12. mezinárodní symposium Recent Advances in Food Analysis (RAFA 2026), které se uskuteční ve dnech 3.–6. listopadu 2026 v Praze, se blíží ke dvěma důležitým termínům – uzávěrce zvýhodněné registrace (Early Bird) a termínu pro zasílání abstraktů ústních sdělení. Oba termíny končí 30. června 2026. Výzkumníci, analytici, odborníci z průmyslu, zástupci regulačních institucí i studenti tak mají poslední příležitost zajistit si účast za zvýhodněnou cenu a představit své nejnovější vědecké výsledky mezinárodní komunitě zaměřené na analýzu potravin.<h3>Registrace</h3><blockquote>👉 <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://rafa.easyevent.eu/tickets/">Registrujte se na symposium RAFA 2026</a>!Zvýhodněná registrace (early-bird) probíhá do 30. června 2026.</blockquote>Po úspěšné registraci obdržíte e-mailem:<ul><li>automatické potvrzení registrace s informací o platbě (bankovní převod nebo online platba kartou),</li><li>přístup do členské sekce, kde můžete spravovat svůj profil, zasílat abstrakty a od září 2026 se registrovat na doprovodné akce (workshopy, semináře apod.)</li><li>Pokud potvrzení neobdržíte, kontaktujte organizátory na RAFA2026@vscht.cz.</li><li>Po zpracování platby obdržíte také potvrzení o zaplacení.</li></ul><h4>Důležité upozornění</h4>Registrační poplatek účastníků, kteří zaslali abstrakt (ústní či posterový), musí být uhrazen do 30. září 2026, jinak nebude příspěvek zařazen do programu ani sborníku abstraktů.<h4>Registrační poplatky</h4><ul><li>Smart rate (do 30. 6. 2026): 655 €</li><li>Standardní registrace (do 30. 9. 2026): 855 €</li><li>Pozdní registrace (od 1. 10. 2026): 955 €</li><li>Studenti*:<ul><li>do 30. 6. 2026: 465 €</li><li>od 1. 7. 2026: 605 €</li></ul></li></ul>* Je nutné doložit status studenta (např. kopií studentského průkazu).<h5>Registrační poplatek zahrnuje:</h5><ul><li>účast na všech odborných sekcích, workshopech a seminářích</li><li>přístup do posterové a výstavní sekce</li><li>konferenční materiály (jmenovka, taška, dokumenty, certifikáty)</li><li>finální program</li><li>elektronický sborník abstraktů</li><li>coffee breaky</li><li>obědy formou bufetu</li><li>uvítací drink</li></ul>V rámci registrace je možné zdarma rezervovat účast na welcome drinku a objednat vstupenku na konferenční večeři (85 €).Registrace je platná až po přijetí platby.<h3>Zasílání abstraktů</h3><blockquote>👉 <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://rafa.easyevent.eu/tickets/">Nahrajte svůj abstrakt pomocí tohoto odkazu</a></blockquote><ul><li>Pro odeslání abstraktu je nutné se nejprve registrovat. Po registraci získáte přístup do členské sekce, kde můžete své abstrakty nahrát.</li><li>Po odeslání obdržíte automatické potvrzení. Pokud jej neobdržíte, zkontrolujte spam nebo kontaktujte organizátory.</li></ul><h4>Pokyny pro abstrakty</h4><ul><li>Text abstraktu max. 3000 znaků včetně mezer</li><li>Bez tabulek a obrázků</li><li>Text bude publikován přesně ve vložené podobě (bez jazykových úprav)</li></ul>Možnost úprav abstraktu je dostupná do uzávěrky.V případě stažení abstraktu je nutné zaslat žádost do 30. září 2026.<h4>Důležitá pravidla</h4><ul><li>1 účastník může zaslat maximálně 2 abstrakty</li><li>Pro zařazení mezi mladé vědce (ústní prezentace) platí orientačně rok narození 1991 a mladší</li><li>Abstrakty budou publikovány pouze po uhrazení registračního poplatku</li></ul><h3>Program</h3><h4>Zvaní řečníci</h4><h5>Food allergen risk assessment: Past, present, future</h5><ul><li>Ben Remington, Remington Consulting Group B.V., Utrecht, the Netherlands &amp; University of Nebraska, USA</li></ul>Potravinové alergie a řízení rizik alergenů představují významné globální zdravotní téma. Ochrana spotřebitelů závisí na transparentním a důvěryhodném označování potravin. Přestože tři desetiletí výzkumu ukazují, že nízké expozice alergenům pravděpodobně nevyvolají reakci u většiny alergických osob, stále existuje potřeba harmonizovaných mezinárodních pravidel. Přednáška představí současný stav hodnocení rizik alergenů, vývoj regulačních přístupů i budoucí výzvy.<h5>Unmasking hidden adulteration in honey: Strategies for detecting and characterizing honeys produced from sugar-fed colonies</h5><ul><li>Oscar Nuñez Burcio, University of Barcelona, Barcelona, Spain</li></ul>Ne každý med má stejný příběh. Přednáška se zaměří na problematiku skrytého falšování medu souvisejícího s přikrmováním včelstev cukrem a představí analytické přístupy umožňující přesnější charakterizaci medu a ochranu důvěry spotřebitelů.<h5>Analytical and toxicological methods for safety of food contact materials</h5><ul><li>Erich Leitner, Graz University of Technology, Institute of Analytical Chemistry and Food Chemistry, Graz, Austria</li></ul>Obalové materiály hrají klíčovou roli při ochraně a uchovávání potravin. Rostoucí komplexita obalových systémů, zpřísňující se legislativa a narůstající počet sledovaných látek vyžadují nové analytické strategie pro ověřování jejich bezpečnosti.<h5>Data-driven strategies to reduce complexity in non-target HRMS analysis of food samples</h5><ul><li>Anneli Kruve, Stockholm University, Stockholm, Sweden</li></ul>Necílený screening pomocí LC/HRMS dokáže odhalit stovky až tisíce chemických signálů. Nové nástroje výpočetní hmotnostní spektrometrie umožňují predikovat toxicitu a koncentrace jednotlivých látek ještě před jejich úplnou strukturální identifikací, což pomáhá zaměřit pozornost na nejrizikovější sloučeniny.<h5>Role of AI in the identification of emerging food systems risks</h5><ul><li>Ákos Bernard Jóźwiak, Syreon Research Institute, Budapest, Hungary</li></ul>Umělá inteligence propojující vědecké poznatky, exposomická data a síťové analýzy se stává základem nové generace systémů pro včasnou identifikaci chemických rizik v potravinovém řetězci.<h5>Challenges of microplastics analysis in the context of food safety</h5><ul><li>Dorte Herzke, Norwegian Institute of Public Health, Oslo, Norway</li></ul>Potraviny a obalové materiály představují významný zdroj expozice mikro- a nanoplastům. Přednáška se zaměří na současné analytické přístupy a potřebu robustních metod pro jejich spolehlivé stanovení.<h5>Never-ending analytical challenges in PFAS analysis of food</h5><ul><li>Darina Dvořáková, University of Chemistry and Technology Prague, Prague, Czechia</li></ul>Monitoring PFAS v potravinách vyžaduje kombinaci cílených, suspect i necílených HRMS přístupů, stanovení celkového fluoru a využití nových senzorových technologií. Přednáška představí aktuální trendy v této oblasti.<h5>An overview of the latest scientific knowledge on process contaminants in food for appropriate risk management measures</h5><ul><li>Thierry Delatour, Nestlé Research, Lausanne, Switzerland.</li></ul>Nejnovější poznatky týkající se vzniku, výskytu a analytického stanovení akrylamidu a furanů v potravinách přinášejí důležité informace pro řízení rizik a ochranu spotřebitelů.

