Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

An Example of Observing Reduction Gear Using the Microfocus X-Ray CT System

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Aplikace

| N/A | Shimadzu

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Void Analysis and Shape Analysis of Automobile Inverter Components with X-Ray CT System

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Measuring the Performance of Compact Visual Displays

Aplikace

| 2021 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Rust Analysis - Using Infrared Raman Microscopes and Energy - Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

Aplikace

| 2024 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Influence of Voids on Fatigue Life of 3D Printed Titanium Alloy Specimens

Aplikace

| 2023 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Brožury a specifikace

| 2022 | Shimadzu

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC

Instrumentace

GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Solutions for Plastic Evaluation

Příručky

| 2013 | Shimadzu

GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT

Instrumentace

GC, GC/MSD, HeadSpace, GC/SQ, MALDI, HPLC, LC/TOF, LC/MS, LC/SQ, LC/IT

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Příručky

| 2023 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče

Před
1
2
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

An Example of Observing Reduction Gear Using the Microfocus X-Ray CT System

Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

Void Analysis and Shape Analysis of Automobile Inverter Components with X-Ray CT System

Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System

Measuring the Performance of Compact Visual Displays

Rust Analysis - Using Infrared Raman Microscopes and Energy - Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometers

Influence of Voids on Fatigue Life of 3D Printed Titanium Alloy Specimens

Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

Solutions for Plastic Evaluation

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Mohlo by Vás zajímat

Virus napadající kokolitku – mořskou řasu, která ovlivňuje celosvětové klima

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB