<p><strong>Jak kvalitní je svár nebo povrchová úprava mého nebo dodaného výrobku? Vznikl defekt chybným zacházením, nebo měl výrobek skrytou vadu materiálu? To jsou příklady otázek, které velmi rychle dokáže vyřešit tým univerzitního výzkumného ústavu CXI TUL. Pomoc při řešení konkrétních problémů ve výrobě, konzultace, analýzy a další služby špičkového vědeckého pracoviště za minimální náklady nabízí nyní firmám díky projektu SUPPORT4SME. Nabídka se týká malých a středních firem do 250 zaměstnanců z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a také ze Saska.</strong></p><h4><strong>Podnik hradí pouze DPH</strong></h4><p>„<i>Řada menších firem má dobrý nápad nebo konkrétní technický problém, ale chybí jim přístup k potřebnému vybavení, expertům nebo laboratorním analýzám. Právě v tom jim může projekt <strong>SUPPORT4SME </strong>výrazně pomoci. Chceme, aby firmy věděly, že se na nás<strong> mohou obrátit i s velmi praktickými problémy z každodenní výroby nebo vývoje</strong></i>,“ říká <strong>řešitel projektu Adam Blažek</strong> z Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci.&nbsp;</p><p>Službu na míru si mohou firmy zadat na <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://support4sme.cxi.tul.cz/"><strong>online platformě projektu</strong></a>. Pokud splní podmínky programu, <strong>hradí pouze DPH z reálné ceny služby</strong>. Investice do výzkumu tak pro malé a střední podniky přestává být významnou finanční překážkou.</p><h4><strong>Analýza jako opora pro soudní spor</strong></h4><p>Podporu projektu využila například stavební firma<strong> Tembo brand</strong>, která řešila prasklou hřídel čelního kloubového nakladače. Potřebovala zjistit, zda je příčinou chyba obsluhy, nebo vada samotného výrobku. Obrátila se proto na CXI.</p><p>Detailní analýzy potvrdily výrobní vadu materiálu a staly se součástí oficiálního znaleckého posudku pro soudní řízení. Pro podobné případy má univerzita k dispozici <strong>elektronový mikroskop Helios 5 PFIB CXe</strong>, který <strong>umožňuje velmi podrobně zkoumat kvalitu materiálů, povrchové úpravy, slitiny, svary i další defekty</strong>. Mikroskop za více jak 45 milionů korun je unikátní tím, že vědci s ním mohou provádět i mikroskopické „řezy“ do zkoumaného materiálu a díky celé škále detektorů provádět komplexní fyzikální i chemickou analýzu složení vzorku.</p><p>Firmě odborná analýza přinesla nejen vysvětlení příčiny problému, ale také silný podklad pro reklamaci a další právní kroky. „<i>Buď bych tento stroj musel finančně náročně opravit, nebo bych s ním jezdil dál, což by pochopitelně představovalo bezpečnostní riziko nejen pro mě. Reklamaci teď máme prokázanou, dodavatel nám dodal zmetek a zřejmě se budeme soudit</i>,“ popisuje <strong>Jakub Ševčík z firmy Tembo brand</strong>.</p><blockquote><p><strong>Video: </strong><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.youtube.com/watch?v=f5WXnKT2_tE&amp;t=2s"><strong>Špičkový mikroskop Helios pomáhá malým a středním firmám&nbsp;</strong></a></p></blockquote><h4><strong>Pomoc při vývoji běžkařských vosků</strong></h4><p>Projekt SUPPORT4SME pomohl také firmě<strong> Titan Gliders</strong>, která na TUL našla <strong>odborné zázemí pro vývoj běžkařských vosků</strong>. Pomocí moderních analytických metod vědci zkoumají vlastní syntetizované přísady i konkurenční komerční vosky, a firma tak získává důležitá data pro další vývoj.