Jak kvalitní je svár nebo povrchová úprava mého nebo dodaného výrobku? Vznikl defekt chybným zacházením, nebo měl výrobek skrytou vadu materiálu? To jsou příklady otázek, které velmi rychle dokáže vyřešit tým univerzitního výzkumného ústavu CXI TUL. Pomoc při řešení konkrétních problémů ve výrobě, konzultace, analýzy a další služby špičkového vědeckého pracoviště za minimální náklady nabízí nyní firmám díky projektu SUPPORT4SME. Nabídka se týká malých a středních firem do 250 zaměstnanců z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a také ze Saska.<h4>Podnik hradí pouze DPH</h4>„Řada menších firem má dobrý nápad nebo konkrétní technický problém, ale chybí jim přístup k potřebnému vybavení, expertům nebo laboratorním analýzám. Právě v tom jim může projekt SUPPORT4SME výrazně pomoci. Chceme, aby firmy věděly, že se na nás mohou obrátit i s velmi praktickými problémy z každodenní výroby nebo vývoje,“ říká řešitel projektu Adam Blažek z Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci.&nbsp;Službu na míru si mohou firmy zadat na <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://support4sme.cxi.tul.cz/">online platformě projektu</a>. Pokud splní podmínky programu, hradí pouze DPH z reálné ceny služby. Investice do výzkumu tak pro malé a střední podniky přestává být významnou finanční překážkou.<h4>Analýza jako opora pro soudní spor</h4>Podporu projektu využila například stavební firma Tembo brand, která řešila prasklou hřídel čelního kloubového nakladače. Potřebovala zjistit, zda je příčinou chyba obsluhy, nebo vada samotného výrobku. Obrátila se proto na CXI.Detailní analýzy potvrdily výrobní vadu materiálu a staly se součástí oficiálního znaleckého posudku pro soudní řízení. Pro podobné případy má univerzita k dispozici elektronový mikroskop Helios 5 PFIB CXe, který umožňuje velmi podrobně zkoumat kvalitu materiálů, povrchové úpravy, slitiny, svary i další defekty. Mikroskop za více jak 45 milionů korun je unikátní tím, že vědci s ním mohou provádět i mikroskopické „řezy“ do zkoumaného materiálu a díky celé škále detektorů provádět komplexní fyzikální i chemickou analýzu složení vzorku.Firmě odborná analýza přinesla nejen vysvětlení příčiny problému, ale také silný podklad pro reklamaci a další právní kroky. „Buď bych tento stroj musel finančně náročně opravit, nebo bych s ním jezdil dál, což by pochopitelně představovalo bezpečnostní riziko nejen pro mě. Reklamaci teď máme prokázanou, dodavatel nám dodal zmetek a zřejmě se budeme soudit,“ popisuje Jakub Ševčík z firmy Tembo brand.<blockquote>Video: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.youtube.com/watch?v=f5WXnKT2_tE&amp;t=2s">Špičkový mikroskop Helios pomáhá malým a středním firmám&nbsp;</a></blockquote><h4>Pomoc při vývoji běžkařských vosků</h4>Projekt SUPPORT4SME pomohl také firmě Titan Gliders, která na TUL našla odborné zázemí pro vývoj běžkařských vosků. Pomocí moderních analytických metod vědci zkoumají vlastní syntetizované přísady i konkurenční komerční vosky, a firma tak získává důležitá data pro další vývoj.&nbsp;„Spolupráce s CXI TUL se nám vyplatila jednoznačně. Víme přesně, kam napřít síly, bez takového zázemí bychom se jen těžko obešli. Navíc jsme díky tomu získali podporu českého biatlonu, Českého olympijského výboru i Libereckého kraje. Pro firmu, která začínala od nuly a byla financována z vlastních zdrojů, to má zásadní význam,“ říká Petr Tischer ze společnosti Titan Gliders.&nbsp;<h4>Pomoc, která firmám šetří peníze</h4>Projekt SUPPORT4SME nabízí tyto služby a množství dalších, také konzultace odbornic a odborníků, kteří disponují špičkovým laboratorním vybavením, a pomoc při řešení konkrétních technologických a materiálových problémů. Za cíl si klade podpořit v česko-saském regionu více než 130 podniků, zatím tyto služby využilo necelých třicet podniků.„Nejde jen o podporu velkých inovačních projektů. Často stačí vyřešit jeden konkrétní problém, ověřit vlastnosti materiálu nebo získat odborný pohled na technologický postup. I taková pomoc může firmě ušetřit čas, peníze a otevřít cestu k dalšímu rozvoji. Zástupci firem mnohdy ani netuší, že tu jsme a s&nbsp;čím vším jim můžeme pomoci. Přitom u nás mají k&nbsp;dispozici nejnovější přístrojové vybavení za naprosto zanedbatelné ceny. Ať firmy neváhají a obrátí se na nás s&nbsp;konkrétními dotazy, které je trápí nebo zajímají, “ uzavírá Adam Blažek.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"><h3>SUPPORT4SME</h3>Projekt propojuje malé a střední podniky z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a ze Saska s aplikovaným výzkumem. Technická univerzita v Liberci jej realizuje ve spolupráci s Technickou univerzitou v Chemnitz v rámci programu Interreg Česko–Sasko 2021–2027. Firmy díky němu mohou využít odborné služby aplikovaného výzkumu, individuální konzultace a analýzy i workshopy a školení. Projekt jim otevírá přístup k mezioborové síti expertů a špičkovému výzkumnému zázemí, které mohou využít při zavádění inovací do praxe.<blockquote>Support4sme: Přeshraniční podpora zapojení malých a středních podniků do materiálového výzkumu budoucnosti.Cíl: Společné centrum přeshraniční spolupráce TU Liberec a TU Chemnitz podporuje a implementuje inovace do malých a středních podniků v regionu Česko – Sasko. SUPPORT4SME nabízí mezioborovou síť expertů, kteří vám pomohou s rozvojem vaší firmy.Finanční podpora EU (EFRR): 2.442.017,81 €Leadpartner: CXI TULPartner: Technická univerzita v&nbsp;ChemnitzMgr. Adam Blažek, MBA – řešitel <a href="mailto:adam.blazek@tul.cz">adam.blazek@tul.cz</a> +420 730 595&nbsp;011</blockquote><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683">

