ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Mettler-Toledo
Mettler-Toledo
METTLER TOLEDO je globální výrobce a prodejce přesných přístrojů pro použití v laboratorních, průmyslových a potravinářských maloobchodních aplikacích.
Tagy
Elektrochemie
TOC
LinkedIn Logo

Water Sustainability Trends in MicroE

ZÁZNAM | Proběhlo St, 8.5.2024
Výrobny polovodičů jsou při výrobě destiček závislé na ultračisté vodě (UPW). Zvládnutí parametrů UPW má zásadní význam pro přesná měření, zvyšování kvality a efektivní využívání zdrojů při rostoucí poptávce.
Přejít na webinář
Mettler-Toledo: Water Sustainability Trends in MicroE
Mettler-Toledo: Water Sustainability Trends in MicroE

Key Analytical Measurements to Increase Yield

Semiconductor FABS are the largest industrial user of pure and ultrapure water (UPW), which are vital to quality and yield in the production of wafers and integrated circuits.

Today's industry is challenged to produce more accurate measurements and higher-quality UPW, as well as reduce the volume of water and energy used in production; along with maintaining a focus on water reclaim, reuse, recycle.

With demand for semiconductors continuing to grow and rapid advancements in the industry, critical analytical parameters required for the production of UPW for improved process control and knowledge on how to use these measurements for maximum output are key.

Program

  • Total Organic Carbon control to ensure detection of sub-ppb organics and prevent bacterial contamination.

  • Resistivity to monitor the ionic UPW quality and its quality in the RCA process and other SEMI tools.

  • Dissolved oxygen and its monitoring and control in UPW.

  • pH control as a critical parameter to the CMP process and HF, ammonia waste neutralization Recommendations for segregation of reclaim/reuse/recycle streams.

  • The Role and Importance of UPW Measurements.

This webinar is by courtesy of Semiconductor Digest.

Presenter: Jim Cannon (Head of OEM & Markets, METTLER TOLEDO Thornton)

After receiving a B.S. in Biology, he continued with graduate degrees in Microbiology and in Biophysics, and an MBA in Marketing and International Management. Mr. Cannon has over 40 years of experience in the management, design and development of ultrapure water treatment and technology. This includes measuring differential conductivity and UV oxidation for the detection of TOC in UPW and the design and commercialization of Electrodeionization modules. Mr. Cannon is currently involved in the standards and regulatory organizations for the Semiconductor, Photovoltaic and Pharmaceutical markets, including the facilities and liquids committee, Reclaim/Reuse/Recycle Task Force and the UPW task Force. He has also been intimately involved in the development and the commercialization of alternative online microbial detection technology.

Mettler-Toledo
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.