ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
NenoVision
NenoVision je český start-p, který vyvíjí a vyrábí LiteScope™, unikátní mikroskop atomárních síl (AFM) vyrobený pro integraci do rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM).
Tagy
Mikroskopie
Logo of LinkedIn

Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

ZÁZNAM | Proběhlo St, 25.10.2023
Charakterizace prášků, částic a 2D materiálů pomocí AFM-in-SEM.
Přejít na webinář
NenoVision: Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

NenoVision: Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

In our webinar, we will present:

  • How to effectively measure and determine the surface roughness of powders and particles, as the surface roughness might strongly influence their behavior. We will discuss the results of examples from the pharmaceutical and ceramic industries.

  • Complex multimodal study of low-dimensional materials is crucial to understand the advanced properties of new functional 2D materials. We will show different properties, such as mechanical, electrical, topography, or surface potential.

Why Attend?

  • Gain valuable insights from industry experts.
  • Stay ahead in the evolving world of materials science.
  • Access to Q&A sessions for in-depth understanding.

Presenter: Veronika Hegrová (Application Manager, NenoVision)

NenoVision
 

Mohlo by Vás zajímat

Improving Battery Production Yield, Performance, and Stability Using FTIR

Aplikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza

For TOC Analyzers Shimadzu 40 mL Vial LE

Ostatní
| 2024 | Shimadzu
Instrumentace
TOC, Spotřební materiál
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Ostatní

Transmission Measurements of Solid Samples at Variable Angles of Incidence by UV-Vis

Aplikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Utilizing hyphenated EC-Raman to study a model system

Aplikace
| 2024 | Metrohm
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Agilent Automation (ICP/MS & ICP/OES)

Brožury a specifikace
| 2024 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ostatní
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.