ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Shimadzu Corporation
Shimadzu Corporation
Společnost Shimadzu vyrábí nejširší sortiment přístrojů pro instrumentální analytiku, testování materiálů a life science.
Tagy
NIR Spektroskopie
UV-Vis
LinkedIn Logo

Optical and dielectric properties of novel electronic materials using Shimadzu UV-3600 Plus

ZÁZNAM | Proběhlo Čt, 14.4.2022
Širokopásmové dielektrické vlastnosti měřené pomocí přístroje Shimadzu UV3600 Plus.
Přejít na webinář
Shimadzu: Optical and dielectric properties of novel electronic materials using Shimadzu UV-3600 Plus
Shimadzu: Optical and dielectric properties of novel electronic materials using Shimadzu UV-3600 Plus

We are interested in the growth of new materials and investigate physical properties affected by size, chemical doping, interface, heterostructure, and external tuning parameters (light, magnetic field, etc.).

We are particularly interested in understanding the optical and dielectric properties of novel electronic materials that are fabricated in our lab in thin film form. Since the discovery of graphene, Transition metal dichalcogenides (TMDs) have merged as one of the most exciting systems to investigate properties at the nanoscale. In our lab, we have developed few-layer large-area MoS2 thin-films using a PVD-CVD growth process that can produce films with tunable properties [1]. For this talk, I will specifically focus on their broadband dielectric properties measured using Shimadzu UV3600 Plus [2]. Next, I will discuss our work on the influence finite-size in Topological insulator Bi2Se3 thin-films. Through a combination of quantum confinement and Burstein-Moss effect, we discovered a large optical blue-shift in Bi2Se3 as it approaches the 2D limit [3].

References

  1. Viable route towards large-area two dimensional MoS2 using magnetron sputtering, H. Samassekou, A. Alkabsh, M. Wasala, M. Eaton, A. Walber, A. Walker, O. Pitkänen, K. Kordas, S. Talapatra, T.Jayasekera, Dipanjan Mazumdar, 2D Materials 4 021002 (2017).

  2. Broadband optical properties and electronic band structure of few-layer MoS2, Asma Alkabsh and Dipanjan Mazumdar, (unpublished) 2020.

  3. Optical evidence for blue shift in Topological insulator Bismuth selenide in the few-layer limit , Yub Raj Sapkota, Asma Alkabsh, Aaron Walber, Hassana Samassekou, Dipanjan Mazumdar, Applied Physics Letters, 110, 181901 (2017).

Shimadzu Corporation
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.