ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
Bruker
Bruker
Bruker nabízí nejkomplexnější škálu vědeckých přístrojů na světě, které jsou k dispozici pod jednou značkou - značka je synonymem excelence, inovace a kvality.
Tagy
FTIR Spektroskopie
Tipy a Triky
LinkedIn Logo

Vacuum Benefits for High-End Research Using FT-IR Technique

ZÁZNAM | Proběhlo Ne, 1.1.2023
V tomto webináři Dr. Xia Stammer popíše, jak vakuum nejen nahrazuje vodní chlazení, ale zároveň výrazně zvyšuje stabilitu, citlivost, reprodukovatelnost a celkový výkon spektrometru.
Přejít na webinář
Bruker: Vacuum Benefits for High-End Research Using FT-IR Technique
Bruker: Vacuum Benefits for High-End Research Using FT-IR Technique

Atmospheric disturbance is a major problem in Fourier-transform infrared (FT-IR) spectroscopy. The different vibrational modes of water vapour and carbon dioxide in a laboratory atmosphere have their absorption bands in the whole mid infrared and far infrared (FIR) spectral range. This reduces instrument sensitivity and stability and can even mask relevant spectral features of the sample. Common approaches to reducing these effects are drying, purging or retroactive compensation by data manipulation. To solve the problem at the root, is to not only keep water and CO2 content constant, but to eliminate it by evacuation of the whole beam path.

In this webinar, Dr. Xia Stammer, FT-IR application scientist at Bruker Optics, will describe how a vacuum not only terminates the water lines, but essentially increases stability, sensitivity, reproducibility, and thus the overall performance of the spectrometer. This is of great importance for many high-end research applications such as FIR/THz spectroscopy, catalysis, surface analysis, emission, low-temperature spectroscopy, material research, solid state physics, and optronics.

Key Learning Objectives
  • Find out how your research will benefit from FT-IR vacuum spectrometers
  • Learn about many practical examples from various demanding research fields
  • Understand the basic working principle of the Step Scan technique
Who Should Attend
  • Ph.D. students, post-docs, and professors
  • University staff and students
  • Research institution staff and project leaders
  • Physicists and materials scientists
  • Catalysis researchers
  • Professionals in semiconductor R&D
  • Enthusiastic FT-IR spectroscopists
Certificate of Attendance

All webinar participants can request a certificate of attendance, including a learning outcomes summary, for continuing education purposes.

Presenter: Dr. Xia Stammer (Application Scientist FT-IR, Bruker Optics)

Bruker
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.