Jak kvalitní je svár nebo povrchová úprava mého nebo dodaného výrobku? Vznikl defekt chybným zacházením, nebo měl výrobek skrytou vadu materiálu? To jsou příklady otázek, které velmi rychle dokáže vyřešit tým univerzitního výzkumného ústavu CXI TUL. Pomoc při řešení konkrétních problémů ve výrobě, konzultace, analýzy a další služby špičkového vědeckého pracoviště za minimální náklady nabízí nyní firmám díky projektu SUPPORT4SME. Nabídka se týká malých a středních firem do 250 zaměstnanců z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a také ze Saska.<h4>Podnik hradí pouze DPH</h4>„Řada menších firem má dobrý nápad nebo konkrétní technický problém, ale chybí jim přístup k potřebnému vybavení, expertům nebo laboratorním analýzám. Právě v tom jim může projekt SUPPORT4SME výrazně pomoci. Chceme, aby firmy věděly, že se na nás mohou obrátit i s velmi praktickými problémy z každodenní výroby nebo vývoje,“ říká řešitel projektu Adam Blažek z Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci.&nbsp;Službu na míru si mohou firmy zadat na <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://support4sme.cxi.tul.cz/">online platformě projektu</a>. Pokud splní podmínky programu, hradí pouze DPH z reálné ceny služby. Investice do výzkumu tak pro malé a střední podniky přestává být významnou finanční překážkou.<h4>Analýza jako opora pro soudní spor</h4>Podporu projektu využila například stavební firma Tembo brand, která řešila prasklou hřídel čelního kloubového nakladače. Potřebovala zjistit, zda je příčinou chyba obsluhy, nebo vada samotného výrobku. Obrátila se proto na CXI.Detailní analýzy potvrdily výrobní vadu materiálu a staly se součástí oficiálního znaleckého posudku pro soudní řízení. Pro podobné případy má univerzita k dispozici elektronový mikroskop Helios 5 PFIB CXe, který umožňuje velmi podrobně zkoumat kvalitu materiálů, povrchové úpravy, slitiny, svary i další defekty. Mikroskop za více jak 45 milionů korun je unikátní tím, že vědci s ním mohou provádět i mikroskopické „řezy“ do zkoumaného materiálu a díky celé škále detektorů provádět komplexní fyzikální i chemickou analýzu složení vzorku.Firmě odborná analýza přinesla nejen vysvětlení příčiny problému, ale také silný podklad pro reklamaci a další právní kroky. „Buď bych tento stroj musel finančně náročně opravit, nebo bych s ním jezdil dál, což by pochopitelně představovalo bezpečnostní riziko nejen pro mě. Reklamaci teď máme prokázanou, dodavatel nám dodal zmetek a zřejmě se budeme soudit,“ popisuje Jakub Ševčík z firmy Tembo brand.<blockquote>Video: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.youtube.com/watch?v=f5WXnKT2_tE&amp;t=2s">Špičkový mikroskop Helios pomáhá malým a středním firmám&nbsp;</a></blockquote><h4>Pomoc při vývoji běžkařských vosků</h4>Projekt SUPPORT4SME pomohl také firmě Titan Gliders, která na TUL našla odborné zázemí pro vývoj běžkařských vosků. Pomocí moderních analytických metod vědci zkoumají vlastní syntetizované přísady i konkurenční komerční vosky, a firma tak získává důležitá data pro další vývoj.&nbsp;„Spolupráce s CXI TUL se nám vyplatila jednoznačně. Víme přesně, kam napřít síly, bez takového zázemí bychom se jen těžko obešli. Navíc jsme díky tomu získali podporu českého biatlonu, Českého olympijského výboru i Libereckého kraje. Pro firmu, která začínala od nuly a byla financována z vlastních zdrojů, to má zásadní význam,“ říká Petr Tischer ze společnosti Titan Gliders.&nbsp;<h4>Pomoc, která firmám šetří peníze</h4>Projekt SUPPORT4SME nabízí tyto služby a množství dalších, také konzultace odbornic a odborníků, kteří disponují špičkovým laboratorním vybavením, a pomoc při řešení konkrétních technologických a materiálových problémů. Za cíl si klade podpořit v česko-saském regionu více než 130 podniků, zatím tyto služby využilo necelých třicet podniků.„Nejde jen o podporu velkých inovačních projektů. Často stačí vyřešit jeden konkrétní problém, ověřit vlastnosti materiálu nebo získat odborný pohled na technologický postup. I taková pomoc může firmě ušetřit čas, peníze a otevřít cestu k dalšímu rozvoji. Zástupci firem mnohdy ani netuší, že tu jsme a s&nbsp;čím vším jim můžeme pomoci. Přitom u nás mají k&nbsp;dispozici nejnovější přístrojové vybavení za naprosto zanedbatelné ceny. Ať firmy neváhají a obrátí se na nás s&nbsp;konkrétními dotazy, které je trápí nebo zajímají, “ uzavírá Adam Blažek.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"><h3>SUPPORT4SME</h3>Projekt propojuje malé a střední podniky z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a ze Saska s aplikovaným výzkumem. Technická univerzita v Liberci jej realizuje ve spolupráci s Technickou univerzitou v Chemnitz v rámci programu Interreg Česko–Sasko 2021–2027. Firmy díky němu mohou využít odborné služby aplikovaného výzkumu, individuální konzultace a analýzy i workshopy a školení. Projekt jim otevírá přístup k mezioborové síti expertů a špičkovému výzkumnému zázemí, které mohou využít při zavádění inovací do praxe.<blockquote>Support4sme: Přeshraniční podpora zapojení malých a středních podniků do materiálového výzkumu budoucnosti.Cíl: Společné centrum přeshraniční spolupráce TU Liberec a TU Chemnitz podporuje a implementuje inovace do malých a středních podniků v regionu Česko – Sasko. SUPPORT4SME nabízí mezioborovou síť expertů, kteří vám pomohou s rozvojem vaší firmy.Finanční podpora EU (EFRR): 2.442.017,81 €Leadpartner: CXI TULPartner: Technická univerzita v&nbsp;ChemnitzMgr. Adam Blažek, MBA – řešitel <a href="mailto:adam.blazek@tul.cz">adam.blazek@tul.cz</a> +420 730 595&nbsp;011</blockquote><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683">