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Soutěž o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie byla i letos nedílnou součástí lednového zasedání Hlavního výboru <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/7">Spektroskopické společnosti</a>. Letošní ročník hostila tradičně <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/15">Univerzita Pardubice</a> a do soutěže bylo přihlášeno dvacet soutěžících, z toho sedm v kategorii A a třináct v kategorii B. Počet přihlášených prací tak znovu potvrdil, že tato soutěž zůstává pro mladé autory atraktivní a stabilně vyhledávanou příležitostí k odborné prezentaci.&nbsp;Nad průběhem soutěže dohlížela čestná předsedkyně doc. Ing. Anna Krejčová, Ph.D. Samotný program pak dobře ukázal šíři současného spektroskopického výzkumu, přičemž jednotlivé směry a metody byly zastoupeny poměrně vyrovnaně. Soutěžní blok navíc nepředstavoval pouze přehled jednotlivých výsledků, ale poskytl i přehled o rozmanitosti metodických přístupů a aplikací současné spektroskopie.V kategorii A, zaměřené na diplomové práce, porota udělila první místo Ing. Janě Knytlové z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/11">Vysoké školy chemicko-technologické v Praze</a> za práci na téma „Ambientní hmotnostní spektrometrie pro analýzu selektivních modulátorů androgenního receptoru“. Druhé místo získal Filip Jozefov z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/62">Ústavu organické chemie a biochemie AV ČR</a> za práci „Predikce molekul z vícestupňové hmotnostní spektrometrie pomocí grafových neuronových sítí a AI modelu DreaMS“ a třetí místo pak Mgr. Lucie Březinová z Ústavu analytické chemie AV ČR za práci „Začlenění stříbrných nanostruktur do kapilárního prostředí pro detekci povrchem zesílenou Ramanovu spektrometrii“.V kategorii B publikovaných prací obsadil první místo Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila z Matematicko-fyzikální fakulty Univerzity Karlovy v Praze za práci „Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications“. Na druhém místě se umístila Mgr. Markéta Bosáková, Ph.D. z Ústavu chemie <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/12">Masarykovy univerzity</a> za práci „Acoustic spectroscopy of laser-induced plasma“ a třetí místo obsadil Mgr. et Mgr. Vít Pavelka, Ph.D. z Ústavu analytické chemie AV ČR za práci „Povrchem zesílená Ramanova spektroskopie snadno a spolehlivě“.Soutěž opět potvrdila svou roli důležité platformy pro prezentaci kvalitních prací mladých autorů a pro odbornou diskusi napříč spektroskopickými obory. Poděkování patří všem soutěžícím za předložené práce, hodnotitelům za pečlivé posouzení příspěvků a oceněným autorům náleží blahopřání k dosaženým výsledkům.<h3>Kategorie B - 1. místo</h3><h4>Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications</h4><ul><li>Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila (Department of Chemical Physics and Optics, Faculty of Mathematics and Physics, Charles University, Prague, Czech Republic)</li><li>E-mail: marius.chirita@matfyz.cuni.cz</li></ul><h5>List of Submitted Works:</h5><ol><li>Chirita Mihaila, M.C., Koutenský, P., Moriová, K. and Kozák M. Light-based electron aberration corrector. Nat. Photon. (2025). <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.">https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.</a></li><li>Chirita Mihaila, M.C., Laštovičková Streshkova, N., and Kozák, M. (2025). Light-Based Chromatic Aberration Correction of Ultrafast Electron Microscopes. Physical Review Letters, 134(20), 203802.</li><li>Chirita Mihaila, M. C., and Kozák, M. (2025). Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes. Optics Express, 33(1), 758-775.</li></ol><h5>Summary</h5>Recent advances in ultrafast electron microscopy have opened a new regime for time-resolved electron spectroscopy, where the phase and energy of free-electron wavepackets can be controlled with femtosecond lasers. However, achieving true spectroscopic resolution in both space and time has been fundamentally constrained by electron-optical aberrations, particularly spherical and chromatic aberration, and by the intrinsic energy spread of the electron source, all of which distort the probe wavefront, degrade energy resolution, and limit quantitative spectroscopic analysis.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg" alt="Marius Constantin Chirita Mihaila: Figure1: Graphical visualization of light-based (red) aberration correction of electrons (blue)." srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg 221w," sizes="100vw" width="1024" height="724">The submitted collection of works presents a comprehensive experimental and theoretical framework for light-based aberration correction in electron beams using structured optical fields. Together, these studies establish a new approach in which laser–electron interaction adaptively shapes the electron wavefront and energy distribution. In the first paper (Nature Photonics, 2025), we experimentally demonstrate the correction of third-order spherical aberration in a cylindrically symmetric electron lens through interaction of electrons with a tailored Laguerre–Gaussian optical field. This optical field acts as a light-based electron aberration corrector that compensates the intrinsic positive spherical aberration of electromagnetic lenses, reducing the aberration coefficient from approximately 2.5 m to near zero. The second paper (Physical Review Letters, 2025) extends the concept to chromatic aberration correction, showing that an optical field can also compensate for aberration caused by the energy dispersion in an electron pulse. This approach paves the way for light-assisted, lossless monochromatization of the electron beam, producing narrowband and phase-stable electron pulses ideally suited for high-resolution electron energy-loss spectroscopy and photon-induced near-field electron microscopy. The third paper (Optics Express, 2025) provides the theoretical design and modelling framework for integrating such light-based correctors into next-generation ultrafast electron spectroscopic instruments, demonstrating that optical-field correction can be implemented compactly and dynamically within standard electron columns near the electron cross-over.Light-based corrected electron beams exhibit enhanced spatial and temporal (energy) coherence, maintaining a well-defined phase relationship across the beam spectrum and enabling high-fidelity spectroscopic measurements. The demonstrated correction of spherical and chromatic aberrations represents a crucial step toward full optical control of electron beams. In particular, the light–electron coupling shown in the second paper (Physical Review Letters, 2025) offers the conceptual basis for light-assisted monochromatization, in which the electron energy spread could be dynamically reduced without any loss. Although this process remains to be experimentally validated, the present results show that light-based aberration correction provide a viable route toward next-generation, quantitatively precise, high-resolution spectroscopy of materials, nanostructures, and ultrafast dynamic processes.