Blíží se termín zvýhodněné registrace a zasílání abstraktů pro RAFA 2026

Vážení zákazníci,velice rádi bychom Vás opět pozvali na naše semináře, které budeme pořádat v Ostravě a v Brně.<ul><li>6. 10. 2026 BRNO (Hotel Continental Brno, Kounicova 680/6, 602 00 Brno-střed-Veveří)</li><li>7. 10. 2026 OSTRAVA (Imperial Hotel Ostrava, Tyršova 1250, 702 00 Moravská Ostrava a Přívoz)</li></ul><blockquote>👉<a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://altium.net/cz/udalost/altium-podzimni-seminare">Přihlašovací formulář naleznete zde.</a></blockquote>Můžete se těšit na více informací o letošní novince <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/products/2416">Agilent 9500 ICP-MS</a>, o <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/products/2397">UltraWave Eco 2</a> od společnosti MILESTONE, dále představíme <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://gcms.cz/products/2447">SYFT Tracer</a>, či<a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://lcms.cz/products?distributorItems=37&amp;search=shine"> iontovou chromatografii Shine</a>, řešení pro PFAS (nová obalová vyhláška, přístrojové řešení) a chybět nebude ani uživatelská přednáška.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Agilent_ICP_QQQ_9500_f99840d317.webp" alt="Agilent: ICP-MS 9500" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Agilent_ICP_QQQ_9500_f99840d317.webp 156w," sizes="100vw" width="1600" height="1600">Kompletní program bude uveřejněn během srpna.Začátek programu bude v 9.00 hodin, registrace bude od 8.15 hodin a předpokládaný konec cca v 14.30.Účast na semináři je bezplatná a semináře se budou konat pouze prezenčně, nebude z nich pořizován záznam.V případě dalších dotazů mě neváhejte kontaktovat Lenka Vlčková, lenka.vlckova@altium.netTěšíme se na setkání!Tým Altium

