Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM
Charakterizace prášků, částic a 2D materiálů pomocí AFM-in-SEM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.10.2023
NenoVision
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry
Zjistěte, jak lze automatizovaný AFM aplikovat na nejmodernější uzly hybridní technologie lepení a kroky zpracování destiček.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 21.11.2024
Bruker
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis
Připojte se k nám na tomto webináři a dozvíte se o provozních režimech AFM pro analýzu poruch, včetně relevantních informací o jednotlivých režimech.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
Bruker
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology
Objevte, jak AFM dosahuje průlomového rozlišení při zobrazování bakteriálních buněčných stěn. Webinář s Dr. Pasquinou Lemonche.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 3.12.2025
Bruker
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 16.12.2025
Bruker
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 13.5.2025
NenoVision
Inside the Chip: Semiconductor Failure Analysis with AFM-in-SEM
Zjistěte, jak LiteScope AFM-in-SEM umožňuje in-situ elektrickou a topografickou analýzu polovodičových komponent s vysokým rozlišením na nanoskopické úrovni.