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B

Zveme Vás na odborný seminář zaměřený na aktuální témata v oblasti bezpečnosti potravin, obalových materiálů a moderních analytických metod. Seminář se uskuteční ve čtvrtek 21. května od 10. hodin v SPACES Parkview, Pujmanové 1753/10a, 140 00 Praha 4.<h3>Registrace</h3><blockquote>Registrujte se prosím e-mailem na: <a href="mailto:Irena_Lofflerova@waters.com">Irena_Lofflerova@waters.com</a><ul><li>Kapacita semináře je omezena.&nbsp;</li><li>Seminář je bezplatný.&nbsp;</li></ul></blockquote><h3>Program</h3><h5>10:00 – 10:20 Zahájení semináře a úvod</h5><ul><li>Waters</li></ul><h5>10:20 – 10:50 Komplexní pohled na PFAS v bezpečnosti potravin: výskyt, zdroje a regulace</h5><ul><li>Darina Dvořáková, VŠCHT Praha</li></ul><h5>10:50 – 11:20 Analýza organických polutantů pomocí LC-MS v pitných a balených vodách</h5><ul><li>Václav Šístek, ALS Czech Republic</li></ul><h5>11:20 – 11:40 Kontaminanty v potravinách dle NAŘÍZENÍ KOMISE (EU) 2023/915 pohledem laboratoře VÚPS</h5><ul><li>Marek Pernica, Výzkumný ústav pivovarský a sladařský Brno</li></ul><h5>11:40 – 12:00 Kontrola jakosti medu</h5><ul><li>Klára Bartáková, Veterinární univerzita Brno</li></ul><h5>12:00 – 12:45 Přestávka na občerstvení a diskusi</h5><h5>12:45 – 13:05 Výzvy a troubleshooting v LC–MS/MS a přípravě vzorků tučných potravin pro stopovou analýzu obalových kontaminantů</h5><ul><li>Adam Vavrouš, Státní zdravotní ústav</li></ul><h5>13:05 – 13:25 Od legislativních požadavků k laboratorní praxi: LC-MS/MS jako nástroj kontroly krmiv</h5><ul><li>Libor Jaša, ÚKZÚZ Brno</li></ul><h5>13:25 – 13:45 Aplikace NMR metabolomiky v hodnocení kvality a autenticity potravin</h5><ul><li>Jaroslav Havlík, Česká zemědělská univerzita v Praze</li></ul><h5>13:45 Ukončení semináře</h5>Těšíme se na Vaši účast!

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Potraviny

Vody

Popularizace

Věda a výzkum

Video

Článek

Nejbližší akce

je dobrovolná organizace vědeckých, vědecko-pedagogických a odborných pracovníků oboru spektroskopie, příp. právnických osob, zabývajících se vědeckou a aplikační činností v tomto oboru, sdružených ke společné činnosti. SSJMM byl založena roku 1949.

Spektroskopická společnost Jana Marka Marci

Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci, známý také jako CXI TUL, byl založen v roce 2009. Naším posláním je podporovat dlouhodobou vizi TUL v oblasti spolupráce s průmyslem a vytváření inovací.

CXI TUL

Firmu Waters založil v roce 1958 pan James Waters. Od té doby se společnost Waters specializuje na kapalinovou chromatografii a hmotnostní spektrometrii. Divize TA Instruments působí na poli termální analýzy. V České republice je Waters zastoupen přímou pobočkou, která sídlí v Praze.

Waters Gesellschaft

Thermo Scientific ARL QUANT'X ED-XRF spektrometr

Stolní energiově-disperzní RTG spektrometr s nejmodernějším detektorem generace SDD (Silicon Drift Detector). Nový detektor SDD je vybaven tenkým Be okénkem a poskytuje zpracování vysokého počtu impulzů při zachování excelentního rozlišení.