Altium Podzimní semináře na Moravě 2026

Sto dvacet dva odborníků na chromatografii, elektroforézu, hmotnostní spektrometrii a další moderní analytické metody přijelo do Olomouce na čtyřdenní mezinárodní konferenci <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://lcms.cz/events/929">Advances in Chromatography and Electrophoresis &amp; Chiranal</a>, která se koná od 15. do 18. června. Letošní ročník je věnován památce významného chemika a bývalého vedoucího katedry analytické chemie profesora Zdeňka Stránského. Během akce byl oceněn také profesor Juraj Ševčík, kterému Česká společnost chemická udělila medaili za dlouholetý přínos vědě, výzkumu, výuce i popularizaci chemie a přírodních věd.„Máme velkou radost, že se nám podařilo do Olomouce přilákat řadu významných osobností analytické chemie. Dosavadní průběh akce hodnotíme velmi pozitivně. Konference nabízí nejen kvalitní odborný program, ale také prostor pro osobní kontakty, diskuzi a navazování nové spolupráce,“ uvedl vedoucí katedry analytické chemie Petr Bednář.<h4>Olomouc hostí špičky analytické chemie</h4>Do Olomouce přijeli účastníci z České republiky, Slovenska, Polska, Německa, Rakouska a Spojených států amerických. Program byl zaměřen především na separační vědy, zejména chromatografii a elektroforézu. Významné místo v něm mají také hmotnostní spektrometrie, metabolomika, lipidomika, proteomika, mikroextrakční techniky a další moderní analytické přístupy.Úvodní plenární přednášku na téma Metabolomics and Lipidomics in Biomedical Research přednesl Michael Laemmerhofer. Mezi další významné přednášející patřili například Wolfgang Lindner, Kevin Schug, Lucie Nováková, František Švec, Christian Neusüß, Václav Kašička, Hans-Dieter Junker, Justyna Płotka-Wasylka, Ondřej Novák nebo Marián Masár.<h4>Moderní analytické metody a výsledky výzkumu</h4>Odborný program zahrnoval přednášky věnované moderním chromatografickým metodám, superkritické fluidní chromatografii, kapilární a mikročipové elektroforéze, multidimenzionálním separacím, metabolomice, lipidomice, proteomice i hmotnostní spektrometrii. Pozornost je věnována také využití datové vědy při vývoji analytických metod, analýze léčiv, biologických a environmentálních vzorků či vývoji dostupného laboratorního vybavení.S výsledky svého výzkumu vystoupil také Ondřej Novák z Laboratoře růstových regulátorů, který představil cílenou analýzu rostlinných hormonů na úrovni jednotlivých buněk, Ivan Petřík se věnoval matricovým efektům při kvantitativní LC–MS analýze a David Friedecký přiblížil využití multiomických přístupů v laboratorní medicíně. Součástí programu byla také posterová sekce, během níž účastníci prezentují a diskutují výsledky svých výzkumných projektů.Letošní ročník si připomenul osobnost profesora Zdeňka Stránského, významného chemika a někdejšího vedoucího katedry analytické chemie, který v loňském roce zemřel. Organizátoři tak ocenili jeho dlouholetou odbornou, pedagogickou a organizační práci i jeho přínos k rozvoji pracoviště.<h4>Juraj Ševčík převzal medaili České společnosti chemické</h4>Jedním z významných okamžiků bylo předání medaile České společnosti chemické profesoru Juraji Ševčíkovi z katedry analytické chemie. Ocenění získal za dlouholetý přínos vědě, výzkumu a výuce a za výrazné aktivity v oblasti popularizace chemie a dalších přírodních věd. Vyzdvižena byla rovněž jeho zásadní role při přípravě a realizaci výstavby nové budovy přírodovědecké fakulty a při vzniku interaktivního muzea vědy Pevnost poznání.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/UPOL_Juraj_Sevcik_bc698859ec.jpg" alt="UPOL: Juraj Ševčík" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_UPOL_Juraj_Sevcik_bc698859ec.jpg 208w," sizes="100vw" width="471" height="353">

Mezinárodní konference přivedla do Olomouce 122 odborníků na analytickou chemii

Článek

Produkt

Video

Nejbližší akce

RAFA se zaměřuje na přehled současných trendů v ANALYTICKÝCH A BIOANALYTICKÝCH STRATEGIÍCH KONTROLY KVALITY A BEZPEČNOSTI POTRAVIN a diskutuje VÝZVY / NOVÉ PŘÍSTUPY V ANALÝZE POTRAVIN A PŘÍRODNÍCH PRODUKTŮ.

Recent Advances in Food Analysis (RAFA)

Je autorizovaným distributorem společnosti Agilent Technologies pro Českou republiku v oblastech chromatografie (GC, HPLC, UHPLC, kapilární elektroforéza) a hmotnostní spektrometrie (GC/MS, LC/MS, CE/MS), disolučních aparátů, molekulární (UV-Vis, UV-Vis-NIR, fluorescence, FTIR analyzátory a mikroskopy) a atomové spektroskopie (ICP-OES, ICP-MS, AAS), a v neposlední řadě také v oblasti molekulární biologie a genomiky (analýza nukleových kyselin a proteinů, microarray skenery a skla, PCR & RT-PCR, qPCR, řešení pro NGS, reagencie pro mutagenezi a klonování, sondy FISH a další).

Altium International

Univerzita Palackého v Olomouci je vysoká škola s dlouhou tradicí. Byla založena již v 16. století a je tak nejstarší vysokou školou na Moravě a druhou nejstarší v České republice. V současnosti představuje moderní vzdělávací instituci se širokou nabídkou studijních oborů a bohatou vědeckou činností.

Univerzita Palackého v Olomouci

Thermo Scientific Nexsa G2 XPS spektrometr

XPS spektrometr Nexsa™ spojuje kompaktní design a automatizaci s unikátní integrací ISS, UPS, REELS a Raman spektroskopie pro korelativní analýzu povrchů.

XPS spektrometr&nbsp;Nexsa ™ &nbsp; představuje revoluční koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického, prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. spektrometrii vysoce energetických fotonů. Koncepce spektrometru Nexsa je zcela unikátní a vpravdě revoluční. Jeho koncepce navazuje na nejúspěšnější XPS spektrometr všech dob – K-Alpha, zachovává jeho přednosti, kompaktnost, uživatelskou vlídnost, mimořádně vysoký stupeň automatizace a binární kontroly většiny funkcí. &nbsp;Navíc Nexsa umožňuje volitelně integraci s řadou dalších analytických technik a nástrojů, jako ISS, UPS, REELS a zcela revoluční integraci s Ramanovým spektrometrem. To umožňuje uživatelům realizovat skutečnou korelativní analýzu povrchů řadou povrchově citlivých technik.XPS spektrometr Nexsa je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních a provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů.S&nbsp;podporou populárního ovládacího programu Avantage s&nbsp;integrovanou XPS Knowledge Base má Nexsa nesporně na to, aby stala skutečným tahounem povrchových analýz v&nbsp;univerzitních, výzkumných i kontrolních laboratořích.<h3>XPS spektrometr Nexsa, plně automatizovaný, multitechnický XPS spektrometr – nový standard XPS spektrometrie</h3>XPS spektrometr&nbsp;Nexsa™&nbsp; nabízí dosud nevídanou flexibilitu a maximalizuje možnosti materiálového výzkumu. Vysoké flexibility je dosaženo možnostmi konfigurace přístroje. Mimo standardní XPS s&nbsp;možností hloubkového profilování&nbsp;buď pomocí standardního zdroje argonových iontů nebo volitelně pomocí duálního zdroje iontů a nebo klastrů – MAGCIS. Jako další jsou možnosti provádění skutečné korelativní analýzy dalšími volitelnými technikami, jako ISS, UPS, REELS a Ramanovou spektrometrií, vše v&nbsp;maximálně automatizovaném, binárně řízeném režimu z&nbsp;prostředí programu Avantage. K&nbsp;dispozici je „tilt“ modul pro úhlově rozlišenou XPS (ARXPS). Tak jako u všech XPS spektrometrů Thermo Scientific, zdrojem rentgenova záření je monochromatizovaný, nízkovýkonný „Al Ka X-ray“ zdroj, &nbsp;velikost spotu je volitelná uživatelsky již od 10 µm do 400 µm. Detektor, volitelně bipolární, se 128 kanály umožňuje pořizování tzv. SnapMap 2D vizualizací povrchů v&nbsp;reálném čase. Je k&nbsp;dispozici vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky nebo možnost integrace rukavicového boxu. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné navigace na vzorcích, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.Těmito rysy, kombinací unikátních hardwarových i softwarových vlastností, XPS spektrometr Nexsa vytváří nový standard XPS spektrometrické instrumentace a má nesporně ambice stát se lídrem XPS spektrometrie.&nbsp;&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_11_0cc1ab57d2.jpg" alt="Thermo Scientific XPS spektrometr Nexsa" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_11_0cc1ab57d2.jpg 174w," sizes="100vw" width="986" height="881"><h4>Aplikace Nexsa&nbsp;</h4><ul><li>Skla a filmy na sklech</li><li>Polymery</li><li>Baterie, jejich materiály</li><li>Grafen</li><li>Solární články</li><li>OLED, QOLED</li><li>Kovy &amp; oxidy</li><li>Bio-povrchy</li><li>Tenké filmy</li><li>Polovodiče</li><li>Keramiky</li><li>Katalyzátory</li><li>Nanomateriály</li></ul><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific XPS spektrometr K-Alpha

XPS spektrometr K-Alpha™ nabízí kompaktní a vysoce výkonnou analýzu povrchů metodou XPS. Vhodný pro výzkum i rutinní laboratoře, s plnou automatizací a podporou více technik.

XPS spektrometr K-Alpha &nbsp; představuje zcela novou koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. vysoce energetických fotonů. K-Alpha &nbsp; je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů. Pro tyto účely je K-Alpha &nbsp; vhodnou alternativou špičkového vědeckého XPS spektrometru ESCALAB.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_K_Alpha_XPS_System_2_979618dd54.jpg" alt="Thermo Scientific XPS spektrometr K-Alpha" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_K_Alpha_XPS_System_2_979618dd54.jpg 208w," sizes="100vw" width="1086" height="815"><h3>XPS spektrometr K-Alpha &nbsp; je na špici přístrojové produkce</h3>K-Alpha &nbsp; je kompaktní, vysocevýkonný analyzátor pro studium, elementární a vazebnou analýzu povrchů a povrchových filmů metodou XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Spektrometr je standardně vybaven duální kompenzací náboje, monochromatickým zdrojem rentgenova záření, možností hloubkového profilování argonovými ionty, volitelně i argonovými klastry, úhlově závislou XPS . Je k dispozici i plně automatizovaný zdroj UV záření pro UPS a vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné manipulace se vzorky, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base. Tyto vlastnosti řadí XPS spektrometr K-Alpha&nbsp;- mezi ostatními výrobci - na špici přístrojové produkce v této oblasti.<h4>Klíčové vlastnosti</h4><ul><li>Vysoce výkonný, plně vybavený systém XPS</li><li>Unikátní prohlížení vzorků s možností rychlé identifikace vlastností</li><li>Zobrazování chemického stavu</li><li>Manipulace s velkými vzorky</li><li>Variabilní mikro-fokusový rentgenový zdroj pro přizpůsobení oblasti analýzy vlastnostem</li><li>Iontový zdroj pro profilování hloubky</li><li>Nízkoenergetický zdroj pro analýzu izolátorů</li><li>Vestavěné standardy pro autokalibraci</li></ul><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific Mikroskop ESCALAB QXi XPS

Escalab Xi+ je nejnovější generace XPS spektrometru ESCALAB 250. Nabízí vědeckou, multitechnickou platformu pro detailní studium povrchů a tenkých vrstev.