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Soutěž o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie byla i letos nedílnou součástí lednového zasedání Hlavního výboru <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/7">Spektroskopické společnosti</a>. Letošní ročník hostila tradičně <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/15">Univerzita Pardubice</a> a do soutěže bylo přihlášeno dvacet soutěžících, z toho sedm v kategorii A a třináct v kategorii B. Počet přihlášených prací tak znovu potvrdil, že tato soutěž zůstává pro mladé autory atraktivní a stabilně vyhledávanou příležitostí k odborné prezentaci.&nbsp;Nad průběhem soutěže dohlížela čestná předsedkyně doc. Ing. Anna Krejčová, Ph.D. Samotný program pak dobře ukázal šíři současného spektroskopického výzkumu, přičemž jednotlivé směry a metody byly zastoupeny poměrně vyrovnaně. Soutěžní blok navíc nepředstavoval pouze přehled jednotlivých výsledků, ale poskytl i přehled o rozmanitosti metodických přístupů a aplikací současné spektroskopie.V kategorii A, zaměřené na diplomové práce, porota udělila první místo Ing. Janě Knytlové z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/11">Vysoké školy chemicko-technologické v Praze</a> za práci na téma „Ambientní hmotnostní spektrometrie pro analýzu selektivních modulátorů androgenního receptoru“. Druhé místo získal Filip Jozefov z <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/62">Ústavu organické chemie a biochemie AV ČR</a> za práci „Predikce molekul z vícestupňové hmotnostní spektrometrie pomocí grafových neuronových sítí a AI modelu DreaMS“ a třetí místo pak Mgr. Lucie Březinová z Ústavu analytické chemie AV ČR za práci „Začlenění stříbrných nanostruktur do kapilárního prostředí pro detekci povrchem zesílenou Ramanovu spektrometrii“.V kategorii B publikovaných prací obsadil první místo Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila z Matematicko-fyzikální fakulty Univerzity Karlovy v Praze za práci „Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications“. Na druhém místě se umístila Mgr. Markéta Bosáková, Ph.D. z Ústavu chemie <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/companies/12">Masarykovy univerzity</a> za práci „Acoustic spectroscopy of laser-induced plasma“ a třetí místo obsadil Mgr. et Mgr. Vít Pavelka, Ph.D. z Ústavu analytické chemie AV ČR za práci „Povrchem zesílená Ramanova spektroskopie snadno a spolehlivě“.Soutěž opět potvrdila svou roli důležité platformy pro prezentaci kvalitních prací mladých autorů a pro odbornou diskusi napříč spektroskopickými obory. Poděkování patří všem soutěžícím za předložené práce, hodnotitelům za pečlivé posouzení příspěvků a oceněným autorům náleží blahopřání k dosaženým výsledkům.<h3>Kategorie B - 1. místo</h3><h4>Light-based Aberration Correction in Electron Optics for Advanced Spectroscopic Applications</h4><ul><li>Dr. rer. nat. Marius Constantin Chirita Mihaila (Department of Chemical Physics and Optics, Faculty of Mathematics and Physics, Charles University, Prague, Czech Republic)</li><li>E-mail: marius.chirita@matfyz.cuni.cz</li></ul><h5>List of Submitted Works:</h5><ol><li>Chirita Mihaila, M.C., Koutenský, P., Moriová, K. and Kozák M. Light-based electron aberration corrector. Nat. Photon. (2025). <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.">https://doi.org/10.1038/s41566-025-01760-8.</a></li><li>Chirita Mihaila, M.C., Laštovičková Streshkova, N., and Kozák, M. (2025). Light-Based Chromatic Aberration Correction of Ultrafast Electron Microscopes. Physical Review Letters, 134(20), 203802.</li><li>Chirita Mihaila, M. C., and Kozák, M. (2025). Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes. Optics Express, 33(1), 758-775.</li></ol><h5>Summary</h5>Recent advances in ultrafast electron microscopy have opened a new regime for time-resolved electron spectroscopy, where the phase and energy of free-electron wavepackets can be controlled with femtosecond lasers. However, achieving true spectroscopic resolution in both space and time has been fundamentally constrained by electron-optical aberrations, particularly spherical and chromatic aberration, and by the intrinsic energy spread of the electron source, all of which distort the probe wavefront, degrade energy resolution, and limit quantitative spectroscopic analysis.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg" alt="Marius Constantin Chirita Mihaila: Figure1: Graphical visualization of light-based (red) aberration correction of electrons (blue)." srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_SSJMM_Figure1_Graphical_visualization_of_light_based_red_aberration_a9cf8b234f.jpg 221w," sizes="100vw" width="1024" height="724">The submitted collection of works presents a comprehensive experimental and theoretical framework for light-based aberration correction in electron beams using structured optical fields. Together, these studies establish a new approach in which laser–electron interaction adaptively shapes the electron wavefront and energy distribution. In the first paper (Nature Photonics, 2025), we experimentally demonstrate the correction of third-order spherical aberration in a cylindrically symmetric electron lens through interaction of electrons with a tailored Laguerre–Gaussian optical field. This optical field acts as a light-based electron aberration corrector that compensates the intrinsic positive spherical aberration of electromagnetic lenses, reducing the aberration coefficient from approximately 2.5 m to near zero. The second paper (Physical Review Letters, 2025) extends the concept to chromatic aberration correction, showing that an optical field can also compensate for aberration caused by the energy dispersion in an electron pulse. This approach paves the way for light-assisted, lossless monochromatization of the electron beam, producing narrowband and phase-stable electron pulses ideally suited for high-resolution electron energy-loss spectroscopy and photon-induced near-field electron microscopy. The third paper (Optics Express, 2025) provides the theoretical design and modelling framework for integrating such light-based correctors into next-generation ultrafast electron spectroscopic instruments, demonstrating that optical-field correction can be implemented compactly and dynamically within standard electron columns near the electron cross-over.Light-based corrected electron beams exhibit enhanced spatial and temporal (energy) coherence, maintaining a well-defined phase relationship across the beam spectrum and enabling high-fidelity spectroscopic measurements. The demonstrated correction of spherical and chromatic aberrations represents a crucial step toward full optical control of electron beams. In particular, the light–electron coupling shown in the second paper (Physical Review Letters, 2025) offers the conceptual basis for light-assisted monochromatization, in which the electron energy spread could be dynamically reduced without any loss. Although this process remains to be experimentally validated, the present results show that light-based aberration correction provide a viable route toward next-generation, quantitatively precise, high-resolution spectroscopy of materials, nanostructures, and ultrafast dynamic processes.

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B

Zveme Vás na odborný seminář zaměřený na aktuální témata v oblasti bezpečnosti potravin, obalových materiálů a moderních analytických metod. Seminář se uskuteční ve čtvrtek 21. května od 10. hodin v SPACES Parkview, Pujmanové 1753/10a, 140 00 Praha 4.<h3>Registrace</h3><blockquote>Registrujte se prosím e-mailem na: <a href="mailto:Irena_Lofflerova@waters.com">Irena_Lofflerova@waters.com</a><ul><li>Kapacita semináře je omezena.&nbsp;</li><li>Seminář je bezplatný.&nbsp;</li></ul></blockquote><h3>Program</h3><h5>10:00 – 10:20 Zahájení semináře a úvod</h5><ul><li>Waters</li></ul><h5>10:20 – 10:50 Komplexní pohled na PFAS v bezpečnosti potravin: výskyt, zdroje a regulace</h5><ul><li>Darina Dvořáková, VŠCHT Praha</li></ul><h5>10:50 – 11:20 Analýza organických polutantů pomocí LC-MS v pitných a balených vodách</h5><ul><li>Václav Šístek, ALS Czech Republic</li></ul><h5>11:20 – 11:40 Kontaminanty v potravinách dle NAŘÍZENÍ KOMISE (EU) 2023/915 pohledem laboratoře VÚPS</h5><ul><li>Marek Pernica, Výzkumný ústav pivovarský a sladařský Brno</li></ul><h5>11:40 – 12:00 Kontrola jakosti medu</h5><ul><li>Klára Bartáková, Veterinární univerzita Brno</li></ul><h5>12:00 – 12:45 Přestávka na občerstvení a diskusi</h5><h5>12:45 – 13:05 Výzvy a troubleshooting v LC–MS/MS a přípravě vzorků tučných potravin pro stopovou analýzu obalových kontaminantů</h5><ul><li>Adam Vavrouš, Státní zdravotní ústav</li></ul><h5>13:05 – 13:25 Od legislativních požadavků k laboratorní praxi: LC-MS/MS jako nástroj kontroly krmiv</h5><ul><li>Libor Jaša, ÚKZÚZ Brno</li></ul><h5>13:25 – 13:45 Aplikace NMR metabolomiky v hodnocení kvality a autenticity potravin</h5><ul><li>Jaroslav Havlík, Česká zemědělská univerzita v Praze</li></ul><h5>13:45 Ukončení semináře</h5>Těšíme se na Vaši účast!

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Potraviny

Vody

Popularizace

Věda a výzkum

Video

Článek

Nejbližší akce

je dobrovolná organizace vědeckých, vědecko-pedagogických a odborných pracovníků oboru spektroskopie, příp. právnických osob, zabývajících se vědeckou a aplikační činností v tomto oboru, sdružených ke společné činnosti. SSJMM byl založena roku 1949.

Spektroskopická společnost Jana Marka Marci

Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci, známý také jako CXI TUL, byl založen v roce 2009. Naším posláním je podporovat dlouhodobou vizi TUL v oblasti spolupráce s průmyslem a vytváření inovací.

CXI TUL

Firmu Waters založil v roce 1958 pan James Waters. Od té doby se společnost Waters specializuje na kapalinovou chromatografii a hmotnostní spektrometrii. Divize TA Instruments působí na poli termální analýzy. V České republice je Waters zastoupen přímou pobočkou, která sídlí v Praze.