&nbsp;</p><p>„<i>Spolupráce s CXI TUL se nám vyplatila jednoznačně. Víme přesně, kam napřít síly, bez takového zázemí bychom se jen těžko obešli. Navíc jsme díky tomu získali podporu českého biatlonu, Českého olympijského výboru i Libereckého kraje. Pro firmu, která začínala od nuly a byla financována z vlastních zdrojů, to má zásadní význam,</i>“ říká <strong>Petr Tischer ze společnosti Titan Gliders</strong>.&nbsp;</p><h4><strong>Pomoc, která firmám šetří peníze</strong></h4><p>Projekt SUPPORT4SME nabízí tyto služby a množství dalších, také konzultace odbornic a odborníků, kteří disponují špičkovým laboratorním vybavením, a pomoc při řešení konkrétních technologických a materiálových problémů. Za cíl si klade podpořit v česko-saském regionu více než 130 podniků, zatím tyto služby využilo necelých třicet podniků.</p><p>„<i>Nejde jen o podporu velkých inovačních projektů. Často stačí vyřešit jeden konkrétní problém, ověřit vlastnosti materiálu nebo získat odborný pohled na technologický postup. I taková pomoc může firmě ušetřit čas, peníze a otevřít cestu k dalšímu rozvoji</i>. <i>Zástupci firem mnohdy ani netuší, že tu jsme a s&nbsp;čím vším jim můžeme pomoci. Přitom u nás mají k&nbsp;dispozici nejnovější přístrojové vybavení za naprosto zanedbatelné ceny. Ať firmy neváhají a obrátí se na nás s&nbsp;konkrétními dotazy, které je trápí nebo zajímají,</i> “ uzavírá <strong>Adam Blažek</strong>.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"></p><h3><strong>SUPPORT4SME</strong></h3><p><strong>Projekt propojuje malé a střední podniky z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a ze Saska s aplikovaným výzkumem. Technická univerzita v Liberci jej realizuje ve spolupráci s Technickou univerzitou v Chemnitz v rámci programu Interreg Česko–Sasko 2021–2027. Firmy díky němu mohou využít odborné služby aplikovaného výzkumu, individuální konzultace a analýzy i workshopy a školení. Projekt jim otevírá přístup k mezioborové síti expertů a špičkovému výzkumnému zázemí, které mohou využít při zavádění inovací do praxe.</strong></p><blockquote><p><strong>Support4sme: </strong>Přeshraniční podpora zapojení malých a středních podniků do materiálového výzkumu budoucnosti.</p><p><strong>Cíl: </strong>Společné centrum přeshraniční spolupráce TU Liberec a TU Chemnitz podporuje a implementuje inovace do malých a středních podniků v regionu Česko – Sasko.<br>SUPPORT4SME nabízí mezioborovou síť expertů, kteří vám pomohou s rozvojem vaší firmy.</p><p><strong>Finanční podpora EU (EFRR): </strong>2.442.017,81 €</p><p><strong>Leadpartner:</strong> CXI TUL</p><p><strong>Partner:</strong> Technická univerzita v&nbsp;Chemnitz</p><p><strong>Mgr. Adam Blažek, MBA – řešitel</strong><br><a href="mailto:adam.blazek@tul.cz">adam.blazek@tul.cz</a><br>+420 730 595&nbsp;011</p></blockquote><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"></p>

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

<p><strong>Soutěž o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie byla i letos nedílnou součástí lednového zasedání Hlavního výboru </strong><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/7"><strong>Spektroskopické společnosti</strong></a><strong>. Letošní ročník hostila tradičně </strong><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/15"><strong>Univerzita Pardubice</strong></a><strong> a do soutěže bylo přihlášeno dvacet soutěžících, z toho sedm v kategorii A a třináct v kategorii B. Počet přihlášených prací tak znovu potvrdil, že tato soutěž zůstává pro mladé autory atraktivní a stabilně vyhledávanou příležitostí k odborné prezentaci.&nbsp;</strong></p><p>Nad průběhem soutěže dohlížela <strong>čestná předsedkyně doc. Ing. Anna Krejčová, Ph.D.</strong> Samotný program pak dobře ukázal šíři současného spektroskopického výzkumu, přičemž jednotlivé směry a metody byly zastoupeny poměrně vyrovnaně. Soutěžní blok navíc nepředstavoval pouze přehled jednotlivých výsledků, ale poskytl i přehled o rozmanitosti metodických přístupů a aplikací současné spektroskopie.</p><p>V <strong>kategorii A</strong>, zaměřené na <strong>diplomové práce</strong>, porota udělila <strong>první místo Ing. Janě Knytlové</strong> z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/11"><strong>Vysoké školy chemicko-technologické v Praze</strong></a> za práci na téma „<i><strong>Ambientní hmotnostní spektrometrie pro analýzu selektivních modulátorů androgenního receptoru</strong></i>“. <strong>Druhé místo získal Filip Jozefov </strong>z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/62"><strong>Ústavu organické chemie a biochemie AV ČR</strong></a> za práci „<i><strong>Predikce molekul z vícestupňové hmotnostní spektrometrie pomocí grafových neuronových sítí a AI modelu DreaMS</strong></i>“ a <strong>třetí místo</strong> pak <strong>Mgr. Lucie Březinová</strong> z <strong>Ústavu analytické chemie AV ČR</strong> za práci „<i><strong>Začlenění stříbrných nanostruktur do kapilárního prostředí pro detekci povrchem zesílenou Ramanovu spektrometrii</strong></i>“.</p><p>V <strong>kategorii B</strong> publikovaných prací obsadil <strong>první místo Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila</strong> z Matematicko-fyzikální fakulty Univerzity Karlovy v Praze za práci „<i><strong>Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications</strong></i>“. Na <strong>druhém místě</strong> se umístila <strong>Mgr. Markéta Bosáková, Ph.D</strong>. z Ústavu chemie <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/12"><strong>Masarykovy univerzity</strong></a> za práci „<i><strong>Acoustic spectroscopy of laser-induced plasma</strong></i>“ a <strong>třetí místo</strong> obsadil <strong>Mgr. et Mgr. Vít Pavelka, Ph.D.</strong> z Ústavu analytické chemie AV ČR za práci „<i><strong>Povrchem zesílená Ramanova spektroskopie snadno a spolehlivě</strong></i>“.</p><p>Soutěž opět potvrdila svou roli důležité platformy pro prezentaci kvalitních prací mladých autorů a pro odbornou diskusi napříč spektroskopickými obory. Poděkování patří všem soutěžícím za předložené práce, hodnotitelům za pečlivé posouzení příspěvků a oceněným autorům náleží blahopřání k dosaženým výsledkům.</p><h3><strong>Kategorie B - 1. místo</strong></h3><h4><strong>Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications</strong></h4><ul><li><strong>Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila </strong>(Department of Chemical Physics and Optics, Faculty of Mathematics and Physics, Charles University, Prague, Czech Republic)</li><li><strong>E-mail: </strong>marius.chirita@matfyz.cuni.cz</li></ul><h5><strong>List of Submitted Works:</strong></h5><ol><li>Chirita Mihaila, M.C., Koutenský, P., Moriová, K. and Kozák M. Light-based electron aberration corrector. Nat. Photon. (2025). <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.">https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.</a></li><li>Chirita Mihaila, M.C., Laštovičková Streshkova, N., and Kozák, M. (2025). Light-Based Chromatic Aberration Correction of Ultrafast Electron Microscopes. Physical Review Letters, 134(20), 203802.</li><li>Chirita Mihaila, M. C., and Kozák, M. (2025). Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes. Optics Express, 33(1), 758-775.</li></ol><h5><strong>Summary</strong></h5><p>Recent advances in ultrafast electron microscopy have opened a new regime for time-resolved electron spectroscopy, where the phase and energy of free-electron wavepackets can be controlled with femtosecond lasers. However, achieving true spectroscopic resolution in both space and time has been fundamentally constrained by electron-optical aberrations, particularly spherical and chromatic aberration, and by the intrinsic energy spread of the electron source, all of which distort the probe wavefront, degrade energy resolution, and limit quantitative spectroscopic analysis.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg" alt="Marius Constantin Chirita Mihaila: Figure1: Graphical visualization of light-based (red) aberration correction of electrons (blue)." srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg 221w," sizes="100vw" width="1024" height="724"></p><p>The submitted collection of works presents a comprehensive experimental and theoretical framework for light-based aberration correction in electron beams using structured optical fields. Together, these studies establish a new approach in which laser–electron interaction adaptively shapes the electron wavefront and energy distribution. In the first paper (Nature Photonics, 2025), we experimentally demonstrate the correction of third-order spherical aberration in a cylindrically symmetric electron lens through interaction of electrons with a tailored Laguerre–Gaussian optical field. This optical field acts as a light-based electron aberration corrector that compensates the intrinsic positive spherical aberration of electromagnetic lenses, reducing the aberration coefficient from approximately 2.5 m to near zero. The second paper (Physical Review Letters, 2025) extends the concept to chromatic aberration correction, showing that an optical field can also compensate for aberration caused by the energy dispersion in an electron pulse. This approach paves the way for light-assisted, lossless monochromatization of the electron beam, producing narrowband and phase-stable electron pulses ideally suited for high-resolution electron energy-loss spectroscopy and photon-induced near-field electron microscopy. The third paper (Optics Express, 2025) provides the theoretical design and modelling framework for integrating such light-based correctors into next-generation ultrafast electron spectroscopic instruments, demonstrating that optical-field correction can be implemented compactly and dynamically within standard electron columns near the electron cross-over.</p><p>Light-based corrected electron beams exhibit enhanced spatial and temporal (energy) coherence, maintaining a well-defined phase relationship across the beam spectrum and enabling high-fidelity spectroscopic measurements. The demonstrated correction of spherical and chromatic aberrations represents a crucial step toward full optical control of electron beams. In particular, the light–electron coupling shown in the second paper (Physical Review Letters, 2025) offers the conceptual basis for light-assisted monochromatization, in which the electron energy spread could be dynamically reduced without any loss. Although this process remains to be experimentally validated, the present results show that light-based aberration correction provide a viable route toward next-generation, quantitatively precise, high-resolution spectroscopy of materials, nanostructures, and ultrafast dynamic processes.</p>

