ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Charakterizace prášků, částic a 2D materiálů pomocí AFM-in-SEM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.10.2023
NenoVision
tag
share
more
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Zjistěte, jak lze automatizovaný AFM aplikovat na nejmodernější uzly hybridní technologie lepení a kroky zpracování destiček.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 21.11.2024
Bruker
tag
share
more
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
tag
share
more
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Připojte se k nám na tomto webináři a dozvíte se o provozních režimech AFM pro analýzu poruch, včetně relevantních informací o jednotlivých režimech.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
Bruker
tag
share
more
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

Objevte, jak AFM dosahuje průlomového rozlišení při zobrazování bakteriálních buněčných stěn. Webinář s Dr. Pasquinou Lemonche.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 3.12.2025
Bruker
tag
share
more
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 16.12.2025
Bruker
tag
share
more
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
tag
share
more
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 13.5.2025
NenoVision
tag
share
more
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM

Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
NenoVision
tag
share
more
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
 

Mohlo by Vás zajímat

Výzkum z ÚOCHB odhaluje dosud nepoznaný způsob přepisu genetické informace

Výzkum z ÚOCHB odhaluje dosud nepoznaný způsob přepisu genetické informace

Pá, 6.2.2026
Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
Upgrade transmisního elektronového mikroskopu TITAN zařadil CEITEC mezi elitní laboratoře

Upgrade transmisního elektronového mikroskopu TITAN zařadil CEITEC mezi elitní laboratoře

Čt, 5.2.2026
CEITEC
V prestižní soutěži GAČR uspěly dvě zahraniční vědkyně z VŠCHT

V prestižní soutěži GAČR uspěly dvě zahraniční vědkyně z VŠCHT

Čt, 5.2.2026
Vysoká škola chemicko-technologická v Praze
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.