Vědecký, multitechnický XPS/ESCA Escalab Xi+, je nejnovější inovací populárního XPS spektrometru ESCALAB 250. XPS spektrometr Escalab Xi+ je špičkové, vysoce výkonné, multifunkční zařízení pro studium povrchů a povrchových filmů metodami XPS.Umožňuje paralelní XPS zobrazování povrchů s rozlišením pod 3 mm, v módu AES pod 95 nm. Mimo metodu XPS spektrometr Escalab ve standardní konfiguraci umožňuje i měření metodami ISS (Ion Scattering Spectroscopy), Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS). Standardně spektrometr umožňuje též automatizovanou úhlově rozlišenou XPS (ARXPS), „mapping“ a „imaging“, je vybaven duální kompenzací náboje a možností hloubkového profilování odprašováním argonovými ionty, volitelně argonovými klastry (MAGCIS). Může být doplněn další přípravnou komorou, systémy pro chlazení a ohřev vzorku a dalšími. Zařízení umožňuje též konfigurace zahrnující metody AES/SEM/SAM ( Auger Electron Spectroscopy/Secondary Electron Microscopy/Scanning Auger Microscopy), automatizovanou UPS (Ultraviolet Photoemission Spectroscopy).&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_ESCALAB_Q_Xi_XPS_Microprobe_11_3791e67f1e.jpg" alt="Thermo Scientific ESCALAB QXi XPS Microprobe (11).jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_ESCALAB_Q_Xi_XPS_Microprobe_11_3791e67f1e.jpg 145w," sizes="100vw" width="938" height="1006">Unikátním příslušenstvím je volitelně možnost rentgenové mikroanalýzy integrovaným EDS detektorem se systémem Noran 7 (Thermo Scientific). Všechny funkce přístroje jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu

Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu kombinuje iontové techniky s femtosekundovou laserovou ablací a umožňuje přesné XPS hloubkové profilování tenkých vrstev a vícevrstvých materiálů.

Systém Thermo Scientific Hypulse Surface Analysis System kombinuje tradiční iontové techniky s femtosekundovou laserovou ablací (fs-LA) a umožňuje vysoce přesné hloubkové profilování metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS).&nbsp;Poskytuje chemicky reprezentativní analýzu tenkých vrstev, povlaků a složitých vícevrstvých materiálů – od povrchu až po hluboko uložené přechodové oblasti mezi jednotlivými vrstvami. Systém je určen pro pokročilý materiálový výzkum, vývoj zařízení a studium degradačních a poruchových mechanismů materiálů.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg" alt="Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg 245w," sizes="100vw" width="650" height="338"><h3>Hlavní přínosy systému Hypulse</h3>Vyšší přesnost analýzy Kombinace monoatomárního iontového leptání, klastrového iontového leptání a fs-LA hloubkového profilování umožňuje přesnou analýzu širšího spektra materiálů než tradiční metody.Vyšší produktivita Fs-LA hloubkové profilování umožňuje provést více hloubkových profilů v čase, který je jinak potřebný pro zpracování jednoho vzorku pomocí iontového profilování.Komplexnější informace o materiálu Systém umožňuje praktické měření hloubkových profilů přesahujících 10 µm. Skryté vrstvy, jejichž odhalení by iontovým leptáním bylo časově náročné, jsou přístupné výrazně rychleji.Flexibilita pro různé typy materiálů Parametry laseru lze optimalizovat podle typu vzorku, což usnadňuje profilování komplexních a kompozitních materiálů.<h3>Klíčové vlastnosti systému</h3>Integrovaný fs-laserový ablační systém Plně integrovaný femtosekundový laser (1 030 nm) s kvalitní optikou, řízený softwarem Thermo Scientific Advantage. Laserový systém třídy 1 nevyžaduje speciální laboratorní opatření.Ionový zdroj MAGCIS Standardně dodávaný dvourežimový iontový zdroj Thermo Scientific MAGCIS zajišťuje vysoký výkon, stabilitu a reprodukovatelnost měření.Rozšířené analytické možnosti Kromě XPS systém podporuje také techniky REELS a ISS pro detailní charakterizaci povrchu.Analýza izolantů Patentovaný duální flood zdroj kombinuje nízkoenergetické ionty a elektrony (&lt;1 eV), čímž eliminuje nabíjení vzorku bez nutnosti korekce náboje.Software Advantage Kompletní řízení přístroje, zpracování dat a reporting včetně modulu Knowledge View s návody a referenčními materiály.

Produkty z kategorie XPS - strana 1

Mohlo by Vás zajímat

Mezinárodní konference přivedla do Olomouce 122 odborníků na analytickou chemii

Altium Podzimní semináře na Moravě 2026

Blíží se termín zvýhodněné registrace a zasílání abstraktů pro RAFA 2026