ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
SelectScience
SelectScience
SelectScience® je inovativní online vydavatel v oboru vědy, který propojuje vědce s informacemi a pomáhá jim při výběru nejlepší laboratoře prostřednictvím kombinace bohatého obsahu, informací typu peer-to-peer a důvěryhodných recenzí produktů
Tagy
Mikroskopie
LinkedIn Logo

Next-gen 4D-STEM and quantitative imaging with Timepix4

ZÁZNAM | Proběhlo St, 27.8.2025
Zjistěte, jak detektory Timepix4 nové generace posouvají technologii 4D-STEM vpřed a umožňují vysokorychlostní a přesné mapování elektrického pole, hustoty náboje a ptychografii v TEM.
Přejít na webinář
SelectScience: Next-gen 4D-STEM and quantitative imaging with Timepix4
SelectScience: Next-gen 4D-STEM and quantitative imaging with Timepix4

As dimensionality in transmission electron microscopy (TEM) expands, next-generation ultrafast detectors are making it possible to record 4D data sets at acquisition speeds comparable to traditional bright- and dark-field techniques. These advancements are paving the way for versatility in scanning TEM (STEM) and the ability to quantify charge densities with subatomic resolution, to measure polarisation-induced electric fields, and to solve the phase problem by ptychographic techniques.

Join Professor Knut Müller-Caspary, LMU Munich & Ernst-Ruska Centre and Matt Callahan, Quantum Detectors, as they hold an in-depth discussion showcasing the technologies that can transform 4D-STEM workflows to enable new levels of precision in electric field mapping, charge density analysis, and ptychographic phase retrieval. Plus, learn how you can combine real-space and reciprocal-space imaging in a single scan, and see first-hand results from pioneering applications.

Key learning objectives
  • Understand how Timepix4-based detectors enable high-speed, event-driven 4D-STEM acquisition for advanced electron microscopy workflows
  • Explore real-world application data from Merlin T4 deployments, including results from beam-sensitive and thick specimens
  • Gain insights into integrating next-generation detectors into existing TEM setups, including software compatibility and data processing strategies
Who should attend?
  • TEM users and electron microscopy researchers in materials science, semiconductors, and nanotechnology looking to advance spatial and temporal resolution through techniques like electron diffraction and 4D-STEM.
  • Facility managers and imaging leads exploring next-generation detector upgrades and workflow integration.
  • Data scientists and software developers working on reconstruction algorithms, ptychography, or real-time data processing in microscopy.
Certificate of attendance
  • If you attend the live webinar, you will automatically receive a certificate of attendance, including a learning outcomes summary, for continuing education purposes.
  • If you view the on-demand webinar, you can request a certificate of attendance by emailing [email protected].

Presenter: Prof. Knut Müller-Caspary (LMU Munich & Ernst-Ruska Centre)

Presenter: Matt Callahan (Principal Engineer, Quantum Detectors)

Moderator: Olivia Long (Editorial Team, SelectScience)

SelectScience
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Detection of Phenol Leakage into Wastewater Using TOC Measurement

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí

Routine Analysis of Rare Earth Elements in Basalt using ICP-MS

Aplikace
| 2026 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.