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B

<p><strong>Zveme Vás na odborný seminář zaměřený na aktuální témata v oblasti bezpečnosti potravin, obalových materiálů a moderních analytických metod. Seminář se uskuteční ve čtvrtek 21. května od 10. hodin v SPACES Parkview, Pujmanové 1753/10a, 140 00 Praha 4.</strong></p><h3><strong>Registrace</strong></h3><blockquote><p class="cke-user_style-important"><strong>Registrujte se prosím e-mailem na: </strong><a href="mailto:Irena_Lofflerova@waters.com"><strong>Irena_Lofflerova@waters.com</strong></a></p><ul><li>Kapacita semináře je omezena.&nbsp;</li><li>Seminář je bezplatný.&nbsp;</li></ul></blockquote><h3><strong>Program</strong></h3><h5><strong>10:00 – 10:20 Zahájení semináře a úvod</strong></h5><ul><li>Waters</li></ul><h5><strong>10:20 – 10:50 Komplexní pohled na PFAS v bezpečnosti potravin: výskyt, zdroje a regulace</strong></h5><ul><li>Darina Dvořáková, VŠCHT Praha</li></ul><h5><strong>10:50 – 11:20 Analýza organických polutantů pomocí LC-MS v pitných a balených vodách</strong></h5><ul><li>Václav Šístek, ALS Czech Republic</li></ul><h5><strong>11:20 – 11:40 Kontaminanty v potravinách dle NAŘÍZENÍ KOMISE (EU) 2023/915 pohledem laboratoře VÚPS</strong></h5><ul><li>Marek Pernica, Výzkumný ústav pivovarský a sladařský Brno</li></ul><h5><strong>11:40 – 12:00 Kontrola jakosti medu</strong></h5><ul><li>Klára Bartáková, Veterinární univerzita Brno</li></ul><h5><strong>12:00 – 12:45 </strong>Přestávka na občerstvení a diskusi</h5><h5><strong>12:45 – 13:05 Výzvy a troubleshooting v LC–MS/MS a přípravě vzorků tučných potravin pro stopovou analýzu obalových kontaminantů</strong></h5><ul><li>Adam Vavrouš, Státní zdravotní ústav</li></ul><h5><strong>13:05 – 13:25 Od legislativních požadavků k laboratorní praxi: LC-MS/MS jako nástroj kontroly krmiv</strong></h5><ul><li>Libor Jaša, ÚKZÚZ Brno</li></ul><h5><strong>13:25 – 13:45 Aplikace NMR metabolomiky v hodnocení kvality a autenticity potravin</strong></h5><ul><li>Jaroslav Havlík, Česká zemědělská univerzita v Praze</li></ul><h5><strong>13:45 Ukončení semináře</strong></h5><p><strong>Těšíme se na Vaši účast!</strong></p>

