Jak kvalitní je svár nebo povrchová úprava mého nebo dodaného výrobku? Vznikl defekt chybným zacházením, nebo měl výrobek skrytou vadu materiálu? To jsou příklady otázek, které velmi rychle dokáže vyřešit tým univerzitního výzkumného ústavu CXI TUL. Pomoc při řešení konkrétních problémů ve výrobě, konzultace, analýzy a další služby špičkového vědeckého pracoviště za minimální náklady nabízí nyní firmám díky projektu SUPPORT4SME. Nabídka se týká malých a středních firem do 250 zaměstnanců z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a také ze Saska.<h4>Podnik hradí pouze DPH</h4>„Řada menších firem má dobrý nápad nebo konkrétní technický problém, ale chybí jim přístup k potřebnému vybavení, expertům nebo laboratorním analýzám. Právě v tom jim může projekt SUPPORT4SME výrazně pomoci. Chceme, aby firmy věděly, že se na nás mohou obrátit i s velmi praktickými problémy z každodenní výroby nebo vývoje,“ říká řešitel projektu Adam Blažek z Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci.&nbsp;Službu na míru si mohou firmy zadat na <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://support4sme.cxi.tul.cz/">online platformě projektu</a>. Pokud splní podmínky programu, hradí pouze DPH z reálné ceny služby. Investice do výzkumu tak pro malé a střední podniky přestává být významnou finanční překážkou.<h4>Analýza jako opora pro soudní spor</h4>Podporu projektu využila například stavební firma Tembo brand, která řešila prasklou hřídel čelního kloubového nakladače. Potřebovala zjistit, zda je příčinou chyba obsluhy, nebo vada samotného výrobku. Obrátila se proto na CXI.Detailní analýzy potvrdily výrobní vadu materiálu a staly se součástí oficiálního znaleckého posudku pro soudní řízení. Pro podobné případy má univerzita k dispozici elektronový mikroskop Helios 5 PFIB CXe, který umožňuje velmi podrobně zkoumat kvalitu materiálů, povrchové úpravy, slitiny, svary i další defekty. Mikroskop za více jak 45 milionů korun je unikátní tím, že vědci s ním mohou provádět i mikroskopické „řezy“ do zkoumaného materiálu a díky celé škále detektorů provádět komplexní fyzikální i chemickou analýzu složení vzorku.Firmě odborná analýza přinesla nejen vysvětlení příčiny problému, ale také silný podklad pro reklamaci a další právní kroky. „Buď bych tento stroj musel finančně náročně opravit, nebo bych s ním jezdil dál, což by pochopitelně představovalo bezpečnostní riziko nejen pro mě. Reklamaci teď máme prokázanou, dodavatel nám dodal zmetek a zřejmě se budeme soudit,“ popisuje Jakub Ševčík z firmy Tembo brand.<blockquote>Video: <a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.youtube.com/watch?v=f5WXnKT2_tE&amp;t=2s">Špičkový mikroskop Helios pomáhá malým a středním firmám&nbsp;</a></blockquote><h4>Pomoc při vývoji běžkařských vosků</h4>Projekt SUPPORT4SME pomohl také firmě Titan Gliders, která na TUL našla odborné zázemí pro vývoj běžkařských vosků. Pomocí moderních analytických metod vědci zkoumají vlastní syntetizované přísady i konkurenční komerční vosky, a firma tak získává důležitá data pro další vývoj.&nbsp;„Spolupráce s CXI TUL se nám vyplatila jednoznačně. Víme přesně, kam napřít síly, bez takového zázemí bychom se jen těžko obešli. Navíc jsme díky tomu získali podporu českého biatlonu, Českého olympijského výboru i Libereckého kraje. Pro firmu, která začínala od nuly a byla financována z vlastních zdrojů, to má zásadní význam,“ říká Petr Tischer ze společnosti Titan Gliders.&nbsp;<h4>Pomoc, která firmám šetří peníze</h4>Projekt SUPPORT4SME nabízí tyto služby a množství dalších, také konzultace odbornic a odborníků, kteří disponují špičkovým laboratorním vybavením, a pomoc při řešení konkrétních technologických a materiálových problémů. Za cíl si klade podpořit v česko-saském regionu více než 130 podniků, zatím tyto služby využilo necelých třicet podniků.„Nejde jen o podporu velkých inovačních projektů. Často stačí vyřešit jeden konkrétní problém, ověřit vlastnosti materiálu nebo získat odborný pohled na technologický postup. I taková pomoc může firmě ušetřit čas, peníze a otevřít cestu k dalšímu rozvoji. Zástupci firem mnohdy ani netuší, že tu jsme a s&nbsp;čím vším jim můžeme pomoci. Přitom u nás mají k&nbsp;dispozici nejnovější přístrojové vybavení za naprosto zanedbatelné ceny. Ať firmy neváhají a obrátí se na nás s&nbsp;konkrétními dotazy, které je trápí nebo zajímají, “ uzavírá Adam Blažek.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_5ceaee370e.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683"><h3>SUPPORT4SME</h3>Projekt propojuje malé a střední podniky z Libereckého, Ústeckého a Karlovarského kraje a ze Saska s aplikovaným výzkumem. Technická univerzita v Liberci jej realizuje ve spolupráci s Technickou univerzitou v Chemnitz v rámci programu Interreg Česko–Sasko 2021–2027. Firmy díky němu mohou využít odborné služby aplikovaného výzkumu, individuální konzultace a analýzy i workshopy a školení. Projekt jim otevírá přístup k mezioborové síti expertů a špičkovému výzkumnému zázemí, které mohou využít při zavádění inovací do praxe.<blockquote>Support4sme: Přeshraniční podpora zapojení malých a středních podniků do materiálového výzkumu budoucnosti.Cíl: Společné centrum přeshraniční spolupráce TU Liberec a TU Chemnitz podporuje a implementuje inovace do malých a středních podniků v regionu Česko – Sasko. SUPPORT4SME nabízí mezioborovou síť expertů, kteří vám pomohou s rozvojem vaší firmy.Finanční podpora EU (EFRR): 2.442.017,81 €Leadpartner: CXI TULPartner: Technická univerzita v&nbsp;ChemnitzMgr. Adam Blažek, MBA – řešitel <a href="mailto:adam.blazek@tul.cz">adam.blazek@tul.cz</a> +420 730 595&nbsp;011</blockquote><img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg" alt="CXI TUL: Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_CXI_TUL_Firmy_mohou_ziskat_pomoc_spickovych_odborniku_z_TUL_za_hubicku_2_6cbc5d3425.jpg 234w," sizes="100vw" width="1024" height="683">

