Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Optimizing tissue preparation and storage for analysis of polyunsaturated fatty acids using Agilent’s FTIR imaging systems
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
Resolving REE2+ Overlaps on Arsenic and Selenium With Hydrogen Cell Gas
Technické články
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství
Agilent ICP-MS Journal (May 2021, Issue 84)
Ostatní
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
ORS4 AND HELIUM MODE FOR MORE EFFECTIVE INTERFERENCE REMOVAL IN COMPLEX SAMPLES
Ostatní
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)