Aplikace z oblasti Materiálová analýza

Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS

Aplikace

| 2021 | Agilent Technologies

ICP/MS

Instrumentace

ICP/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza, Ostatní

Ceramic Analysis by EDXRF

Aplikace

| 2019 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Příručky

| 2023 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Polovodiče

Electronics & Chemicals - Application Notebook

Příručky

| 2019 | Shimadzu

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray

Instrumentace

GC, GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Termální desorpce, Purge and Trap, Pyrolýza, GC/SQ, GC/QQQ, GC kolony, Spotřební materiál, Software, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Fluorescenční spektroskopie, Mikroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu, Frontier Lab

Zaměření

Průmysl a chemie, Nebezpečné látky, Materiálová analýza

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS

Ceramic Analysis by EDXRF

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Optical Characterization of Materials Using Spectroscopy

Electronics & Chemicals - Application Notebook

Mohlo by Vás zajímat

Měření čistoty malých objemů DNA při 4 °C s použitím Agilent Cary 60 UV-Vis spektrofotometru s optickým vláknem s mikrosondou

Stanovení nominální hodnoty koncentrace analytu a její nejistoty ve vodných kalibračních roztocích prvků primárními metodami

Tuk je možné vydolovat i z tisíce let staré keramiky, říká Veronika Brychová