Waters Gesellschaft

Thermo Scientific Nexsa G2 XPS spektrometr

XPS spektrometr Nexsa™ spojuje kompaktní design a automatizaci s unikátní integrací ISS, UPS, REELS a Raman spektroskopie pro korelativní analýzu povrchů.

XPS spektrometr&nbsp;Nexsa ™ &nbsp; představuje revoluční koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického, prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. spektrometrii vysoce energetických fotonů. Koncepce spektrometru Nexsa je zcela unikátní a vpravdě revoluční. Jeho koncepce navazuje na nejúspěšnější XPS spektrometr všech dob – K-Alpha, zachovává jeho přednosti, kompaktnost, uživatelskou vlídnost, mimořádně vysoký stupeň automatizace a binární kontroly většiny funkcí. &nbsp;Navíc Nexsa umožňuje volitelně integraci s řadou dalších analytických technik a nástrojů, jako ISS, UPS, REELS a zcela revoluční integraci s Ramanovým spektrometrem. To umožňuje uživatelům realizovat skutečnou korelativní analýzu povrchů řadou povrchově citlivých technik.XPS spektrometr Nexsa je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních a provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů.S&nbsp;podporou populárního ovládacího programu Avantage s&nbsp;integrovanou XPS Knowledge Base má Nexsa nesporně na to, aby stala skutečným tahounem povrchových analýz v&nbsp;univerzitních, výzkumných i kontrolních laboratořích.<h3>XPS spektrometr Nexsa, plně automatizovaný, multitechnický XPS spektrometr – nový standard XPS spektrometrie</h3>XPS spektrometr&nbsp;Nexsa™&nbsp; nabízí dosud nevídanou flexibilitu a maximalizuje možnosti materiálového výzkumu. Vysoké flexibility je dosaženo možnostmi konfigurace přístroje. Mimo standardní XPS s&nbsp;možností hloubkového profilování&nbsp;buď pomocí standardního zdroje argonových iontů nebo volitelně pomocí duálního zdroje iontů a nebo klastrů – MAGCIS. Jako další jsou možnosti provádění skutečné korelativní analýzy dalšími volitelnými technikami, jako ISS, UPS, REELS a Ramanovou spektrometrií, vše v&nbsp;maximálně automatizovaném, binárně řízeném režimu z&nbsp;prostředí programu Avantage. K&nbsp;dispozici je „tilt“ modul pro úhlově rozlišenou XPS (ARXPS). Tak jako u všech XPS spektrometrů Thermo Scientific, zdrojem rentgenova záření je monochromatizovaný, nízkovýkonný „Al Ka X-ray“ zdroj, &nbsp;velikost spotu je volitelná uživatelsky již od 10 µm do 400 µm. Detektor, volitelně bipolární, se 128 kanály umožňuje pořizování tzv. SnapMap 2D vizualizací povrchů v&nbsp;reálném čase. Je k&nbsp;dispozici vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky nebo možnost integrace rukavicového boxu. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné navigace na vzorcích, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.Těmito rysy, kombinací unikátních hardwarových i softwarových vlastností, XPS spektrometr Nexsa vytváří nový standard XPS spektrometrické instrumentace a má nesporně ambice stát se lídrem XPS spektrometrie.&nbsp;&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_11_0cc1ab57d2.jpg" alt="Thermo Scientific XPS spektrometr Nexsa" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_11_0cc1ab57d2.jpg 174w," sizes="100vw" width="986" height="881"><h4>Aplikace Nexsa&nbsp;</h4><ul><li>Skla a filmy na sklech</li><li>Polymery</li><li>Baterie, jejich materiály</li><li>Grafen</li><li>Solární články</li><li>OLED, QOLED</li><li>Kovy &amp; oxidy</li><li>Bio-povrchy</li><li>Tenké filmy</li><li>Polovodiče</li><li>Keramiky</li><li>Katalyzátory</li><li>Nanomateriály</li></ul><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific XPS spektrometr K-Alpha

XPS spektrometr K-Alpha™ nabízí kompaktní a vysoce výkonnou analýzu povrchů metodou XPS. Vhodný pro výzkum i rutinní laboratoře, s plnou automatizací a podporou více technik.

