ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

True simultaneous ICP-OES for unmatched speed and performance

Technické články | 2012 | Agilent TechnologiesInstrumentace
ICP-OES
Zaměření
Výrobce
Agilent Technologies

Souhrn

Význam tématu


Ionizující plazma spojené s optickou emisní spektrometrií (ICP-OES) představuje klíčovou technologii pro rychlou a citlivou kvantifikaci stopových prvků v různých typech matric. Kombinace echelle optiky a pevnolátkového detektoru umožňuje současný záznam celého spektra bez kompromisů v rychlosti ani přesnosti.

Cíle a přehled studie


Cílem dokumentu je představit koncepci a praktické přínosy série Agilent 720 ICP-OES se zaměřením na inovativní detektor VistaChip, technologie I-MAP a AIT pro dosažení skutečně simultánního měření v rozsahu 167–785 nm.

Použitá metodika a instrumentace


  • Optika: echelle polychromátor s CaF₂ prizmatem pro dvourozměrné disperzní rozložení spektra.
  • Detektor: hermeticky uzavřený VistaChip II CCD s 70 diagonálními lineárními poli (DLA) zarovnanými na volné spektrální rozsahy jednotlivých řádů.
  • I-MAP (Image Mapping): optimalizace využití pixelů k pokrytí celého spektra bez zbytečných dat.
  • AIT (Adaptive Integration Technology): algoritmus automatického nastavení integračního času pro každý emisní řádek dle intenzity signálu.

Hlavní výsledky a diskuse


Díky 1 MHz rychlosti odběru signálu a duplexnímu čtení je celá spektrální oblast snímána pod 1 sekundu. Výborné rozlišení (<7 pm pro As 188,98 nm, <8 pm pro Zn 213,857 nm, až <38 pm pro Ba 614,171 nm) zajišťuje identifikaci úzkých dvojitých čar. Antiblooming na každém pixelu eliminuje interference z intenzivních signálů.

Přínosy a praktické využití metody


  • Zvýšená propustnost laboratoře díky rychlému simultánnímu měření.
  • Vylepšená přesnost a reprodukovatelnost díky internímu standardu a korekci pozadí bez navýšení času analýzy.
  • Možnost vícenásobného potvrzení prvků z různých emisních linií bez časové ztráty.
  • Plná automatizace optimalizace provozních parametrů a čištění vzorku.

Budoucí trendy a možnosti využití


Integrace ICP-OES se separačními technikami (např. kapalinová chromatografie či laserová ablace) pro časově prostorově rozlišené analýzy. Další miniaturizace detektorů, vývoj pokročilých algoritmů pro korekci maticových vlivů a rozšíření online kvality dat pro digitální transformaci laboratoří.

Závěr


Série Agilent 720 ICP-OES s VistaChip II, I-MAP a AIT poskytuje skutečně simultánní a vysoce výkonnou analýzu prvků s minimálními časy stanovení a vynikající stabilitou. Hermetické uzavření detektoru zkracuje startovací časy a snižuje náklady.

Reference


Agilent Technologies, Inc. Publication number 5991-0843EN, 2012

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2016|Agilent Technologies|Technické články
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance Technical Overview 5110 ICP-OES Introduction The Agilent 5110 ICP-OES combines a vertical torch, unique dual view and synchronous dual view pre-optics, and state-of-the-art echelle optical design with innovative CCD detector technology.…
Klíčová slova
echelle, echelleblooming, bloomingvistachip, vistachipoptics, opticsoes, oespixels, pixelsdiffraction, diffractionpolychromator, polychromatoricp, icpreadout, readoutdlas, dlassimultaneous, simultaneousait, aitdesign, designoptical
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance
2014|Agilent Technologies|Technické články
Superior ICP-OES optical design for unmatched speed and performance Technical Overview 5100 ICP-OES Introduction The Agilent 5100 ICP-OES combines a vertical torch, unique dual view and synchronous dual view pre-optics, and state-of-the-art echelle optical design with innovative CCD detector technology.…
Klíčová slova
echelle, echelleblooming, bloomingvistachip, vistachipoptics, opticsoes, oespixels, pixelsdiffraction, diffractionpolychromator, polychromatoricp, icpreadout, readoutdlas, dlassimultaneous, simultaneousait, aitdesign, designoptical
Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance
Technical Overview Innovative Freeform Optical Design Improves ICP-OES Speed and Analytical Performance Agilent 5800 ICP-OES and Agilent 5900 ICP-OES Introduction The innovative optical design of the Agilent 5800 and 5900 ICP-OES has transformed each instrument’s analytical performance, size, warm-up and…
Klíčová slova
freeform, freeformpolychromator, polychromatoroptical, opticaloptics, opticsmirror, mirrorcollimating, collimatinglight, lightwavelength, wavelengthoes, oesaberrations, aberrationsfocus, focussurface, surfaceicp, icpslit, slitdetector
CCD and CID solid-state detectors
CCD and CID solid-state detectors
2012|Agilent Technologies|Technické články
CCD and CID solid-state detectors Technical overview Introduction Many of today’s ICP-OES instruments have progressed from traditional photomultiplier tube (PMT) detection systems to solid-state charge transfer devices including the charge-coupled device (CCD) and charge injection device (CID). The role of…
Klíčová slova
pixels, pixelscids, cidsccd, ccdpixel, pixelblooming, bloomingccds, ccdsvistachip, vistachipintegration, integrationcharge, chargeadaptive, adaptiveoffer, offerwavelengths, wavelengthsoes, oesdetector, detectorcid
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.