Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS

Redefinujte analýzu vysoce čistých materiálů přímo v pevném stavu pomocí hmotnostního spektrometru s doutnavým výbojem Thermo Scientific™ Element™ GD Plus™ GD-MS. Tento přístroj je ideálním nástrojem pro analýzu kovů a hloubkové profilování vrstev s vysokou propustností a detekčními limity na úrovni nízkých ppb, a to jak v rutinních, tak výzkumných aplikacích.

Element GD Plus umožňuje stanovení téměř všech prvků periodické tabulky v vodivých i nevodivých materiálech se stejnou úrovní citlivosti a kvality dat.
Analýza kovů s nízkým bodem tání, jako je gallium, je zjednodušena díky speciálnímu workflow pro přípravu a měření vzorků, což z GD-MS činí spolehlivý standard pro jakoukoli kovovou analýzu.

Mimořádná citlivost a nízké detekční limity

• Detekce a kvantifikace téměř všech prvků ve vzorcích v tuhém stavu – často až na úrovni částic na miliardu (ppb).
• Unikátní zdroj iontů s vysokou účinností přenosu maximalizuje signál.
• Poměr signál/šum zaručuje dosažení sub-ppb detekčních limitů.
• Volitelná CNO volba umožňuje detekci C, N a O na sub-ppm úrovni bez ztráty rychlosti analýzy.
• Až 10× nižší výskyt polyatomických interferencí oproti statickým GD zdrojům.

Vysoká produktivita a nízké provozní náklady

Element GD Plus GD-MS je konstruován pro maximální přesnost při vysokém počtu vzorků, čímž výrazně snižuje náklady na analýzu.

Rychlý tok iontů – Fast-Flow Ion Source:

• Výměna vzorku za méně než 1 minutu.
• Krátká doba odčerpání: méně než 10 minut.
• Propustnost až 5 vzorků za hodinu.
• Minimální příprava vzorku – žádné kyselé čištění.
• Není nutné měření kalibračních standardů.

Navrženo pro rutinní provoz

• Lineární dynamický rozsah >10¹² umožňuje současně analyzovat hlavní prvky (%), stopové prvky (ppm) i ultra-stopové látky (ppb).
• Automatická křížová kalibrace mezi různými režimy detekce zaručuje konzistentní výsledky.
• Vakuová komora vzorku eliminuje riziko úniku mezi GD celou a vzorkem.
• Jednoskenová kvantifikace bez kalibrace pomocí standardní RSF metody.
• Nejlepší přesnost během krátké doby měření.

Vysoké hmotnostní rozlišení a spolehlivost

• Měření bez interferencí – jednoznačné analytické výsledky.
• Kombinace různých nastavení rozlišení v rámci jedné analýzy.
• Pevný štěrbinový design zajišťuje stabilitu a reprodukovatelnost.
• Filtrační čočka minimalizuje vliv silných signálů matrice na sousední píky.

Hloubkový profil s nanometrovým rozlišením

• Umožňuje stanovení koncentrací všech prvků od sub-ppm do 100 % bez kalibračních standardů.
• Rozlišení hloubky od několika nanometrů po stovky mikrometrů.
• Nastavitelný průměr anody pro pokročilé hloubkové profilování.
• Možnost řídit rychlost naprašování podle typu analýzy (objemová / hloubková).

Typické oblasti použití

• Letecký průmysl: super slitiny niklu, kompozity, povlaky, difuzní vrstvy
• Mikroelektronika: měď, oxid hlinitý
• Obnovitelné zdroje: křemíkové bloky, solární články
• Medicína, farmacie, potravinářství: nerezové oceli, slitiny

Technické specifikace

• Typ: GD hmotnostní spektrometr
• Dynamický rozsah: >10¹² s automatickou křížovou kalibrací
• Rozlišení: pevné hodnoty ≥300, ≥4 000, ≥10 000
• Stabilita hmotnosti: 25 ppm / 8 hodin
• Napájení: 3fázové, 230/400 V ±10 %, 50/60 Hz, 32 A/fáze
• Citlivost: >1 × 10¹⁰ cps (1.6 × 10⁻⁹ A) pro Cu při středním rozlišení
• Propustnost: až 5 vzorků/hod