ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Agilent Technologies
Analytičtí vědci a kliničtí výzkumníci po celém světě spoléhají na Agilent a na to, že jim pomůže splnit i ty nejsložitější požadavky v laboratoři. Naše přístroje, software, služby a spotřební materiál řeší celou škálu potřeb ve Vaší laboratoři.
Tagy
Tipy a Triky
ICP/OES
Logo of LinkedIn

ICP Expert How To: What is it and How to set up an Advanced Valve System (AVS) for ICP-OES

ZÁZNAM | Proběhlo Pá, 12.5.2023
Tato prezentace bude diskutovat o různých typech interferencí přítomných v ICP a jak je korigovat.
Přejít na webinář
Agilent Technologies: Interference Correction using the Agilent 5X00 ICP Systems – FACT Modeling and Comparison with Inter-Element Correction IEC

Agilent Technologies: Interference Correction using the Agilent 5X00 ICP Systems – FACT Modeling and Comparison with Inter-Element Correction IEC

ICP-OES can suffer from spectral interferences. This presentation will discuss the different types of interferences present in ICP and how to correct for them.

IEC is the classical way of correcting for interferences and will be discussed briefly. However, modeling techniques, like FACT can be easier and more effective in many cases. We will go through what FACT is and how to set this techniques on an ICP system.

Presenter: Paul Krampitz (Application Scientist, Agilent Technologies, Inc.)

Paul is a graduate of Bowling Green State University with a Chemistry Bachelor of Science degree. Twenty – five years of Spectroscopy experience mainly Inductively Coupled Plasma (ICP) Spectroscopy as well as ICP-MS and AAS. His experience also includes X-Ray Fluorescence (ED, WD), Laser Ablation, Inorganic Speciation and Microwave Plasma Spectroscopy. Market Segment expertise includes environmental, petrochemical, metallurgical applications.

Agilent Technologies
 

Mohlo by Vás zajímat

Transmission Measurements of Solid Samples at Variable Angles of Incidence by UV-Vis

Aplikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Utilizing hyphenated EC-Raman to study a model system

Aplikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Agilent Automation (ICP/MS & ICP/OES)

Brožury a specifikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní

Analysis of Elemental Impurities in Lithium-Ion Secondary Battery Electrolytes Using the ICPE- 9800 Series

Aplikace
| 2024 | Shimadzu
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

OMNIS NIRS

Brožury a specifikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
NIR Spektroskopie, Software
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Ostatní
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.