WCPS: Nanoparticle Analysis in Cosmetic Samples by Multi-element Screening Function of spICP-MS
Postery | 2018 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Analýza metalických nanočástic v kosmetických produktech a vodních vzorcích je klíčová pro zajištění bezpečnosti spotřebitelů a environmentálního dohledu. SpICP-MS umožňuje simultánně měřit koncentraci částic, jejich velikostní distribuci i obsah rozpuštěných kovů, což usnadňuje komplexní charakterizaci vzorků.
Cílem studie bylo demonstrovat využití nové funkce Fast Time Program Analysis (FTPA) v režimu spICP-MS pro rychlé multielementární screeningové měření nanočástic Al, Ti, Zn a Si v opalovacích přípravcích a vodách z plaveckých bazénů.
Byl použit Agilent 7900 ICP-MS vybavený modulem MassHunter Single Particle Application.
Metoda FTPA šetří až 32 minut na čtyřech vzorcích ve srovnání s konvenčním přístupem.
FTPA funkce v režimu spICP-MS výrazně zkracuje dobu analýzy multiele-mentárních nanočástic a poskytuje komplexní informace o koncentraci, distribuci velikostí a rozpuštěných složkách bez zdlouhavé přípravy vzorku.
ICP/MS
ZaměřeníOstatní
VýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Analýza metalických nanočástic v kosmetických produktech a vodních vzorcích je klíčová pro zajištění bezpečnosti spotřebitelů a environmentálního dohledu. SpICP-MS umožňuje simultánně měřit koncentraci částic, jejich velikostní distribuci i obsah rozpuštěných kovů, což usnadňuje komplexní charakterizaci vzorků.
Cíle a přehled studie / článku
Cílem studie bylo demonstrovat využití nové funkce Fast Time Program Analysis (FTPA) v režimu spICP-MS pro rychlé multielementární screeningové měření nanočástic Al, Ti, Zn a Si v opalovacích přípravcích a vodách z plaveckých bazénů.
Použitá metodika a instrumentace
Byl použit Agilent 7900 ICP-MS vybavený modulem MassHunter Single Particle Application.
- Měřené izotopy: 27Al, 47Ti, 66Zn (no gas), 28Si (H2 mode).
- FTPA umožňuje sekvenční měření více prvků bez přestávek mezi jednotlivými sekvencemi.
- Parametry: RF výkon 1550 W, vzorkovací hloubka 8 mm, tok nosného plynu 0,87 L/min, vzorkovací tok 0,35 mL/min, doba záznamu 20 s/prvek.
- Standardní křemenné vstřikovací systémy s hořákem 1,0 mm.
Hlavní výsledky a diskuse
Metoda FTPA šetří až 32 minut na čtyřech vzorcích ve srovnání s konvenčním přístupem.
- V opalovacích přípravcích A a C byly detekovány ostré signály Al a Ti nanočástic, přípravek B neobsahoval žádné nanočástice v souladu s deklarací výrobce.
- Vysoký kontinuální signál Si v přípravku C odpovídá cyklopentasiloxanu rozpuštěnému ve vzorku.
- Distribuce velikostí částic ukazuje průměrné průměry v rozmezí od desítek do stovek nanometrů podle typu oxidu kovu.
- Ve vzorcích bazénové vody byly kvantifikovány nanočástice TiO2 a ZnO s rostoucí koncentrací od čisté vody přes vnitřní bazén až po venkovní bazény (až 5×107 částic/L).
Přínosy a praktické využití metody
- Simultánní stanovení více prvků v jednom běhu bez náročné kyselé digesce vzorků.
- Rychlá a efektivní metoda vhodná pro QA/QC v kosmetickém průmyslu i environmentální monitoring.
- Kombinace informací o částicích a rozpuštěných formách prvků podporuje lepší interpretaci původu a chování nanočástic.
Budoucí trendy a možnosti využití
- Rozšíření analýzy na další kovové a nekovové prvky v komplexních matricích.
- Integrace automatizovaných přípravných postupů pro vysokoprodukční laboratoře.
- Využití v regulaci nanoformulací v potravinářství, farmaceutickém průmyslu a v rámci environmentální legislativy.
Závěr
FTPA funkce v režimu spICP-MS výrazně zkracuje dobu analýzy multiele-mentárních nanočástic a poskytuje komplexní informace o koncentraci, distribuci velikostí a rozpuštěných složkách bez zdlouhavé přípravy vzorku.
Reference
- V. Nischwitz a H. Goenaga-Infante, J. Anal. At. Spectrom., 2012, 27(7), 1084–1092.
- P. Lu, S. Huang, Y. Chen, L. Chiueh a D. Y. Shih, J. Food and Drug Anal., 2015, 23, 587–594.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
APWC: Measurement of nanoparticle components in sunscreens by multi-element screening function of spICP-MS
2017|Agilent Technologies|Postery
Measurement of nanoparticle components in sunscreens by multi-element screening function of spICP-MS Michiko Yamanaka1*, Takayuki Itagaki1, Steve Wilbur2 APWC2017 1. Agilent Technologies International Japan, Ltd C-02 2. Agilent Technologies Inc. Results and Discussion Time (s) Sunscreen B Time (s) Count…
Klíčová slova
sunscreen, sunscreencps, cpscount, countftpa, ftpaspicp, spicptime, timezno, znonps, npsparticle, particledissolved, dissolvedfunction, functionnormalized, normalizedmultielement, multielementfrequency, frequencyelements
Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS
2021|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Environmental, food, cosmetics, materials Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS Acquire NP data for up to 16 elements in Rapid Multi-Element Nanoparticle Analysis Mode Authors Michiko Yamanaka, Takayuki Itagaki Agilent Technologies, Japan Steve Wilbur Agilent Technologies, USA…
Klíčová slova
spicp, spicpuptake, uptakeelement, elementsunscreen, sunscreenacquisition, acquisitionpool, poolrinse, rinsenps, npsnanoparticle, nanoparticlezno, znoswimming, swimmingdata, datamulti, multinanoparticles, nanoparticlesparticle
Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ
2019|Agilent Technologies|Aplikace
Application Note Semiconductor Multielement Nanoparticle Analysis of Semiconductor Process Chemicals Using spICP-QQQ Characterization of Ag, Fe3O4, Al2O3, Au, and SiO2 NPs in TMAH in a single analytical run Author Yoshinori Shimamura, Donna Hsu, and Michiko Yamanaka Agilent Technologies, Inc. Introduction…
Klíčová slova
cps, cpsfrequency, frequencynanoparticle, nanoparticleparticle, particlecount, counttmah, tmahnormalized, normalizedsize, sizesec, secelement, elementsignal, signalintensity, intensitynanoparticles, nanoparticlestime, timenebulization
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
2022|Agilent Technologies|Příručky
Applications of ICP-MS Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing Application Compendium > Return to table of contents > Search entire document Table of contents ICP-MS and ICP-QQQ in the Semiconductor Industry 4 Agilent Has Three Decades of ICP-MS Experience Driving…
Klíčová slova
return, returncontents, contentsicp, icptable, tablecps, cpsppt, pptgas, gassemiconductor, semiconductorconc, concqqq, qqqbec, becdocument, documententire, entiresearch, searchmode