ICPMS webináře se zaměřením na Mikroskopie - strana 4

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Připojte se k nám a speciálnímu hostu Dr. Upnishad Sharma, ETH Zurich, na tomto webináři o AI-asistované analýze nanomechanických vlastností biologických vzorků v prostředí s více kompartmenty pomocí AFM.

Zjistěte, jak mohou být používány různé zobrazovací techniky v zařízení pro imaging.

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.

Vydejte se s námi na cestu procesem výroby sond v nejmodernějším závodě společnosti Bruker v Camarillu v Kalifornii, kde ze surového materiálu vyrábíme sondy.

Připojte se k informativnímu webináři sponzorovanému společností ZEISS, kde vám představíme ZEN core, sofistikované softwarové řešení navržené pro vylepšení vašich mikroskopických pracovních postupů.

Tento webinář představí náš nový detektor EBSD a eWARP, který řeší omezení rychlosti a zároveň maximalizuje účinnost signálu.

Na tomto webináři Dr. Virginia Litwin (Eurofins) představí základní principy a současné osvědčené postupy pro kvalifikaci a kalibraci přístrojů, optimalizaci testů a validaci metod.

Zúčastněte se webináře o vnitřní struktuře rozhraní sodíkových baterií, zkoumané pomocí pokročilých technik jako je cryoEM.

Zjistěte, jak charakterizovat antigenně specifické protilátky ze séra pomocí kombinovaného přístupu cryo-EM a LC-MS/MS pro současné sekvenování protilátek a mapování epitopů.