Přináší vysoký výkon při analýze prvků napříč periodickou tabulkou - od lehkých až po těžké prvky. Nový detektor přináší lepší citlivost při analýze prvků a také lepší detekční limity.
<h4>Co přináší nejnovější technologie:</h4>
<ul>
<li>Nejmodernější Silicon Drift Detector (SDD)
</li>
<li>Pokročilejší technologii zpracování signálu - Digital Pulse Procesor (DPP)
</li>
<li>Vysokovýkonnou multiprvkovou analýzu
</li>
<li>Volitelný software - Thermo Scientific TM Uniquant TM pro vynikající bezstandardovou analýzu
</li>
</ul>
<h4>Hlavní rysy:</h4>
<ul>
<li>Výjimečně vysoká citlivost pro stopovou analýzu
</li>
<li>Pokročilé analytické algoritmy pro atypické materiály
</li>
<li>Kompaktní rozměry a snadná manipulace v případě požadavku analýzy v terénu - snadný transport spektrometru
</li>
<li>Možnost analýzy vzorku v prostředí: vzduch, vakuum a helium (podle charakteru vzorku)
</li>
<li>Možnost zvětšení měřícího prostoru pro případ analýzy velkých vzorků, použití kamery, možnost volby kolimátorů
</li>
<li>Osvědčený hardware a software v plné výbavě - bez omezení
</li>
<li>Plná technická, aplikační podpora
</li>
<li>Odborné zkušenosti napříč stovkám aplikací
</li>
</ul>
<h4>Výkonný a zároveň jednoduchý pro používání - Thermo Scientific TM WinTrace TM software:</h4>
<ul>
<li>Bezstandardová a semi-bezstandardová analýza
</li>
<li>Analýza pomocí fundamentálních parametrů a analýza empirickými metodami se standardy
</li>
<li>Měření tloušťky více vrstev a analýza složení
</li>
<li>Neomezené měření prvků, neomezené použití standardů
</li>
<li>Jednoduchý přenos výsledků do externího počítače nebo do systému LIMS
</li>
<li>Více nastavitelných podmínek měření s automatickým provozem
</li>
</ul>
<h4>Volitelný UniQuant Advanced pro bezstandardní analýzu:</h4>
<ul>
<li>UniQuant analyzuje všechny emisní čáry všech možných prvků od fluoru až po uran. Tyto kompletní spektrální profily vzorků umožňují UniQuantu automaticky korigovat všechny možné překrytí a efektů pozadí, které jsou mimořádně složité v případě energiově-disperzních spekter.
</li>
<li>Provede analýzu všech prvků
</li>
<li>Unikátní fyzikální vlastnosti každého vzorku, tj plocha, výška a hmotnost jsou zahrnuty do výpočtu
</li>
</ul>
<h4>Výběr aplikací:</h4>
<ul>
<li>Forenzní zkoumání a analýza stopových prvků
</li>
<li>Drahé kameny, drahé kovy, šperky
</li>
<li>RoHS / WEEE monitoring, analýza toxických prvků v plastu
</li>
<li>Produkty ropného průmyslu
</li>
<li>Plasty, polymery
</li>
<li>Environmentální aplikace
</li>
<li>Odpadní kaly a použité oleje
</li>
<li>Výživové doplňky
</li>
<li>Analýza zemin a environmentální monitoring
</li>
<li>Monitoring koroze chladicích vodních okruhů
</li>
<li>Cement, krmiva a alternativní paliva
</li>
<li>Hutní trochy a důlní rudy
</li>
<li>Kovy a slitiny
</li>
<li>Katalyzátory a chemikálie
</li>
<li>Tenké vrstvy na filtrech
</li>
<li>Analýza aerosolových částic na filtrech...
</li>
</ul>

Thermo Scientific ARL PERFORM’X WD-XRF spektrometr

Sekvenční vlnově disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr (WD-XRF) pro rychlé analýzy až 90 prvků prakticky v každém kapalném nebo pevném vzorku.

Vlnově disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr (WD-XRF) Thermo Scientific™ ARL™ PERFORM’X je jedinečný systém pro komplexní řešení celé řady aplikací a analýzy až 90 prvků prakticky v každém kapalném nebo pevném vzorku.
Díky své výkonnosti a univerzálnosti nachází široké uplatnění v takových oblastech jako je hutnictví, ropný průmysl, analýzy skla, cementu a žáruvzdorných materiálů, stejně jako v laboratořích zabývajících se problematikou kontroly a vývoje materiálů, polymerů, forenzní analýzou nebo enviromentálním výzkumem.
<h4>Základní charakteristiky</h4>
<ul>
<li>jednoduchá a rychlá analýza pevných látek, práškových materiálů i kapalin
</li>
<li>přímé stanovení průměrného složení vzorku, ale také možnost bodové analýzy či mapování
</li>
<li>mimořádně rychlá analýza až 60 vzorků za hodinu díky nejrychlejšímu průmyslově vyráběnému goniometru s širokou možností volby krystalů a kolimátorů
</li>
<li>autosampler až na 112 vzorků se speciální pozicí pro přednostně měřené vzorky
</li>
<li>vysoká stabilita a přesnost výsledků
</li>
<li>široký dynamický rozsah měření (od jednotek ppm do 100 %)
</li>
<li>možnost bezstandardové analýzy umožňující jednoduchou a rychlou analýzu neznámých vzorků díky softwarovému nástroji „standard-less analysis packages“
</li>
<li>tři různé konfigurace dle výkonu rentgenky – 1500 W, 2500 W a 4200 W
</li>
<li>konfigurace 1500 W a 2500 W nevyžadují externí vodní chladič
</li>
<li>ultratenké Be okénko rentgenové lampy zvyšuje citlivost stanovení lehkých prvků
</li>
<li>jedinečná technologie Thermo Scientific™ UCCO™ (Ultra Closely Coupled Optics)
</li>
</ul>
<h4>Pokročilá technologie</h4>
<ul>
<li>digitálně řízený goniometr založený na elektro-optické technologii &quot;Moiré fringe&quot; pro velmi přesné a robustní úhlové polohování všech komponent
</li>
<li>výkonný software OXSAS a bezstandardové analytické balíčky Thermo Scientific™ QuantAS™ a Thermo Scientific™ UniQuant™ poskytují jednoduchou a rychlou analýzu zcela neznámých vzorků bez potřeby standardů
</li>
<li>program pro kalibraci Thermo Scientific™ PetroilQuant™ umožňující rychlou kvantifikaci až 30 prvků v různých palivech, lehkých a těžkých destilátech a lubrikantech
</li>
<li>technologie UCCO (Ultra Closely Coupled Optics) pro nejcitlivější stanovení prvků od bóru po uran
</li>
<li>IQ/OQ &amp; Remote Diagnostics pro snadnou instalaci a servis
</li>
</ul>
<h4>Důležité parametry</h4>
<ul>
<li>rozsáhlá vestavěná knihovna pokrývající řadu aplikací pro stanovení kovových i nekovových prvků
</li>
<li>rychlé stanovení složení měřeného vzorku a možnost mapování
</li>
<li>analýza zvolených bodů pro kvantifikaci a identifikaci kontaminace nebo defektu ve zkoumaném vzorku
</li>
<li>špičková identifikace kapalných vzorků
</li>
<li>široký dynamický rozsah (od sub ppm do 100 %) s vynikající přesností
</li>
<li>integrovaný autosampler umožňující automatické zpracování velkého množství vzorků
</li>
</ul>
<h4>Základní konfigurace</h4>
<ul>
<li>ARL PERFORM&#39;X 1500 W: ekonomický, efektivní, nízkoenergetický systém bez nutnosti externího chlazení vodou</li>
<li>ARL PERFORM&#39;X 2500 W: středně výkonný systém bez nutnosti externího chlazení vodou</li>
<li>ARL PERFORM&#39;X 4200 W: vysoce výkonný systém pro nejnáročnější aplikace</li>
</ul>

