ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Zjistěte, jak AFM umožňuje komplexní charakterizaci 2D materiálů v nanoměřítku.
St, 8.4.2026 17:00 CET
Bruker
tag
share
more
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Charakterizace prášků, částic a 2D materiálů pomocí AFM-in-SEM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.10.2023
NenoVision
tag
share
more
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
tag
share
more
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Zjistěte, jak lze automatizovaný AFM aplikovat na nejmodernější uzly hybridní technologie lepení a kroky zpracování destiček.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 21.11.2024
Bruker
tag
share
more
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

Objevte, jak AFM dosahuje průlomového rozlišení při zobrazování bakteriálních buněčných stěn. Webinář s Dr. Pasquinou Lemonche.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 3.12.2025
Bruker
tag
share
more
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Připojte se k nám na tomto webináři a dozvíte se o provozních režimech AFM pro analýzu poruch, včetně relevantních informací o jednotlivých režimech.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
Bruker
tag
share
more
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 16.12.2025
Bruker
tag
share
more
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization

Připojte se k tomuto webináři, kde vám představíme novou výkonnou techniku pro charakterizaci infračerveného záření v nanorozměrech: Představíme vám rezonancí zesílený objem AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 23.5.2024
Bruker
tag
share
more
Resonance Enhanced Force Volume AFM-IR: A Powerful New Technique for Nanoscale IR Characterization
Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance

Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance

Objevte, jak diamantové sondy AFM zvyšují přesnost, odolnost a elektrické zobrazování, čímž zvyšují výkon a životnost v pokročilých aplikacích v nanoměřítku a polovodičích.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 19.3.2026
Bruker
tag
share
more
Cutting Edge Imaging: Harnessing Diamond Probes for Advanced AFM Performance
 

Mohlo by Vás zajímat

LabRulez na veletrhu analytica 2026

LabRulez na veletrhu analytica 2026

Po, 23.3.2026
LabRulez
Lukáš Kučera pro National Geographic: Tradice versus nová vlna

Lukáš Kučera pro National Geographic: Tradice versus nová vlna

Pá, 27.3.2026
Univerzita Palackého v Olomouci
Vodný kalibrační roztok ASTASOL® ANS009

Vodný kalibrační roztok ASTASOL® ANS009

Čt, 26.3.2026
ANALYTIKA
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.