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Potraviny

Vody

Popularizace

Věda a výzkum

Video

Článek

Nejbližší akce

je dobrovolná organizace vědeckých, vědecko-pedagogických a odborných pracovníků oboru spektroskopie, příp. právnických osob, zabývajících se vědeckou a aplikační činností v tomto oboru, sdružených ke společné činnosti. SSJMM byl založena roku 1949.

Spektroskopická společnost Jana Marka Marci

Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci, známý také jako CXI TUL, byl založen v roce 2009. Naším posláním je podporovat dlouhodobou vizi TUL v oblasti spolupráce s průmyslem a vytváření inovací.

CXI TUL

Firmu Waters založil v roce 1958 pan James Waters. Od té doby se společnost Waters specializuje na kapalinovou chromatografii a hmotnostní spektrometrii. Divize TA Instruments působí na poli termální analýzy. V České republice je Waters zastoupen přímou pobočkou, která sídlí v Praze.

Waters Gesellschaft

Cordouan Technologies Walis analyzátor zeta potenciálu

Wallis je analyzátor zeta potenciálu s vysokým rozlišením určený pro charakterizaci koloidního náboje nanočástic využívající principu Laserové Dopplerovské elektroforézy (LDE).

<p><strong>Jedná se o ideální nástroj pro studium stability koloidních suspenzí a elektroforetických vlastností nanočástic.</strong></p>
<p>Příprava vzorků je jednoduchá <strong>bez rizika vzniku bublin</strong>, součástí přístroje jsou <strong>vysoce odolné uhlíkové elektrody</strong>, měření <strong>zamezuje výskytu artefaktů</strong> díky konstrukci elektrod (bez elektroosmózy). Vzorkovací frekvence při měření je <strong>30krát vyšší než u jiných výrobců</strong>, což umožňuje měření s rozlišením <strong>až 0,1 mV</strong>! </p>
<h5><strong>Klíčové vlastnosti</strong></h5>
<ul>
<li><strong>Rozsah velikosti částic</strong> (1 nm – 100 µm)</li>
<li><strong>Rozsah zeta potenciálu</strong> ±500 mV</li>
</ul>


Cordouan Technologies Amerigo analyzátor velikosti částic a zeta potenciálu

Amerigo je analyzátor suspenzí nanočástic měřící současně distribuci velikosti nanočástic (DLS) a zeta potenciál (LDE) ve vysokém rozlišení, přesně a rychle.


<p>Kombinací těchto dvou přístupů <strong>lze získat přesné informace o stabilitě suspenzí a predikovat jejich chování</strong>. Měření probíhají ve standardizované cele (<strong>kyveta 10x10 mm</strong>) nebo pomocí vyměnitelných měřících hlav in situ nebo v tenké vrstvě. V tomto přístroji se snoubí <strong>tři přístupy</strong>: (i) analýza distribuce velikosti nanočástic ve dvou úhlech rozptylu (<strong>dopředný rozptyl 17° a zpětný rozptyl 170 °C</strong>), (ii) měření zeta-potenciálu s vysokým rozlišením (<strong>až 0,1 mV</strong>) a (iii) možnost rozšíření o měřící hlavu pro bezkontaktní měření (<strong>in situ remote optical head</strong>) či speciální měřící hlavu pro tmavé/koncentrované vzorky (<strong>DTC head</strong>).</p>
<p>Přístroj Amerigo umožňuje kinetická měření <strong>s rozlišením až 200 ms</strong>, která jsou vhodná <strong>pro sledování syntézy nanočástic nebo stability suspenzí v reálném čase</strong>. Příprava vzorků pro měření zeta potenciálu je jednoduchá <strong>bez rizika vzniku bublin</strong> a vysoce odolné uhlíkové elektrody <strong>zamezují výskytu artefaktů</strong> (bez elektroosmózy). Pokročilý <strong>software AmeriQ</strong> obsahuje unikátní matematické algoritmy umožňující efektivní analýzu polydisperzních vzorků (<strong>Pade Laplace, SBL</strong>). Lze programovat kinetické experimenty při stanovení zeta potenciálu <strong>v závislosti na pH, teplotě či času měření</strong>. Součástí tohoto software je <strong>rozsáhlá databáze rozpouštědel</strong> a simulační mód umožňující predikci chování komplexních vzorků. Výsledky měření lze exportovat v různých formátech.</p>
<h5><strong>Klíčové vlastnosti</strong></h5>
<ul>
<li><p><strong>Rozsah velikostí částic DLS</strong>: 0,5 nm – 10 μm</p>
</li>
<li><p><strong>Rozsah velikosti částic LDE</strong>: 1 nm – 100 µm</p>
</li>
<li><p><strong>Rozsah zeta potenciálu</strong> ±500 mV</p>
</li>
<li><p><strong>Rozsah teplot</strong>: 10-70 °C</p>
</li>
<li><p><strong>Rozsah pH</strong>: 1-14 (v závislosti na materiálu kyvety)</p>
</li>
<li><p><strong>Typický objem vzorku</strong>: pouze 750 μl</p>
</li>
</ul>