Thermo Scientific ARL OPTIM’X  WD-XRF spektrometr

Kompaktní sekvenční, simultánní nebo kombinovaný simultánně/sekvenční vlnově disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr (WD-XRF) s vynikajícím poměrem cena/výkon.

Thermo Scientific™ ARL™ OPTIM’X je kompaktní vlnově disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr (WD-XRF) s vynikajícím poměrem cena/výkon.
Tento výkonný systém splňuje veškeré požadavky na kvalitativní i kvantitativní stanovení prvkového složení prakticky všech typů vzorků. Analyzátor je vyráběn v předkonfigurovaných variantách na míru dané aplikaci pro dosažení maximální účinnosti, přesnosti, opakovatelnosti, rychlosti a jednoduchosti přípravy vzorků. Mezi typické aplikace patří analýzy v ropném průmyslu, analýzy cementu nebo strusky a jiné víceúčelové analytické laboratoře.
<h4>Základní charakteristiky:</h4>
<ul>
<li>možnost měření prvků od fluoru po uran včetně bezstandardové analýzy pomocí „OptiQuant standard-less package“
</li>
<li>sekvenční analýza pomocí kompaktního goniometru SmartGonio™
</li>
<li>simultánní stanovení až 8 prvků s použitím 4 multichromátorů
</li>
<li>jedinečný kombinovaný systém sekvenčního měření pomocí SmartGonio™ a simultánního měření až 2 prvků pomocí multichromátoru pro analytickou flexibilitu a zvýšení rychlosti
</li>
<li>UCCO (Ultra Closely Coupled Optics) – uzavřená optika s minimálním prostorem mezi detektorem a zdrojem pro vyšší intenzitu (až o 210 % vyšší než u konvenčních systémů)
</li>
<li>dvě konfigurace dle výkonu rentgenky – 50W rentgenka se srovnatelným výkonem jako 200W, nebo 200 W rentgenka se srovnatelným výkonem jako 500W
</li>
<li>vysoká přesnost měření (krátkodobá i dlouhodobá opakovatelnost) díky temperaci spektrometru i krystalů
</li>
<li>perfektní spektrální rozlišení od lehkých po těžké prvky (~15 eV, CaKα)
</li>
<li>optimalizovaná konfigurace pro specifické standardizované aplikace (kompatibilní s ISO nebo ASTM)
</li>
<li>měření bez nutnosti chlazení vodou
</li>
<li>možnost zařazení autosampleru
</li>
</ul>
<h4>Doporučený systém pro:</h4>
<ul>
<li>analýzu alternatívních paliv a produktů spalování odpadu pro cementářský průmysl
</li>
<li>analýzu síry (S) a dalších prvků v ropných produktech a lubrikantech, plně v souladu s normami ASTM, ISO a dalšími průmyslovými standardy pro WDXRF
</li>
<li>hlavní a vedlejší oxidy v surovinách, jako jsou vápenec, písek, bauxit, keramika, žáruvzdorné materiály, strusky a sintry
</li>
<li>hlavní a stopové prvky a kontaminanty v potravinách a chemických výrobcích
</li>
</ul>
<h4>Základní konfigurace</h4>
<ul>
<li>ARL Optim’X Cement Analyzer – SmartGonio, 50W nebo 200W rentgenka, instalované kalibrace pro optimální analýzy cementů a slínků</li>
<li>ARL Optim’X Slag Analyzer – SmartGonio, 50W nebo 200W rentgenka, instalovaná kalibrace pro optimální analýzy strusek</li>
<li>ARL Optim’X Sulfur Analyzer – 2 multichromátory pro nejcitlivější stanovení síry v těžkých i lehkých ropných palivech a olejích, 50W rentgenka, instalovaná kalibrace pro stanovení síry dle metody ASTM D2622</li>
</ul>

Metrohm Platforma 2060 

Robustní a spolehlivá modulární platforma analyzátoru pro maximální flexibilitu v přizpůsobeném monitorování procesů. Platforma se skládá z nejuniverzálnějších analyzátorů v portfoliu produktů Metrohm Process Analytics. Pomocí různých technik umožňují analyzátory 24/7 online monitorování kritických chemických parametrů v průmyslových procesech a tocích odpadních vod.

Thermo Scientific ARL X900 XRF Spektrometr

Thermo Scientific™ ARL™ X900 XRF je robustní, moderní WDXRF spektrometr s volitelnou funkcí XRD, navržený pro nejnáročnější průmyslové prostředí v hutnictví, cementářství a těžebním průmyslu.

Spektrometr Thermo Scientific™ ARL™ X900 XRF je robustní analyzátor s rozptylem vlnové délky rentgenového záření (WDXRF) nové generace s volitelnou integrovanou funkcí XRD, který je přizpůsoben pro nejnáročnější průmyslová prostředí v hutnictví, cementářství a těžebním průmyslu. Poskytuje rychlé a přesné výsledky stanovení prvkového i fázového složení s výjimečnou spolehlivostí a provozuschopností.Díky bezpečné konstrukci s geometrií „rentgenka nad vzorkem“, velké vakuové komoře a dvojitému podavači vzorků zajišťuje ARL X900 vysokou propustnost vzorků a dlouhodobou stabilitu měření – i v náročných podmínkách. Kombinuje simultánní a sekvenční WDXRF analýzu s flexibilní konfigurací, která může zahrnovat až 32 fixních monochromátorů a až dva bezpřevodové goniometry.<h3>Oblasti použití</h3><ul><li>Kovy: železo, ocel, surové železo, DRI, strusky, feroslitiny, slitiny mědi, mosazi a bronzu, slitiny hliníku (včetně poměru lázně), slitiny zinku, cínu, niklu, kobaltu, titanu, hořčíku a superlegury.</li><li>Cement: surová moučka, slínek, volné vápno, fáze slínku, vápenec, strusky, žáruvzdorné materiály, keramika.</li><li>Těžba a nerostné suroviny: horniny, rudy, koncentráty, obecné oxidy, půdy, sedimenty, fluorit.</li><li>Ostatní odvětví: sklo, keramika, polymery, smluvní analytické laboratoře.</li></ul><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_ARL_X900_XRF_Spectrometer_3_6602834bbd.jpg" alt="Thermo Scientific™ ARL™ X900 XRF Spektrometr" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_ARL_X900_XRF_Spectrometer_3_6602834bbd.jpg 158w," sizes="100vw" width="1023" height="1009">

Shimadzu EDX-7200 rentgenový fluorescenční spektrometr

Shimadzu EDX-7200, energeticky disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr, splňuje požadavky na vysokou citlivost, rychlost a přesnost a je vyhledávaným pomocníkem při aplikacích v různých oborech.


Shimadzu EDX-7200 je energeticky disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr. Je také vlajkovým modelem řady EDX, která usiluje o vysokou citlivost, rychlost a přesnost. Tento model podporuje nové předpisy a směrnice pro dodržování požadavků v oblasti ochrany spotřebitele a životního prostředí, jako jsou RoHS/ELV, REACH a TSCA, pomocí kompletních exkluzivních sad pro screeningovou analýzu. 
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_7200_spektrometr_Konstrukce_pristroje_Shimadzu_EDX_7200_6a747e7622/Shimadzu-EDX-7200-spektrometr_Konstrukce-pristroje-Shimadzu-EDX-7200.jpg" alt="Shimadzu: Konstrukce přístroje Shimadzu EDX-7200"/>
<h3>Podporuje různé aplikace v mnoha oborech</h3>
<ul>
<li>Elektrické/elektronické materiály - Screening RoHS a halogenů, Analýza tenkých vrstev pro polovodiče, disky, tekuté krystaly a solární články.
</li>
<li>Automobily a strojní zařízení - Screening nebezpečných prvků ELV, Analýza složení, měření tloušťky povlaku a měření hmotnosti povlaku chemické konverze pro strojní součásti.
</li>
<li>Železné/neželezné kovy - Analýza hlavních složek a analýza nečistot surovin, slitin, pájek a drahých kovů, Analýza složení strusky.
</li>
<li>Těžba - Analýza stupně pro zpracování nerostů.
</li>
<li>Keramika - Analýza keramiky, cementu, skla, cihel a hlíny.
</li>
<li>Ropa a petrochemické výrobky - Analýza síry v ropě, Analýza aditivních prvků a směsných prvků v mazacích olejích.
</li>
<li>Chemikálie - Analýza výrobků a organických/anorganických surovin, Analýza katalyzátorů, pigmentů, barev, pryže a plastů.
</li>
<li>Životní prostředí - Analýza půdy, odpadních vod, popela ze spalování, filtrů a jemných částic.
</li>
<li>Farmaceutické výrobky - Analýza zbytkového katalyzátoru při syntéze, Analýza nečistot a cizorodých látek v aktivních farmaceutických složkách.
</li>
<li>Zemědělství a potraviny - Analýza půdy, hnojiv a rostlin, Analýza surovin, kontrola přidaných prvků a analýza cizorodých látek v potravinách.
</li>
<li>Ostatní - Analýza složení archeologických vzorků a drahých kamenů, analýza toxických těžkých kovů v hračkách a zboží denní potřeby.
</li>
</ul>
<h3>Princip generování fluorescenčního rentgenového záření</h3>
Když je vzorek ozářen rentgenovým zářením z rentgenky, atomy ve vzorku generují jedinečné rentgenové záření, které je ze vzorku emitováno. Takové rentgenové záření se nazývá &quot;fluorescenční rentgenové záření&quot; a má jedinečnou vlnovou délku a energii, která je charakteristická pro každý prvek, který je generuje. Zkoumáním vlnových délek rentgenových paprsků lze proto provádět kvalitativní analýzu. Protože intenzita fluorescenčního rentgenového záření je funkcí koncentrace, je možné provést také kvantitativní analýzu měřením množství rentgenového záření při vlnové délce specifické pro každý prvek.
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_7200_spektrometr_Elektronove_drahy_a_princip_generace_rentgenoveho_zareni_vyjadrene_jako_Bohruv_model_098175e6c7/Shimadzu-EDX-7200-spektrometr_Elektronove-drahy-a-princip-generace-rentgenoveho-zareni-vyjadrene-jako-Bohruv-model.jpg" alt="Shimadzu: Elektronové dráhy a princip generace rentgenového záření vyjádřené jako Bohrův model"/>
<ul>
<li>EDX-7200 pro vysokou rychlost, vysokou citlivost a vysokou přesnost - Přístroj EDX-7200 je vybaven SDD detektorem s vysokým rozlišením, který umožňuje dosáhnout vyšší početní rychlosti a účinnosti detekce.</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_7200_spektrometr_EDX_7200_pro_vysokou_rychlost_vysokou_citlivost_a_vysokou_presnost_f0d16ef1d9/Shimadzu-EDX-7200-spektrometr_EDX-7200-pro-vysokou-rychlost-vysokou-citlivost-a-vysokou-presnost.jpg" alt="Shimadzu: Shimadzu EDX-7200 pro vysokou rychlost, vysokou citlivost a vysokou přesnost"/>
<ul>
<li>Vysoké rozlišení - EDX-7200 nabízí ve srovnání s předchozími modely vynikající energetické rozlišení díky zabudování nejmodernějšího SDD detektoru. Tím se snižuje vliv překrývajících se píků různých prvků, což zvyšuje spolehlivost výsledků analýzy.</li>
<li>Funkční design - Přístroj EDX-7200 pojme vzorky o maximální velikosti Š300 x D275 x cca 100 mm.</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_7200_spektrometr_Funkcni_design_pristroje_Shimadzu_EDX_7200_2b3044fe13/Shimadzu-EDX-7200-spektrometr_Funkcni-design-pristroje-Shimadzu-EDX-7200.jpg" alt="Shimadzu: Funkční design přístroje Shimadzu EDX-7200"/>