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

V týdnu od 11. května na Vás čekají v oblasti atomové a molekulové spektroskopie a spektrometrie následující webináře.<blockquote><h4><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://www.icpms.cz/webinars">👉 DETAILY A REGISTRACE V SEKCI WEBINÁŘE</a></h4>👉 Vyhledávejte a filtrujte v největší globální databázi s více než 5 500 GC, HPLC, MS a spektroskopickými webináři.</blockquote><h5>1. Thermo Fisher Scientific: Uncovering Microplastics: Identification, Quantification, and Exposure Assessment</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 08:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6136">Registrace</a></li></ul>Komplexní analytická řešení pro identifikaci, kvantifikaci a hodnocení expozice mikroplastům pomocí doplňkových technik.<h5>2. SPECTRO Analytical Instruments: Elemental Analysis of Superalloys: Ensuring Performance in Extreme Applications</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 10:30 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6170">Registrace</a></li></ul>Zjistěte, jak OES a XRF podporují přesnou elementární analýzu superslitin pro kontrolu kvality v náročných průmyslových aplikacích.<h5>3. Agilent Technologies: What have you been smoking? Elemental Analysis in Cannabis and Cannabis Products with ICP-MS</h5><ul><li>Út, 12.5.2026 20:30 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6063">Registrace</a></li></ul>ICP-MS workflow pro elementární analýzu konopí a konopných produktů s automatizovanou kalibrací a ředěním vzorků.<h5>4. AZoM: Faster REE Exploration Decisions with XRF Technology Explained</h5><ul><li>St, 13.5.2026 16:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6195">Registrace</a></li></ul>Výhody ruční XRF technologie pro rychlé rozhodování při průzkumu prvků vzácných zemin (REE).<h5>5. Bruker: Advancing Industrial Metrology Automation with Bruker's Dimension AFMs</h5><ul><li>St, 13.5.2026 17:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6172">Registrace</a></li></ul>Jak platformy Dimension AFM podporují automatizaci průmyslové metrologie – od skriptovaných měření po řízení založené na datech.<h5>6. Anton Paar: Polymer Rheology: Impact of Humidity on Material Behavior</h5><ul><li>St, 13.5.2026 18:00 CET</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/5801">Registrace</a></li></ul>Praktické studie vlivu vlhkosti na reologii polymerů, lepivost, vytvrzování a tokové vlastnosti materiálů.<h5>7. LECO: TOC Determination in Soil and Waste</h5><ul><li>Čt, 14.5.2026 14:00 CEST</li><li><a target="_blank" rel="noopener noreferrer" href="https://icpms.cz/webinar/6038">Registrace</a></li></ul>Moderní přístupy ke stanovení TOC v půdách a odpadech pro environmentální a průmyslové aplikace.

