ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials

Zúčastněte se tohoto webináře společnosti Bruker a seznamte se s charakterizací 2D materiálů v nanoměřítku pomocí AFM, včetně elektrického mapování, AFM-IR a nanolitografie.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 8.4.2026
Bruker
tag
share
more
Advances in AFM for the Characterization of 2D Materials
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists

Pomocí fototermální infračervené spektroskopie s atomovým silovým mikroskopem (AFM-IR) se chemická identifikace v nanoměřítku provádí měřením lokálních infračervených spekter přímo na hrotu AFM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 22.4.2026
Bruker
tag
share
more
Introduction to Photothermal AFM-IR for Infrared Spectroscopists
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM

Tento webinář představí dvě hlavní techniky pro infračervená měření v nanoměřítku: fototermální AFM-IR (PTIR/AFM-IR) a IR zobrazování pomocí s-SNOM (scattering scanning nearfield optical microscopy).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Ne, 1.1.2023
Bruker
tag
share
more
Two Complementary Nanoscale IR Techniques: Photothermal AFM-IR and s-SNOM
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM

Charakterizace prášků, částic a 2D materiálů pomocí AFM-in-SEM.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 25.10.2023
NenoVision
tag
share
more
Key benefits in the characterisation of Powders, Particles, and 2D materials by AFM-in-SEM
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology

Objevte, jak AFM dosahuje průlomového rozlišení při zobrazování bakteriálních buněčných stěn. Webinář s Dr. Pasquinou Lemonche.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 3.12.2025
Bruker
tag
share
more
AFM – Delivering Profound Insights in Microbiology
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis

Připojte se k nám na tomto webináři a dozvíte se o provozních režimech AFM pro analýzu poruch, včetně relevantních informací o jednotlivých režimech.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 28.5.2025
Bruker
tag
share
more
Atomic Force Microscopy Methods for Semiconductor Failure Analysis
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry

Zjistěte, jak lze automatizovaný AFM aplikovat na nejmodernější uzly hybridní technologie lepení a kroky zpracování destiček.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 21.11.2024
Bruker
tag
share
more
Automated AFM for Inline Hybrid Bonding Metrology in the Semiconductor Industry
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR

Srdečně vás zveme na tento živý webinář: Úvod do infračervené spektroskopie a zobrazování v nanoměřítku pomocí fototermální AFM-IR.
ZÁZNAM
|
Proběhlo Čt, 17.10.2024
Bruker
tag
share
more
Introduction to Nanoscale Infrared Spectroscopy and Imaging with Photothermal AFM-IR
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM

Srdečně vás zveme k účasti na tomto webináři věnovaném hyperspektrální charakterizaci pokročilých materiálů pomocí mikroskopie atomárních sil (AFM).
ZÁZNAM
|
Proběhlo Út, 16.12.2025
Bruker
tag
share
more
Hyperspectral Characterization of Advanced Materials using AFM
Advancing Industrial Metrology Automation with Bruker's Dimension AFMs

Advancing Industrial Metrology Automation with Bruker's Dimension AFMs

Tento webinář se bude zabývat tím, jak platformy Dimension AFM podporují rostoucí úroveň automatizace, od měření na základě skriptů až po řízení založené na datech.
ZÁZNAM
|
Proběhlo St, 13.5.2026
Bruker
tag
share
more
Advancing Industrial Metrology Automation with Bruker's Dimension AFMs
 

Mohlo by Vás zajímat

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

Jeden přístroj: Sedm kritických vlastností tryskového paliva

St, 13.5.2026
Anton Paar
Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Webináře LabRulezICPMS týden 20/2026

Po, 11.5.2026
LabRulez
Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Firmy mohou získat pomoc špičkových odborníků z TUL „za hubičku“

Pá, 8.5.2026
CXI TUL
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.