ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
C&EN
C&EN
Chemical & Engineering News (C&EN) je vlajkovým časopisem American Chemical Society, organizace s více než 157 000 členy ve více než 100 zemích. "Like" C&EN, pokud jste profesionál, který hledá novinky z chemie, nebo jste prostě fanouškem chemie.
Tagy
UV-Vis
LinkedIn Logo

Analysis of Semiconductors through UV-Visible Techniques: Band Gap Studies

ZÁZNAM | Proběhlo St, 5.6.2024
V tomto webináři bude podrobně probráno použití měření UV-Visible reflektance a transmitance.
Přejít na webinář
C&EN: Analysis of Semiconductors through UV-Visible Techniques: Band Gap Studies
C&EN: Analysis of Semiconductors through UV-Visible Techniques: Band Gap Studies

Semiconducting materials are widely studied for use in solar energy and photocatalytic applications, among other areas of interest. For applications which involve the use of light, it is important to understand the energy needed to promote electrons from the valence band to the conduction band. This band gap energy can often be on par with the energy of photons in the UV-Visible region.

As such, UV-Visible spectroscopic techniques can be of use when assessing the band structure of semiconducting materials. Tauc plots, which are derived from the UV-Visible spectrum, provides the needed information to estimate the bandgap energy. In conjunction with computation and experimental results, the information gathered from the Tauc plot can aid in assessing the relative position of the valence and conduction bands.

In this webinar, the use of UV-Visible reflectance and transmittance measurements for band gap analysis will be discussed in detail. Additionally, considerations needed when analyzing semiconducting samples with these methods with be outlined.

Key Learning Objectives:
  • Gain knowledge about the theory and application of Tauc plot analyses for both reflectance and transmittance measurements.

  • Learn what sample properties and environmental factors can influence the measured spectra of a semiconducting sample.

  • Understand the considerations needed to perform accurate UV-Visible measurements of films or colloidal solutions.

Who Should Attend:
  • Research Scientist
  • Materials Scientist/Engineer
  • Semiconductor Engineer

Presenter: Jennifer Empey-Kohl, PhD (Applications Scientist, Thermo Fisher Scientific)

Presenter: Melissa O'Meara (Forensic Science Consultant, C&EN Media Group)

C&EN
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.