Shimadzu EDX-8100 rentgenový fluorescenční spektrometr

Shimadzu EDX-8100 je energeticky disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr a nabízí vysokou přesnost a rychlost při analýze prvků obsažených v různých vzorcích.



Shimadzu EDX-8100 je energeticky disperzní rentgenový fluorescenční spektrometr. Shimadzu EDX-8100 nabízí vysokou přesnost a rychlost při analýze prvků obsažených v různých vzorcích.
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_8100_spektrometr_Konstrukce_pristroje_Shimadzu_EDX_8100_794d19122e/Shimadzu-EDX-8100-spektrometr_Konstrukce-pristroje-Shimadzu-EDX-8100.jpg" alt="Shimadzu: Konstrukce přístroje Shimadzu EDX-8100"/>
<h3>Podporuje různé aplikace v mnoha oborech</h3>
<ul>
<li>Elektrické/elektronické materiály - Screening RoHS a halogenů, Analýza tenkých vrstev pro polovodiče, disky, tekuté krystaly a solární články.
</li>
<li>Automobily a strojní zařízení - Screening nebezpečných prvků ELV, Analýza složení, měření tloušťky povlaku a měření hmotnosti povlaku chemické konverze pro strojní součásti.
</li>
<li>Železné/neželezné kovy - Analýza hlavních složek a analýza nečistot surovin, slitin, pájek a drahých kovů, Analýza složení strusky.
</li>
<li>Těžba - Analýza stupně pro zpracování nerostů.
</li>
<li>Keramika - Analýza keramiky, cementu, skla, cihel a hlíny.
</li>
<li>Ropa a petrochemické výrobky - Analýza síry v ropě, Analýza aditivních prvků a směsných prvků v mazacích olejích.
</li>
<li>Chemikálie - Analýza výrobků a organických/anorganických surovin, Analýza katalyzátorů, pigmentů, barev, pryže a plastů.
</li>
<li>Životní prostředí - Analýza půdy, odpadních vod, popela ze spalování, filtrů a jemných částic.
</li>
<li>Farmaceutické výrobky - Analýza zbytkového katalyzátoru při syntéze, Analýza nečistot a cizorodých látek v aktivních farmaceutických složkách.
</li>
<li>Zemědělství a potraviny - Analýza půdy, hnojiv a rostlin, Analýza surovin, kontrola přidaných prvků a analýza cizorodých látek v potravinách.
</li>
<li>Ostatní - Analýza složení archeologických vzorků a drahých kamenů, analýza toxických těžkých kovů v hračkách a zboží denní potřeby.
</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_8100_spektrometr_Rozsah_detekovanych_prvku_3a291c3ca2/Shimadzu-EDX-8100-spektrometr_Rozsah-detekovanych-prvku.jpg" alt="Shimadzu: Rozsah detekovaných prvků"/>
<h3>Funkční design</h3>
Velká vzorkovací komora s malými rozměry - Instalovaná šířka je o 20 % menší než u předchozího přístroje díky kompaktním rozměrům těla. Přístroj EDX-8100 pojme vzorky do maximální velikosti Š300 x D275 x cca 100 mm.
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_8100_spektrometr_Funkcni_design_pristroje_Shimadzu_EDX_8100_06c9dcff81/Shimadzu-EDX-8100-spektrometr_Funkcni-design-pristroje-Shimadzu-EDX-8100.jpg" alt="Shimadzu: Funkční design přístroje Shimadzu EDX-8100"/>
<h3>Software PCEDX Navi umožňuje snadné ovládání od samého začátku</h3>
Software PCEDX Navi je navržen tak, aby zjednodušil rentgenovou fluorescenční spektrometrii pro začátečníky a zároveň poskytoval soubor funkcí a možností, které vyžadují zkušenější uživatelé. Přímočaré uživatelské rozhraní nabízí intuitivní ovládání a poskytuje pohodlné pracovní prostředí jak začátečníkům, tak odborníkům.
<h3>Bezkonkurenční analytický výkon</h3>
Vysoce výkonný detektor SDD a optimalizovaný hardware dosahují vysoké úrovně citlivost, rychlosti analýzy a energetického rozlišení, které byly dříve nedosažitelné. Podporuje analýzu lehkých prvků od 6C a lze jej použít ve spojení s možností substituce helia k analýze kapalných vzorků obsahujících lehké prvky (F až Al) .
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_8100_spektrometr_Bezkonkurencni_analyticky_vykon_5a84ce3d32/Shimadzu-EDX-8100-spektrometr_Bezkonkurencni-analyticky-vykon.jpg" alt="Shimadzu: Bezkonkurenční analytický výkon"/>
<h3>Extrémně flexibilní</h3>
Pojme všechny typy vzorků od malých po velké, od prášků po kapaliny. Volitelná výbava zahrnuje vakuovou měřicí jednotku a jednotku proplachu heliem pro vysoce citlivé měření lehkých prvků a věž s 12 vzorky pro automatizované kontinuální měření.
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_8100_spektrometr_Shimadzu_EDX_8100_pojme_vsechny_typy_vzorku_od_malych_po_velke_od_prasku_po_kapaliny_4c0d1fed39/Shimadzu-EDX-8100-spektrometr_Shimadzu-EDX-8100-pojme-vsechny-typy-vzorku-od-malych-po-velke-od-prasku-po-kapaliny.jpg" alt="Shimadzu: Shimadzu EDX-8100 pojme všechny typy vzorků od malých po velké, od prášků po kapaliny"/>
<h3>Komplexní kvantifikační funkce</h3>
<ul>
<li>Metoda kalibrační křivky</li>
<li>Metoda základních parametrů (FP)</li>
<li>Metoda Film FP</li>
<li>Metoda background FP</li>
<li>Srovnávací funkce</li>
</ul>

