ICSPI nGauge AFM mikroskop

Firma ICSPI byla založena v roce 2007 v Kanadě s cílem přinést na trh metrologii v nanoměřítku dostupnou pro každého, která bude robustní a zároveň se bude jednoduše obsluhovat.

Po desetiletém výzkumu v rámci kanadské „University of Waterloo“ se firmě ICSPI podařilo komercializovat ve světě první jednočipový mikroskop atomárních sil. A tak byl v roce 2017 uveden na trh nGauge AFM. nGauge překonal všechna zažitá očekávání od AFM a obecně metrologie v nanoměřítku, když přinesl nové řešení, kdy všechny skenery a senzory jsou integrovány na jediný CMOS čip o rozměrech 1 x 1 mm!

NGauge AFM je využíván vědci, výzkumnými pracovníky a inženýry na univerzitách, ve vládních institucích i v komerční sféře, a to napříč všemi velikostmi těchto institucí. Využití zahrnuje mnoho nejrůznějších aplikací jak z oblasti výzkumu a výuky, tak i v oblasti průmyslu, kde se jedná především o kontrolu kvality.

HPST - analýza pomocí jednočipového mikroskopu atomárních sil ICSPI nGauge

Dostupné jsou aplikační listy pro tyto oblasti:

• Biologie a life science
• nanoimprint a litografie
• měření tloušťky filmu
• kovy a minerály
• polovodičová zařízení a mikrovýroba
• výzkum polymerů a kompozitů

Základní technické parametry:

Scanning:

• Scan types: Topography, Phase

• Scan size: 20 μm × 20 μm

• Scan size: (25 stitched) 100 μm × 100 μm

• XY Scanner Resolution: <0.5 nm

• Vertical Scan Range: 10 μm

• Noise floor: <0.5 nm

Resolution and Speed:

• Quick scan: 16 sec
• Routine scan: 80 sec
• High-resolution scan: 5 min
• Max resolution: 1024 x 1024 pixels

Samples:

• Max sample size: 100 mm x 50 mm x 20 mm
• Max sample weight: 1 kg