Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace se zaměřením na ICP/MS | LabRulez ICPMS
Determination of Hexavalent Chromium in Drinking Water by Ion Chromatography (IC)–ICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
Iontová chromatografie, IC-MS, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies, Metrohm
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of Extractable and Leachable Elements Using ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Analysis of flue gas desulfurization wastewaters with the Agilent 7700x/7800 ICP-MS
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Fast Determination of Inorganic Arsenic (iAs) in Food and Animal Feed by HPLC-ICP-MS
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Automated Sequencing of Elemental Speciation Methods Using HPLC-ICP-MS with a Quick Change Valve Head
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
HPLC, ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
HPLC, ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Validating the Agilent 7700x/7800 ICP-MS for the determination of elemental impurities in pharmaceutical ingredients according to draft USP general chapters <232>/<233>
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Mohlo by Vás zajímat
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.