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

<h3>Plně v souladu s normami ASTM: Viskozita, hustota a bod tuhnutí</h3><h4>Sedm kritických testů tryskového paliva v jedné automatizované jednotce</h4>Přístroj Anton Paar SVM 3001 Cold Properties je nyní standardizován dle normy ASTM pro bod tuhnutí (D8630), což umožňuje shodné měření viskozity, hustoty a bodu tuhnutí pomocí jednoho přístroje.Viskozita se měří podle normy ASTM D7042, hustota podle normy ASTM D4052 a bod tuhnutí podle normy ASTM D8630. Systém také podporuje požadavky na viskozitu -20 °C a -40 °C podle norem ASTM D1655, D7566 a DefStan 91-091.<img src="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/Anton_Paar_SVM_3001_Cold_Properties_d1259ab21f.jpg" alt="Anton Paar: SVM 3001 Cold Properties" srcset="https://storage.googleapis.com/labrulez-bucket-strapi-h3hsga3/thumbnail_Anton_Paar_SVM_3001_Cold_Properties_d1259ab21f.jpg 234w," sizes="100vw" width="2400" height="1600">Kromě těchto základních parametrů určuje SVM 3001 Cold Properties další kritické vlastnosti paliva – jako je teplota při 12 mm²/s (nebo jakákoli specifikovaná kinematická nebo dynamická viskozita) a viskozita 3 °C nad bodem tuhnutí – z jediného vzorku.Skenování teploty poskytuje skutečnou charakterizaci čerpatelnosti v celém relevantním rozsahu nízkých teplot, zatímco integrovaná Peltierova regulace teploty eliminuje potřebu kapalných lázní. Celkem lze v jednom plně automatizovaném měření získat sedm klíčových vlastností leteckého paliva. Ve srovnání s tradičními metodami SVM snižuje čas, objem vzorku a úsilí – poskytuje automatizovanou a sledovatelnou certifikaci konvenčního leteckého paliva a SAF v jednom pracovním postupu.<blockquote><h5>Kontaktujte nás a domluvite si osobní schůzku</h5>CZ: Ing. Veronika Mrňová: veronika.mrnova@anton-paar.comSK: Ing. Pavol Frič: pavol.fric@anton-paar.com</blockquote>

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Webináře

Popularizace

Video

Článek

Produkt

Vše ze světa analytické chemie na jednom místě. Propojujeme lidi při řešení jejich problémů. U nás naleznete všechny potřebné informace snadno, rychle a přehledně. Přestaňte hledat a začněte nacházet.

LabRulez

Ústav pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace Technické univerzity v Liberci, známý také jako CXI TUL, byl založen v roce 2009. Naším posláním je podporovat dlouhodobou vizi TUL v oblasti spolupráce s průmyslem a vytváření inovací.

CXI TUL

Anton Paar vyvíjí, vyrábí a distribuuje vysoce přesné laboratorní přístroje a procesní měřicí systémy a nabízí uživatelsky specifická řešení automatizace a robotizace.

