ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Multi-technique surface analysis for structural and chemical characterization of 2D materials

Aplikace | 2020 | Thermo Fisher ScientificInstrumentace
X-ray
Zaměření
Materiálová analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific

Souhrn

Význam tématu


2D materiály jako hexagonální boron nitrid (h-BN) patří k nejperspektivnějším systémům v elektronice a nanotechnologiích. Přesné mapování chemického složení a krystalové struktury na atomární tloušťce je klíčové pro vývoj nových heterostruktur a optimalizaci vlastností materiálů.

Cíle a přehled studie


Cílem bylo demonstrovat schopnost systému Nexsa Surface Analysis System v kombinaci XPS SnapMap a koherentní Raman spektroskopie pro lokalizaci, chemické rozlišení a strukturní identifikaci náhodně uspořádaných BN vloček na měděném subtrátu.

Použitá metodika a instrumentace


Vzorek: h-BN vločky připravené metodou CVD přímo na měděné fólii.
Instrumentace:
  • Thermo Scientific Nexsa Surface Analysis System
  • XPS SnapMap pro rychlé mapování intenzity N1s na celém povrchu
  • Vysoce rozlišené XPS spektrum B1s a N1s pro chemickou dekonvoluci
  • Koherentní Raman spektroskopie (532 nm) pro zjištění fázové struktury

Hlavní výsledky a diskuse


  • SnapMap N1s odhalil dvě chemické formy dusíku: organické a nitridové.
  • High-res XPS B1s identifikovalo boron nitride, boron oxynitride a stopové chloridové kontaminanty.
  • High-res XPS N1s potvrdilo přítomnost oxidovaných i nitridových složek.
  • Raman spektrum vykazuje E2g režim při 1366 cm−1, potvrzující hexagonální fázi h-BN.

Přínosy a praktické využití metody


Kombinace XPS SnapMap a Raman v jediném přístroji umožňuje:
  • Rychlou a neinvazivní identifikaci 2D vloček
  • Souběžné získání chemické a strukturní informace bez přesouvání vzorku
  • Efektivní mapování heterogenit povrchu

Budoucí trendy a možnosti využití


  • Analýza širší škály 2D materiálů a heterostruktur
  • Vylepšení prostorového a spektrálního rozlišení
  • Integrace s pokročilou datovou analýzou a strojovým učením

Závěr


Studie prokázala efektivitu integrovaného Nexsa systému pro komplexní charakterizaci atomárně tenkých 2D materiálů, nabízející rychlou lokalizaci, chemickou typizaci i strukturní potvrzení v jednom kroku.

Reference


  1. Novoselov K. S. a kol. Two-dimensional atomic crystals. Proceedings of the National Academy of Sciences 2005, 102(30):10451–10453.
  2. Novoselov K. S. a Neto A. C. Two-dimensional crystals-based heterostructures: materials with tailored properties. Physica Scripta 2012, T146:014006.
  3. Reich S. a kol. Resonant Raman scattering in cubic and hexagonal boron nitride. Physical Review B 2005, 71(20):205201.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Nexsa Surface Analysis System Brochure
Nexsa Surface Analysis System Brochure
2018|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Nexsa Surface Analysis System High-performance XPS with multi-technique integration Confident analysis Surface and interface analysis can be challenging. It requires instrumentation that can deliver results with confidence to inform the next steps. The Thermo Scientific™ Nexsa™ Surface Analysis System is…
Klíčová slova
xps, xpsnexsa, nexsasnapmap, snapmapmagcis, magcisavantage, avantagesource, sourceray, raysurface, surfaceraman, ramandual, dualmodule, modulereels, reelsarxps, arxpsflood, floodspectroscopy
Instrumentation for surface analysis
Instrumentation for surface analysis
2021|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Instrumentation for surface analysis Surface chemistry and thin film characterization X-ray photoelectron spectroscopy Quantitative, chemical identification of the surface X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS, also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis – ESCA) is a highly surface-sensitive, quantitative, chemical analysis…
Klíčová slova
xps, xpsspectroscopy, spectroscopymagcis, magcisescalab, escalabqxi, qximonatomic, monatomicsource, sourcesurface, surfaceion, iondepth, depthreels, reelsmicroprobe, microprobeenergy, energyfinancing, financingavantage
Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 Surface Analysis System
Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 Surface Analysis System
2021|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Nexsa G2 Surface Analysis System Fast travel to definitive surface analysis Definitive surface analysis Why the Nexsa G2 System XPS SnapMap Multi-technique Avantage Data System Definitive surface analysis Surface and interface analysis can be challenging. It requires instrumentation that can…
Klíčová slova
avantage, avantagesnapmap, snapmapxps, xpsdefinitive, definitivesurface, surfacesystem, systemray, raydata, dataspectroscopy, spectroscopyanalysis, analysismulti, multisource, sourcetechnique, techniquereels, reelscorrelative
Nexsa G2 Surface Analysis System
Nexsa G2 Surface Analysis System
2022|Thermo Fisher Scientific|Brožury a specifikace
Datasheet Nexsa G2 Surface Analysis System Fast travel to definitive surface analysis As a materials researcher, you need a surface analysis system that quickly and efficiently provides high-quality, accurate data collection so you can understand the composition of surfaces, thin…
Klíčová slova
xps, xpsalignment, alignmentsource, sourceholder, holdersystem, systemsample, samplemounting, mountingbacking, backingsoftware, softwareixr, ixrholders, holdersmaps, mapsdata, dataavantage, avantagespot
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.