ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Pořadatel
SPECTRO Analytical Instruments
SPECTRO Analytical Instruments
Výrobky společnosti SPECTRO jsou známé svými vynikajícími technickými schopnostmi, které přinášejí zákazníkovi měřitelné výhody. Od svého založení v roce 1979 do současnosti dodala společnost SPECTRO zákazníkům po celém světě více než 40 000 analytických přístrojů.
Tagy
ICP/OES
X-ray
LinkedIn Logo

Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis

ZÁZNAM | Proběhlo Út, 16.12.2025
Zjistěte, jak kontrolní standardy zlepšují kalibraci, přesnost a stabilitu kontroly kvality v analýzách OES a XRF s obloukem/jiskrou, a to včetně praktických tipů pro integraci softwaru.
Přejít na webinář
SPECTRO / AMETEK: Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis
SPECTRO / AMETEK: Understanding the Difference Between Type and Control Standards in Elemental Analysis

Accurate calibration and consistent instrument performance are essential for reliable results in elemental analysis. This live webinar explores the critical differences between type standard samples and control samples, and how each contributes to the accuracy, precision and stability of analytical workflows. Attendees will gain insight into when and how to apply these standards effectively, particularly in the context of metal analysis using arc/spark optical emission spectrometry (OES) and X-ray fluorescence spectrometry (XRF).

The session will demonstrate how type standards are used to optimize calibrations for the analysis of specific alloy compositions, while control samples serve as ongoing performance checks to ensure measurement consistency. Using the Spark Analyzer Pro software as an example, this webinar will demonstrate how the relevant standards are integrated and applied within the device software, including correction methods and limit value settings, to maintain high-quality results across production and quality control processes.

Why attend this webinar?

  • Learn how to apply type and control standards to improve measurement accuracy
  • Discover best practices for monitoring instrument stability in metal analysis
  • See how software integration supports reproducible elemental analysis workflows

Who Should Attend:

  • Quality control and process optimization professionals
  • Laboratory and production managers in metals industries
  • Anyone interested in advanced analytical technologies

The webinar will take place on Tuesday, December 16, and will take around 30 minutes, after which we'll answer your questions live.

Presenter: Dirk Scholten, Application Specialist Arc/Spark Analyzers

SPECTRO Analytical Instruments
LinkedIn Logo
 

Mohlo by Vás zajímat

Analysis of rare earth elements in clay using XRF and XRD

Aplikace
| 2026 | Thermo Fisher Scientific
Instrumentace
XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Measurement of TOC in Chloroisocyanuric Acid Used as Disinfectant

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High Precision Analysis of Major Components in Precious Metals by ICP-OES

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Heavy Metals in Baby FoodUsing ICP-MS

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP-OES Analysis of Copper Recovered from Li-Ion Batteries for Foil Manufacturing

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.