XPS spektrometr K-Alpha &nbsp; představuje zcela novou koncepci povrchových analyzátorů využívajících metodu vysokého rozlišení vysoceenergetického prvkově charakteristického rentgenova záření, tj. vysoce energetických fotonů. K-Alpha &nbsp; je koncipován tak, aby uspokojil akademická a vědecko-výzkumná pracoviště v oblasti studia povrchových vlastností a povrchových struktur, ale má ambice a vlastnosti pronikat i do vysoce kvalifikovaných rutinních centrálních provozních laboratoří, např. v oblasti metalurgie a speciálních materiálů. Pro tyto účely je K-Alpha &nbsp; vhodnou alternativou špičkového vědeckého XPS spektrometru ESCALAB.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_K_Alpha_XPS_System_2_979618dd54.jpg" alt="Thermo Scientific XPS spektrometr K-Alpha" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_K_Alpha_XPS_System_2_979618dd54.jpg 208w," sizes="100vw" width="1086" height="815"><h3>XPS spektrometr K-Alpha &nbsp; je na špici přístrojové produkce</h3>K-Alpha &nbsp; je kompaktní, vysocevýkonný analyzátor pro studium, elementární a vazebnou analýzu povrchů a povrchových filmů metodou XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy). Spektrometr je standardně vybaven duální kompenzací náboje, monochromatickým zdrojem rentgenova záření, možností hloubkového profilování argonovými ionty, volitelně i argonovými klastry, úhlově závislou XPS . Je k dispozici i plně automatizovaný zdroj UV záření pro UPS a vakuový přenosový modul pro citlivé vzorky. Všechny funkce přístroje, včetně programovatelné manipulace se vzorky, jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base. Tyto vlastnosti řadí XPS spektrometr K-Alpha&nbsp;- mezi ostatními výrobci - na špici přístrojové produkce v této oblasti.<h4>Klíčové vlastnosti</h4><ul><li>Vysoce výkonný, plně vybavený systém XPS</li><li>Unikátní prohlížení vzorků s možností rychlé identifikace vlastností</li><li>Zobrazování chemického stavu</li><li>Manipulace s velkými vzorky</li><li>Variabilní mikro-fokusový rentgenový zdroj pro přizpůsobení oblasti analýzy vlastnostem</li><li>Iontový zdroj pro profilování hloubky</li><li>Nízkoenergetický zdroj pro analýzu izolátorů</li><li>Vestavěné standardy pro autokalibraci</li></ul><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific Mikroskop ESCALAB QXi XPS

Escalab Xi+ je nejnovější generace XPS spektrometru ESCALAB 250. Nabízí vědeckou, multitechnickou platformu pro detailní studium povrchů a tenkých vrstev.

Vědecký, multitechnický XPS/ESCA Escalab Xi+, je nejnovější inovací populárního XPS spektrometru ESCALAB 250. XPS spektrometr Escalab Xi+ je špičkové, vysoce výkonné, multifunkční zařízení pro studium povrchů a povrchových filmů metodami XPS.Umožňuje paralelní XPS zobrazování povrchů s rozlišením pod 3 mm, v módu AES pod 95 nm. Mimo metodu XPS spektrometr Escalab ve standardní konfiguraci umožňuje i měření metodami ISS (Ion Scattering Spectroscopy), Reflected Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS). Standardně spektrometr umožňuje též automatizovanou úhlově rozlišenou XPS (ARXPS), „mapping“ a „imaging“, je vybaven duální kompenzací náboje a možností hloubkového profilování odprašováním argonovými ionty, volitelně argonovými klastry (MAGCIS). Může být doplněn další přípravnou komorou, systémy pro chlazení a ohřev vzorku a dalšími. Zařízení umožňuje též konfigurace zahrnující metody AES/SEM/SAM ( Auger Electron Spectroscopy/Secondary Electron Microscopy/Scanning Auger Microscopy), automatizovanou UPS (Ultraviolet Photoemission Spectroscopy).&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_ESCALAB_Q_Xi_XPS_Microprobe_11_3791e67f1e.jpg" alt="Thermo Scientific ESCALAB QXi XPS Microprobe (11).jpg" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_ESCALAB_Q_Xi_XPS_Microprobe_11_3791e67f1e.jpg 145w," sizes="100vw" width="938" height="1006">Unikátním příslušenstvím je volitelně možnost rentgenové mikroanalýzy integrovaným EDS detektorem se systémem Noran 7 (Thermo Scientific). Všechny funkce přístroje jsou plně digitálně řízené z prostředí řídícího a vyhodnocovacího programového balíku Avantage. Součástí SW Avantage je unikátní XPS Knowledge base.&nbsp;<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg" alt="Thermo Scientific – Kompletní spektrum produktů pro analýzu povrchů" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Nexsa_G2_XPS_System_9_4250fce7c4.jpg 245w," sizes="100vw" width="1054" height="632">

Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu

Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu kombinuje iontové techniky s femtosekundovou laserovou ablací a umožňuje přesné XPS hloubkové profilování tenkých vrstev a vícevrstvých materiálů.

Systém Thermo Scientific Hypulse Surface Analysis System kombinuje tradiční iontové techniky s femtosekundovou laserovou ablací (fs-LA) a umožňuje vysoce přesné hloubkové profilování metodou rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS).&nbsp;Poskytuje chemicky reprezentativní analýzu tenkých vrstev, povlaků a složitých vícevrstvých materiálů – od povrchu až po hluboko uložené přechodové oblasti mezi jednotlivými vrstvami. Systém je určen pro pokročilý materiálový výzkum, vývoj zařízení a studium degradačních a poruchových mechanismů materiálů.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg" alt="Thermo Scientific Hypulse Systém pro povrchovou analýzu" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Thermo_Scientific_Hypulse_Surface_Analysis_System_2_5834bc6da0.jpg 245w," sizes="100vw" width="650" height="338"><h3>Hlavní přínosy systému Hypulse</h3>Vyšší přesnost analýzy Kombinace monoatomárního iontového leptání, klastrového iontového leptání a fs-LA hloubkového profilování umožňuje přesnou analýzu širšího spektra materiálů než tradiční metody.Vyšší produktivita Fs-LA hloubkové profilování umožňuje provést více hloubkových profilů v čase, který je jinak potřebný pro zpracování jednoho vzorku pomocí iontového profilování.Komplexnější informace o materiálu Systém umožňuje praktické měření hloubkových profilů přesahujících 10 µm. Skryté vrstvy, jejichž odhalení by iontovým leptáním bylo časově náročné, jsou přístupné výrazně rychleji.Flexibilita pro různé typy materiálů Parametry laseru lze optimalizovat podle typu vzorku, což usnadňuje profilování komplexních a kompozitních materiálů.<h3>Klíčové vlastnosti systému</h3>Integrovaný fs-laserový ablační systém Plně integrovaný femtosekundový laser (1 030 nm) s kvalitní optikou, řízený softwarem Thermo Scientific Advantage. Laserový systém třídy 1 nevyžaduje speciální laboratorní opatření.Ionový zdroj MAGCIS Standardně dodávaný dvourežimový iontový zdroj Thermo Scientific MAGCIS zajišťuje vysoký výkon, stabilitu a reprodukovatelnost měření.Rozšířené analytické možnosti Kromě XPS systém podporuje také techniky REELS a ISS pro detailní charakterizaci povrchu.Analýza izolantů Patentovaný duální flood zdroj kombinuje nízkoenergetické ionty a elektrony (&lt;1 eV), čímž eliminuje nabíjení vzorku bez nutnosti korekce náboje.Software Advantage Kompletní řízení přístroje, zpracování dat a reporting včetně modulu Knowledge View s návody a referenčními materiály.

Produkty z kategorie XPS - strana 1

Mohlo by Vás zajímat

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pozvánka na Waters Seminář FOOD & Water

Výsledky soutěže o nejlepší práci mladých autorů v oboru spektroskopie 2025 - 1. místo v Kategorii B