Anton Paar

Bruker

Flipping the standard SPM tip-sample configuration
Reverse tip sample (RTS) scanning probe microscopy (SPM) was recently introduced by our guest speakers. RTS SPM overcomes the single-tip barrier of traditional SPM by flipping the conventional tip and sample positions, using a sample on a tipless cantilever and a vast tip array integrated into a nanofabricated probe chip.
Join us to hear about:
<ul>
<li>Nanofabrication of probe chips</li>
<li>Sample preparation</li>
<li>Measurements and applications</li>
</ul>
Guest Speaker Abstract
We recently introduced the Reverse Tip Sample Scanning Probe Microscopy (RTS SPM) concept to overcome the single-tip barrier of the traditional SPM approach. This fresh perspective essentially flips the conventional tip-sample positions, placing the sample on a tipless cantilever and the tip on the sample stage, which is now a part of a vast tip array integrated into a nanofabricated probe chip. The standout feature of this arrangement is the ability to change tips seamlessly. During operations in RTS configuration the sample, mounted on the tipless cantilever, scans one of the thousands of tips present on the probe chip. When a tip wears out, the operator can quickly switch to a new one by just repositioning the cantilever onto an adjacent fresh tip, which takes merely seconds to complete. As such, the RTS configuration greatly boosts the data collection efficiency in application spaces where there is a need for frequent tip replacements and opens the door for further developments of the SPM technology.
After a comprehensive introduction of the RTS SPM concept, we will cover some of the crucial aspects mainly focusing on:
<ul>
<li>Nanofabrication of probe chips: We’ll present a dry etching process for fabricating high-quality Si probe chips, which features a novel tip sharpening step. We also touch on the application of metal and diamond coatings on these Si probe chips.</li>
<li>Sample preparation: We’ll share the dependable workflows we developed for routinely preparing RTS SPM samples by focused ion beam (FIB) and FIB-less approaches. These time-efficient procedures yield RTS samples with excellent electrical contacts and mechanical stability.</li>
<li>Measurements and applications: We’ll explore the diverse applications of RTS SPM such as statistical multi-tip studies, RTS Scalpel SPM, electrical tomography and more.</li>
</ul>
<blockquote>
Presenter: Nemanja Peric, Ph.D. (SPM Researcher, imec, Belgium)
</blockquote>
<blockquote>
Nemanja Peric received his PhD degree from the University of Lille (France) while working at the Institut d’électronique de microélectronique et de nanotechnologie (IEMN/CNRS). After a short postdoctoral research period at IEMN, Nemanja joined imec in Leuven (Belgium) where he is currently working as an SPM researcher. His interests and expertise involve mainly AFM and STM.
</blockquote>
<blockquote>
Presenter: Pieter Lagrain (Engineer, imec, Belgium)
</blockquote>
<blockquote>
Pieter Lagrain received a master degree in chemistry from KU Leuven (Belgium). He joined afterwards imec as an engineer for nanoelectronics device analysis. His interest and expertise mainly involve FIB, TEM and SPM.
</blockquote>

Bruker: Reverse Tip Sample (RTS) Scanning Probe Microscopy

Reverse Tip Sample (RTS) Scanning Probe Microscopy

Hear about nanofabrication of probe chips, sample preparation, measurements and applications.

<div><h4>Learn how to best use atomic force microscopy</h4>During this webinar, Bruker experts will give a general overview of best practices for sample preparation with atomic force microscopy (AFM), along with useful tips and tricks for achieving optimal results. They will also highlight a range of modes, accessories, and add-ons that significantly enhance the functionality of AFM beyond conventional imaging, without major upgrades.Extend your research capabilities with unique features:<ul><li>Environmental control options for temperature, humidity, pH, and CO2</li><li>CellWizard Stage for automated, multi-chamber measurements</li><li>New modes, e.g., SmartMapping for increased ease, speed, and accuracy</li><li>AI and machine learning capabilities for autonomous measurements</li></ul>Atomic force microscopy (AFM) is a powerful tool, and a suite of advanced accessories makes it a highly versatile platform. Tailored configurations can address a diverse range of scientific applications and complex biological questions, from dynamic molecular mechanisms to protein folding events and cellular interactions.</div>

Bruker: Unlocking BioAFM Performance: From Sample Preparation to Advanced Accessories

Unlocking BioAFM Performance: From Sample Preparation to Advanced Accessories

Webinar on atomic force microscopy best practices, sample preparation, advanced modes, and AI-enabled AFM features for biological and materials research.

ICPMS webináře se zaměřením na Příprava vzorků - strana 1

Unlocking BioAFM Performance: From Sample Preparation to Advanced Accessories

Reverse Tip Sample (RTS) Scanning Probe Microscopy

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“