Anton Paar SurPASS 3 Elektrokinetický analyzátor pro analýzu pevného povrchu

SurPASS 3 je řada plně automatizovaných analyzátorů zeta potenciálu makroskopických pevných látek za reálných podmínek využívajích klasickou metodu měření proudového potenciálu a toku proudu pro přímou analýzu zeta potenciálu povrchu. Zeta potenciál je klíčovým parametrem pro analýzu povrchových vlastností a vývoj nových specializovaných materiálů. 

<section id="product-item-description"><div><section id="product-item-description"><div><section id="product-item-description"><div><section id="product-item-description"><div><section id="product-item-description"><div><p>Řada přístrojů <strong>SurPASS 3</strong> přináší <strong>plně automatizovanou analýzu zeta potenciálu makroskopických pevných látek za reálných podmínek</strong>. Tyto elektrokinetické analyzátory využívají <strong>klasickou metodu měření proudového potenciálu</strong> a&nbsp;<strong>toku proudu</strong> pro přímou analýzu zeta potenciálu povrchu. <strong>Zeta potenciál</strong> souvisí s&nbsp;povrchovým nábojem na rozhraní pevná látka / kapalina a<strong>&nbsp;je klíčovým parametrem pro analýzu povrchových vlastností </strong>a&nbsp;vývoj nových specializovaných materiálů.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_cover_front_037af6c3b7.jpg" alt="Anton Paar CZ: Anton Paar SurPASS 3 - cover front.jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_cover_front_037af6c3b7.jpg 245w," sizes="100vw" width="920" height="480"></p><h3><strong>Model: SurPASS 3 ECO</strong></h3><div><ul><li>Elektrokinetický analyzátor základní úrovně pro rutinní analýzu povrchů</li><li>Výsledky jednobodové analýzy zeta potenciálu za méně než 2 minuty</li><li>Možnosti modernizace pro nadčasovost investice</li></ul><h3><strong>Model: SurPASS 3 Standard</strong></h3><div><ul><li>Moderní elektrokinetický analyzátor pro pevné povrchy</li><li>Plně automatizovaná analýza zeta potenciálu na makroskopických pevných površích</li><li>Automatická detekce izoelektrického bodu</li><li>Časově závislý záznam kinetiky adsorpce kapaliny na pevný povrch</li></ul></div></div></div></section></div></section></div></section><h3><strong>Klíčové charakteristiky</strong></h3><div><div><div><div><div><h4><strong>Jednoduchá analýza náboje na pevném povrchu</strong></h4><p>Řada <strong>SurPASS 3 </strong>umožňuje provádět přímou <strong>analýzu zeta potenciálu</strong> na <strong>rozhraní pevné a kapalné fáze prostřednictvím měření proudového potenciálu a toku proudu</strong>. Díky tomu získáte přístup k úplnému rozsahu měření zeta potenciálu technických materiálů až k několika milivoltům s bezprecedentní spolehlivostí a opakovatelností. Získejte okamžitý přístup k informacím o náboji na povrchu, aniž byste museli provádět sofistikované vyhodnocení, nebo využívat znalostí expertů.&nbsp;</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_application_range_43660ee0dc.jpg" alt="Anton Paar CZ - Anton Paar SurPASS 3 - application range.jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_application_range_43660ee0dc.jpg 245w," sizes="100vw" width="920" height="480"></p><div><h4><strong>Řešení měření od malých částic po velké plochy</strong></h4><p>Široká škála typů měřicích cel přístroje <strong>SurPASS 3</strong> pokryje vše: propracované měřicí cely umožňují používat vzorky jakékoli geometrie od prášků, vláken až po ploché pevné materiály. Specifické měřící cely pro kontaktní čočky, membrány z&nbsp;dutých vláken,&nbsp;flexibilní hadičky, injekční stříkačky a vialky umožňují provádět analýzu povrchového náboje i u vzorků s komplexní geometrií. Funkce „zapojení a spuštění“ umožňuje provádět rychlou výměnu měřicích cel. Software automaticky rozpoznává měřicí cely a zobrazuje <strong>zeta potenciál.</strong></p></div><div><h4><strong>Plně automatická měření za méně než dvě minuty</strong></h4><p><strong>Intuitivní software SurPASS 3 </strong>vás provede měřením a zobrazuje všechny klíčové parametry v reálném čase. <strong>Řada SurPASS 3</strong> <strong>poskytuje výsledky měření zeta potenciálu za méně než dvě minuty</strong> a <strong>maximalizuje množství měřených vzorků</strong>. <strong>SurPASS 3</strong> vám umožňuje studovat závislosti zeta potenciálu na pH zcela automaticky a měří izoelektrický bod pro hlubší pochopení chemických vlastností vašeho vzorku. Kinetiku adsorpce kapalin na pevných površích je možné sledovat i v reálném čase na površích modelu a na vašem skutečném <strong>vzorku.