Shimadzu EDX-LE rentgenový fluorescenční spektrometr

Shimadzu EDX-LE je rentgenový fluorescenční spektrometr navržený speciálně pro screening prvků regulovaných směrnicemi RoHS/ELV, a to za nižších provozních nákladů.

Shimadzu EDX-LE je rentgenový fluorescenční spektrometr navržený speciálně pro screening prvků regulovaných směrnicemi RoHS/ELV. Tento model využívá detektor (polovodičový detektor Si-PIN), který nevyžaduje kapalný dusík, čímž dosahuje nižších provozních nákladů a snadnější údržby. Automatizované analytické funkce zlepšují operativnost, aniž by byla obětována jeho vysoká úroveň spolehlivosti. Doba potřebná od zahájení měření do vydání výsledku je u některých vzorků pouhá jedna minuta, což je velmi užitečné při screeningových pozorováních prvků regulovaných směrnicí RoHS.
<h3>Výjimečná úspora práce a vysokorychlostní screeningová kontrola</h3>
<ul>
<li>Nižší provozní náklady, snadnější údržba</li>
<li>Poskytuje specifické funkce nezbytné pro třídění pěti prvků regulovaných směrnicí RoHS</li>
<li>Snadné nastavení funkcí, které lze přizpůsobit podle způsobu řízení</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_LE_spektrometr_Analyza_plastu_PVC_izolace_kabelu_907e480844/Shimadzu-EDX-LE-spektrometr_Analyza-plastu-(PVC-izolace-kabelu).jpg" alt="Shimadzu: Analýza plastu (PVC izolace kabelu) pomocí spektrometru Shimadzu EDX-LE"/>
<h3>Snadné provádění obtížných úkolů</h3>
<ul>
<li>Snadné ovládání z okna [Screening Analysis] (Screeningová analýza)</li>
<li>Všechny kroky jsou automaticky nastaveny od hodnocení hlavních složek až po výběr podmínek</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_LE_spektrometr_Vsechny_kroky_od_posouzeni_hlavnich_slozek_az_po_vyber_podminek_jsou_automatizovane_2bf7b1f323/Shimadzu-EDX-LE-spektrometr_Vsechny-kroky-od-posouzeni-hlavnich-slozek-az-po-vyber-podminek-jsou-automatizovane.jpg" alt="Shimadzu: Všechny kroky od posouzení hlavních složek až po výběr podmínek jsou automatizované"/>
<h3>K dispozici jsou všechny potřebné funkce</h3>
<ul>
<li>Standardně jsou k dispozici funkce potřebné pro analýzu RoHS/ELV</li>
<li>Velká komora pro vzorky umožňuje měření velkých vzorků</li>
</ul>
<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Shimadzu_EDX_LE_spektrometr_Pri_mereni_cizorodych_latek_a_vzorku_s_vice_castmi_umoznuje_pozorovaci_kamera_snadno_urcit_polohu_analyzy_obrazu_ee1e66eb6a/Shimadzu-EDX-LE-spektrometr_Pri-mereni-cizorodych-latek-a-vzorku-s-vice-castmi-umoznuje-pozorovaci-kamera-snadno-urcit-polohu-analyzy-obrazu.jpg" alt="Shimadzu: Při měření cizorodých látek a vzorků s více částmi umožňuje pozorovací kamera snadno určit polohu analýzy obrazu"/>

Produkty z kategorie XRF - strana 3

Mohlo by Vás zajímat

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B