Analysis of inorganic impurities in lubricating oils by ICP-MS
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
IDENTIFYING NATURAL GEMS FROM SYNTHETIC AND TREATED COUNTERPARTS USING THE AGILENT CARY 660
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
A New Technique for the Analysis of Corundum Using Laser Ablation ICP-MS
Aplikace
| 2004 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
At-Site Screening and Measurement of Adulterant Levels in Bovine Milk by Mid FTIR Spectroscopy
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Measuring the cover and shade protection factors of synthetic shadecloth
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Elemental Impurities in Synthetic Oligonucleotides by ICP-MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Analysis of Platinum Group Elements (PGEs), Silver, and Gold in Roadside Dust using Triple Quadrupole ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of flue gas desulfurization wastewaters with the Agilent 7700x/7800 ICP-MS
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Distinguishing Between Polyamide Microplastics and Natural Polyamide
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)