</strong></p><div><h4><strong>Modulární systém přizpůsobený na míru vašim potřebám</strong></h4><p>Řada<strong> SurPASS 3 </strong>je stejně univerzální jako vaše aplikace. K dispozici jsou specializovaná řešení pro membránové aplikace, biomateriály, kosmetiku, detergenty a polovodiče. Ať už pracujete na porézních materiálech, například membránách, nebo neporézních filmech a destičkách, částicích &gt; 25 µm, granulovaném materiálu, vláknech nebo materiálech, které silně bobtnají nebo jsou vodivé, máme pro vás řešení, které vás nebude nijak omezovat. Modulární nastavení přístroje a měřicích cel vám umožňuje jednoduše rozšiřovat analýzu zeta potenciálu tak, aby byly uspokojeny i vaše budoucí potřeby.</p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_accessories_2_ac4d266c98.jpg" alt="Anton Paar CZ: Anton Paar SurPASS 3 - accessories 2.jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_accessories_2_ac4d266c98.jpg 245w," sizes="100vw" width="920" height="480"></p></div></div></div></div></div></div></div><h3><strong>Technické specifikace SurPASS 3 / SurPASS 3 Eco</strong></h3><h4><strong>Rozsah měření</strong></h4><ul><li><strong>Proudový potenciál:&nbsp;</strong>±2000 mV ± (0,2 % + 4 μV)</li><li><strong>PTokový proud</strong>: ± 2 mA ± (0.2 % + 1 pA)</li><li><strong>Odpor cely:</strong> 5 Ω až 20 MΩ ± (2 % + 0,5 Ω)</li><li><strong>Měření tlaku:&nbsp;</strong>3500 mbar ± (0.2 % + 0.5 mbar) Zdroj externího tlaku (stlačený N₂) je nutný pro diferenciální tlak &gt; 1200 mbar / 1200 mbar ± (0.2 % + 0,5 mbar)</li><li><strong>Hodnota pH:</strong> pH 2 až pH 12</li><li><strong>Vodivost:&nbsp;</strong>0,1 mS/m až 1 000 mS/m</li><li><strong>Teplota:&nbsp;</strong>20 °C až 40 °C, K dispozici je možnost regulace teploty</li></ul><h4><strong>Požadavky na velikost vzorku</strong></h4><ul><li><strong>Porézní filmy, fólie nebo destičky:</strong> Obdélníkový tvar: 20 mm x 10 mm (max. tloušťka: 2 mm), Ve tvaru kruhu: průměr 14 mm nebo 15 mm (max. tloušťka: 2 mm)</li><li><strong>Neporézní filmy, fólie nebo destičky:</strong><ul><li>Obdélníkový tvar: 20 mm x 10 mm (max. tloušťka: 2 mm) nebo min. 35 mm x 15 mm (max. tloušťka: 40 mm)</li><li>Ve tvaru kruhu: průměr 14 mm nebo 15 mm (max. tloušťka: 2 mm) nebo průměr min. 17 mm (max. tloušťka: 40 mm)</li></ul></li><li><strong>Částice:</strong> Velikost částice: min. 25 µm</li><li><strong>Vlákna:&nbsp;</strong>Min. 100 mg</li><li><strong>Látky:&nbsp;</strong>Min. 30 mm x 30 mm</li><li><strong>Membrány z dutých vláken:&nbsp;</strong>Délka: min. 170 mm</li><li><strong>Keramické membrány:&nbsp;</strong><ul><li>Plochá destička: průměr 14 mm</li><li>Jednokanálkové: vnější průměr 10 mm nebo 13 mm</li><li>Vícekanálkové: vnější průměr 25 mm nebo 30 mm</li></ul></li><li><strong>Válcové vzorky:&nbsp;</strong>Výška: max. 4 palce, Průměr: 1 palec</li><li><strong>Ohebná hadice:&nbsp;</strong>Délka: min. 100 mm, Vnější průměr: 0.7 mm až 6 mm</li><li><strong>Předplněné stříkačky:&nbsp;</strong>Komora stříkačky typu „1 ml, dlouhá“ (ISO 11040-4)</li><li><strong>Vialky:&nbsp;</strong>2R/4R vialky (formát ISO), vnější průměr 16 mm</li><li><strong>Technické požadavky</strong></li><li><strong>Napájení:&nbsp;</strong>AC 115 až 230 V, 50 až 60 Hz, 200 VA</li><li><strong>Rozměry:&nbsp;</strong><ul><li>Celkové: 600 mm x 432 mm x 245 mm (H x Š x V)</li><li>Půdorys: 612 mm x 536 mm (H x Š)</li><li>Světlá výška: 360 mm:<strong>&nbsp;</strong>360 mm</li></ul></li><li><strong>Hmotnost:&nbsp;</strong>26 kg / 24 kg</li><li><strong>Softwarové požadavky:</strong><ul><li>Microsoft Windows® 7 32/64 bit s aktualizací SP1 nebo novější. Windows 7 Starter není podporován. Microsoft Windows® 8 32/64 bitMicrosoft Windows® Server 2008/2008 R2 32/64 bit s aktualizací Service Pack 2 nebo novější je nutný pro Windows Server 2008Microsoft Windows® 10 32/64 bit</li><li>Intel® Core™ i3 CPU</li><li>4 GB RAM (závisí na operačním systému)</li><li>20 GB volného místa na pevném disku</li><li>1 volný USB port</li><li>Rozlišení monitoru min 1024 x 768 se zobrazením barev True Color (32 bitů)</li></ul></li></ul><h3><strong>Normy (oba modely)</strong></h3><p><strong>ISO -</strong> <span>13100:2024</span></p><p><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_SW_detail_7e2923e104.jpg" alt="Anton Paar CZ: Anton Paar SurPASS 3 - SW detail.jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_CZ_Anton_Paar_Sur_PASS_3_SW_detail_7e2923e104.jpg 245w," sizes="100vw" width="920" height="480"></p><blockquote><p><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/products?category=310&amp;manufacturerItems=444&amp;search=poremaster"><strong>Produkty z kategorie Testování materiálů</strong></a><strong> od Anton Paar</strong></p></blockquote></div></section></div></section>

Produkty z kategorie Analyzátory zeta potenciálu/povrchového náboje - strana 1

Mohlo by Vás zajímat

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B