800 ICP-OES  Přináší chytré softwarové nástroje, které Vám poskytnou informace o Vašich vzorcích a umožní získat…
Klíčová slova
pohledem, pohledempro, profunkce, funkceředění, ředěníradiálním, radiálnímvnášení, vnášeníaxiální, axiálnívzorky, vzorkyintelliquant, intelliquantmód, módgenerátor, generátorpožadavky, požadavkyvzorku, vzorkuvšech, všechpříslušenství
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.