Aplikace z oblasti Průmysl a chemie | LabRulez ICPMS
Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy
Příručky
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče
The Determination of Metals in Chlorinated Hydrocarbons by Flame Atomic Absorption
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Flame Atomic Absorption Spectroscopy (Method Development ePrimer)
Příručky
| 2021 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie
Safety Practices Using Organic Solvents in Flame Atomic Absorption Spectroscopy
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The Analysis of Cement
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The Determination of Lead in Unleaded Gasoline Using the Agilent 55 AA Atomic Absorption Spectrophotometer
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
The Measurement of Silicon, Tin, and Titanium in Jet-Engine Oil
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Investigation of photochemical reactions using the Cary 50/60 UV-Vis
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Determination of Magnesium, Calcium and Potassium in Brines by Flame AAS using the SIPS-10 Accessory for Automated Calibration and On-Line Sample Dilution
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Determination of Trace Impurities in High-Purity Copper by Sequential ICP-OES with Axial Viewing