ICPMS webináře se zaměřením na Tipy a Triky - strana 8

Rychlá NIR analýza může zvýšit produktivitu a snížit náklady na kontrolu kvality a vývoj. Výsledky lze získat během několika sekund, nikoli hodin.

Probereme postupy pro korekci dvojitě nabitých interferencí (ICP-MS) a využití technologie ICP-MS/MS k odstranění odchylek, když jsou přítomny prvky s dvojitým nábojem.

Témata jako faktory korekce mezi prvky (IEC), pokročilý ventilový systém (AVS) a technika rychlého automatického přizpůsobení křivek (FACT) atd...

Diskutovat se bude jak o dostupných aplikacích, tak o příslušných parametrech přístroje.

Jakmile připravíte vzorky a máte pod kontrolou kontaminaci. Dalším krokem je správné vyladění a nastavení ICPMS, abyste dosáhli co nejlepších výsledků.

Probereme kroky k zajištění maximální stability a robustnosti při analýze organických rozpouštědel pomocí správného výběru hardwaru, optimalizovaných podmínek plazmy a technik korekce pozadí.

Tato prezentace bude diskutovat o různých typech interferencí přítomných v ICP a jak je korigovat.

Diskutována bude typická údržba UV-VIS a některé běžné ověřovací testy.

Budeme sdílet základní doporučení pro kondicionování a předvedeme, jak kondicionovat kónusy pomocí všech tipů a triků, které denně používají aplikační specialisté Agilent.

Budeme se zabývat nejčastěji kladenými dotazy zákazníků a také důležitými otázkami, které je třeba položit při práci s ICP-OES.